一种芯片pin脚高度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及芯片测量技术领域，具体揭示了一种芯片pin脚高度测量装置，包括第一外框、第一支撑板和第二支撑板，所述第一外框的内侧固定连接有支撑平台和检测块，所述支撑平台下表面的内侧固定连接有连接板，所述连接板的内侧固定连接有转轴，所述转轴的中央套设有传送带，所述传送带的表面贴合有芯片；本实用新型专利技术通过该装置的第二电机与传送带，从而达到使该装置带动芯片向右移动的作用，配合检测弧，达到可以通过芯片是否进入该装置，从而判定出该芯片上下两侧pin脚的高度是否正常的效果，再配合第一电机和电动伸缩杆，从而起到可以使芯片旋转，并测出其芯片左右两侧高度是否符合标准的作用。

A device for measuring pin height of chip

【技术实现步骤摘要】
一种芯片pin脚高度测量装置
本技术涉及芯片测量
，具体为一种芯片pin脚高度测量装置。
技术介绍
芯片是半导体元件产品的统称，晶体管专利技术并大量生产之后，各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用，取代了真空管在电路中的功能与角色。到了20世纪中后期半导体制造技术进步，使得集成电路成为可能。pin是芯片中引脚的英文名称，指的是从集成电路内部电路引出与外围电路的接线，所有的引脚就构成了这块芯片的接口。在制作芯片时为了便于后序的安装与加工，从而需要使pin脚的高度一样。然而现有市面上没有一种专用于芯片高度的检测装置，容易造成芯片的pin脚高度检测不够标准，从而使不便于芯片的后序安装。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供一种芯片pin脚高度测量装置，具备精准检测芯片pin脚高度等优点，解决了现有装置检测芯片pin脚高度不够精准的问题。本技术的芯片pin脚高度测量装置，包括第一外框、第一支撑板和第二支撑板，所述第一外框的内侧固定连接有支撑平台和检测块，所述支撑平台下表面的内侧固定连接有连接板，所述连本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片pin脚高度测量装置，包括第一外框(1)、第一支撑板(11)和第二支撑板(17)，其特征在于：所述第一外框(1)的内侧固定连接有支撑平台(2)和检测块(3)，所述支撑平台(2)下表面的内侧固定连接有连接板(5)，所述连接板(5)的内侧固定连接有转轴(6)，所述转轴(6)的中央套设有传送带(7)，所述传送带(7)的表面贴合有芯片(4)，所述芯片(4)的四侧固定连接有pin脚(41)，所述pin脚(41)的上表面与检测弧(31)的内壁相贴合，所述pin脚(41)的下表面与支撑平台(2)的上表面相贴合，所述第一外框(1)的右端固定连接有第二外框(10)，所述第二外框(10)的上表面设置有...

【技术特征摘要】
1.一种芯片pin脚高度测量装置，包括第一外框(1)、第一支撑板(11)和第二支撑板(17)，其特征在于：所述第一外框(1)的内侧固定连接有支撑平台(2)和检测块(3)，所述支撑平台(2)下表面的内侧固定连接有连接板(5)，所述连接板(5)的内侧固定连接有转轴(6)，所述转轴(6)的中央套设有传送带(7)，所述传送带(7)的表面贴合有芯片(4)，所述芯片(4)的四侧固定连接有pin脚(41)，所述pin脚(41)的上表面与检测弧(31)的内壁相贴合，所述pin脚(41)的下表面与支撑平台(2)的上表面相贴合，所述第一外框(1)的右端固定连接有第二外框(10)，所述第二外框(10)的上表面设置有电动伸缩杆(20)与控制器(19)，所述电动伸缩杆(20)的前端固定连接有推块(16)。


2.根据权利要求1所述的一种芯片pin脚高度测量装置，其特征在于：所述支撑平台(2)与检测块(3)的高度差为pin脚(41)的厚度，所述检测块(3)的右侧开设有检测弧(31)，所述检测弧(31)的顶面与支撑平台(2)的距离为pin脚(41)的高度。


3.根据权利要求1所述的一种芯片pin...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴烽滨，
申请(专利权)人：武汉市兰皓科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42