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本发明公开了一种基于结构光三维成像的外壳检测方法，包括构建结构光测量系统，包括发射源和CMOS传感器的位置布置，将外壳置于发射源的下方，发射源始终处在外壳整体平面的法线上，本基于结构光三维成像的外壳检测方法，原理简单，易于实现，通过结构光的...
该专利属于惠州市微米立科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州市微米立科技有限公司授权不得商用。

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