显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置，属于显示技术领域。其中，显示基板，包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，所述显示基板还包括：与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。通过本发明专利技术的技术方案，能够对绑定引脚进行检测。

Display base plate and its manufacturing method, detection method and display device

【技术实现步骤摘要】
显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置
本专利技术涉及显示
，特别是指一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置。
技术介绍
相关技术中，在显示基板母板上设置有与绑定引脚连接的测试单元，测试单元可以对绑定引脚进行检测，判断绑定引脚是否损坏；但测试单元位于显示基板切割线的外侧，在将显示基板母板切割为显示基板后，测试单元将会被切割掉，这样后续无法对绑定引脚进行检测。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置，能够对绑定引脚进行检测。为解决上述技术问题，本专利技术的实施例提供技术方案如下：一方面，提供一种显示基板，包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，所述显示基板还包括：与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。可选地，所述显示基板包括用于进行点灯检测的电学检测区域，所述测试数据线和所述第一控制开关位于所述电学检测区域。可选地，还包括：第二控制开关，所述第二控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。可选地，所述第二控制开关与所述第一控制开关之间的距离大于阈值。本专利技术实施例还提供了一种显示基板的检测方法，应用于如上所述的显示基板，所述检测方法包括：通过所述第一控制开关控制所有的开关薄膜晶体管打开；向所述测试数据线输入电信号，若显示基板显示出现异常，则判断所述测试引脚出现损伤。可选地，还包括：向所述测试数据线输入电信号后，通过所述第二控制开关控制所有的开关薄膜晶体管关闭。本专利技术实施例还提供了一种显示装置，包括如上所述的显示基板。本专利技术实施例还提供了一种显示基板的制作方法，所述显示基板包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，所述制作方法包括：形成与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；形成测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；形成第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。可选地，所述显示基板包括用于进行点灯检测的电学检测区域，所述制作方法具体包括：在所述电学检测区域形成所述测试数据线和所述第一控制开关。可选地，还包括：形成第二控制开关，所述第二控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。本专利技术的实施例具有以下有益效果：上述方案中，在显示基板的走线区设置有多个绑定引脚，显示基板还包括与多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管、第一控制开关以及数据线，每一开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接，测试数据线与多个开关薄膜晶体管的第二极均连接，第一控制开关与多个开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。这样在通过第一控制开关控制开关薄膜晶体管打开后，通过向测试数据线输入测试信号，可以对绑定引脚进行检测，检测绑定引脚是否划伤。本实施例的开关薄膜晶体管、第一控制开关以及测试数据线均位于显示基板的切割线内，在将显示基板母板切割为显示基板后，开关薄膜晶体管、第一控制开关以及测试数据线得以保留，这样仍然能够对绑定引脚进行检测。附图说明图1为相关技术显示基板的示意图；图2为本专利技术实施例显示基板的示意图。附图标记1显示基板的切割线2引线3测试数据线4第一控制开关5第二控制开关6绑定引脚7测试单元A电学检测区域B绑定引脚区域C显示区域具体实施方式为使本专利技术的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。如图1所示，相关技术的显示基板上设置有电学检测区域A和绑定引脚区域B，在绑定引脚区域B设置有多个绑定引脚6，绑定引脚6通过引线2与测试单元7连接，测试单元7可以对绑定引脚6进行检测，检测绑定引脚6是否被划伤。但是测试单元7位于显示基板的切割线1之外，在将显示基板母板切割为显示基板后，测试单元7将会被切割掉，这样后续无法对绑定引脚6进行检测。如果在将显示基板母板切割为显示基板时保留测试单元7，后续在制作显示模组时再去除测试单元，这样在后续的显示模组制作工艺中还需要额外的切割工艺来将测试单元7去除，需要增加切割设备投入资金，并且增加了工艺时间，另一方面电学检测区域A的检测信号也不会经过绑定引脚区域B，无法对绑定引脚6进行检测。再者，在显示模组制作工艺完成后，将无法对绑定引脚进行检测，无法获知绑定引脚的损伤情况。本专利技术的实施例针对上述问题，提供一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置，能够对绑定引脚进行检测。本专利技术的实施例提供一种显示基板，如图2所示，包括显示区域C和位于显示区域C周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚6，所述显示基板还包括：与所述多个绑定引脚6一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚6连接；测试数据线3，所述测试数据线3与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；第一控制开关4，所述第一控制开关4与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。本实施例中，在显示基板的走线区设置有多个绑定引脚(BondingPin)，显示基板还包括与多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管、第一控制开关以及数据线，每一开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接，测试数据线与多个开关薄膜晶体管的第二极均连接，第一控制开关与多个开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。这样在通过第一控制开关控制开关薄膜晶体管打开后，通过向测试数据线输入测试信号，可以对绑定引脚进行检测，检测绑定引脚是否划伤。本实施例的开关薄膜晶体管、第一控制开关以及测试数据线均位于显示基板的切割线内，在将显示基板母板切割为显示基板后，开关薄膜晶体管、第一控制开关以及测试数据线得以保留，这样仍然能够对绑定引脚进行检测。通过本实施例的技术方案，可以在制作显示模组后，利用开关薄膜晶体管、第一控制开关以及测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板，包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，其特征在于，所述显示基板还包括：/n与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；/n测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；/n第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，其特征在于，所述显示基板还包括：
与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；
测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；
第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。


2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板包括用于进行点灯检测的电学检测区域，所述测试数据线和所述第一控制开关位于所述电学检测区域。


3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，还包括：
第二控制开关，所述第二控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。


4.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，
所述第二控制开关与所述第一控制开关之间的距离大于阈值。


5.一种显示基板的检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-4中任一项所述的显示基板，所述检测方法包括：
通过所述第一控制开关控制所有的开关薄膜晶体管打开；
向所述测试数据线输入电信号，若显示基板显示出现异常，则判断所述测试引脚出现损伤。

【专利技术属性】
技术研发人员：张祎杨，张陶然，赵广洲，周洋，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11