一种基于结构光三维成像的外壳检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于结构光三维成像的外壳检测方法，包括构建结构光测量系统，包括发射源和CMOS传感器的位置布置，将外壳置于发射源的下方，发射源始终处在外壳整体平面的法线上，本基于结构光三维成像的外壳检测方法，原理简单，易于实现，通过结构光的三维成像法对产品的外壳三维还原，从而得到产品的三维数据图像，从而进行产品的比对分析，响应时间短，检测效率高，基于图像分割和识别技术，利用莫尔条纹的疏密变化和角度变化得到外壳多个检测位置的三维坐标，增多检测位置，整合产品图像得到图像的三维数据，检测方法简单，多次变焦配合图像分割技术提高数据检测的精度，提高了外壳检测的效率。

A shell detection method based on structured light 3D imaging

【技术实现步骤摘要】
一种基于结构光三维成像的外壳检测方法
本专利技术涉及形状检测领域，具体为一种基于结构光三维成像的外壳检测方法。
技术介绍
随着工业的不断发展，在很多机械制造领域都需要高精度的配件加工，特别是在快速发展的今天，外壳尺寸检测对于生产制造有重要地位，现有的外壳尺寸检测的技术中，常用利用二维影像测量仪对手机外壳进行二维平面尺寸测量，结合激光扫描实现高度测量，检测速度慢，结构光是一组由投影仪和摄像头组成的系统结构，用投影仪投射特定的光信息到物体表面后及背景后，由摄像头采集，根据物体造成的光信号的变化来计算物体的位置和深度等信息，进而复原整个三维空间，但现有的检测方法复杂，影响产品的检测效率。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种基于结构光三维成像的外壳检测方法，原理简单，易于实现，提高了检测和响应的速度，成本低，检测和复原效果好，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种基于结构光三维成像的外壳检测方法，包括如下步骤：1)构构建结构光测量系统：包括发射源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于结构光三维成像的外壳检测方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：/n1)构建结构光测量系统：包括发射源和CMOS传感器的位置布置，将外壳置于发射源的下方，发射源始终处在外壳整体平面的法线上，发射源、CMOS传感器和外壳三者空间分布，CMOS传感器检测整个外壳的立体图像，发射源沿x轴水平向右进行水平移动；/n2)数据检测：发射源将莫尔条纹图像投射到外壳的表面，CMOS传感器接收反射的莫尔条纹图像，CMOS传感器在单一检测面具有一个固定的三维坐标位置W

【技术特征摘要】
1.一种基于结构光三维成像的外壳检测方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：
1)构建结构光测量系统：包括发射源和CMOS传感器的位置布置，将外壳置于发射源的下方，发射源始终处在外壳整体平面的法线上，发射源、CMOS传感器和外壳三者空间分布，CMOS传感器检测整个外壳的立体图像，发射源沿x轴水平向右进行水平移动；
2)数据检测：发射源将莫尔条纹图像投射到外壳的表面，CMOS传感器接收反射的莫尔条纹图像，CMOS传感器在单一检测面具有一个固定的三维坐标位置W1，发射源向右移动的过程中，发射源坐标W2的X轴位置发生变化，始终得到莫尔条纹检测位置的水平面坐标；
图像始终沿外壳整体的法线投射，外壳发生曲面变化时，CMOS传感器接收到的莫尔条纹图像在间距d和方向上发生改变，莫尔条纹的疏密发生变化时，即外壳检测位置在Z轴位置发生变化；
通过计算发射源到外壳表面对应点的位置计算Z轴的位置变化，发...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴涵标，
申请(专利权)人：惠州市微米立科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44