一种检具及零件检测方法技术

本发明专利技术公开了一种检具，用于检测零件上螺纹孔延伸公差带，包括：检具本体和检测插销；检具本体包括：底座，用于支承零件；底座，用于支承零件；底座一端沿第一方向延伸形成第一定位部件，第一定位部件用于抵接零件；第一定位部件平行于底座延伸方向形成支架，支架设置有通孔，通孔与零件上的螺纹孔同轴设置；支架的上表面为检具本体的止挡面；检测插销包括限位部件和检测部件；限位部件与检测部件台阶面为检测插销的限位面；限位面用于与所述止挡面配合以检测零件。本发明专利技术提供的检具一方面，提高了对零件的检测效率。另一方面，提高了检测的精度。

A inspection tool and part inspection method

【技术实现步骤摘要】
一种检具及零件检测方法
本专利技术涉及机械零件领域，尤其是涉及一种检具及零件检测方法。
技术介绍
第一零件设置有螺纹孔，通过螺栓/螺柱，螺钉，销，键等紧固件与螺纹孔的配合将第一零件和第二零件装配。由于螺栓/螺柱，螺钉，销，键等紧固件的角度倾斜会引起紧固件的根部与第二零件的匹配面出现干涉(参见图1(a)和1(b))，为了保证紧固件的装配，当第二零件为厚壁件时，需对第一零件的螺纹孔增加延伸公差要求，使得紧固件在有一定角度倾斜时，避免出现干涉，能够成功的装配(参见图1(c)和图1(d))。延伸公差的评价对象是螺纹孔最大内切圆柱轴线的延伸段长度，为了检测延伸公差是否符合要求，现有技术通常采用三坐标检测方法或者采用光杆检测销的方法，但是这些方案本身存在如下缺陷。(1)三坐标检测方法通常是：在螺纹孔某一平面上，选取一个圆在该圆上随机选取三个点，利用这三个点采用最大值最小法拟合出圆心的位置，将该圆心所在的轴线作为螺纹孔的轴线，并基于该圆心所在的轴线来检测延伸公差。一方面，有时候拟合出来的圆心所在轴线并不是螺纹孔内最大内切圆柱轴线，导致测量结果不准确。另一方面，采用三坐标检测方法需要大量计算，因此测量的效率比较低。(2)采用光杆检测销的方法通常是：假如对深度为D毫米的螺纹孔检测延伸公差，GD&T图纸上显示对于其延伸公差的要求为：螺纹孔内直径方向的延伸公差带为T1毫米，且轴线方向的延伸公差带为P毫米，采用光杆检测销检测公差带是否符合要求时，需要结合其螺纹孔的深度来检测。也就是说，认为其轴线方向的延伸公差带值为P+D毫米。也就是说，采用光杆检测销的方法，在检测螺纹孔延伸公差带时，对于螺纹孔内的尺寸要完全符合光杆检测销的尺寸，如果螺纹孔内的尺寸在公差范围内，但小于光杆检测插销的尺寸，则视该螺纹孔为不合格，而对于这种尺寸的螺纹孔实际上是合格的，能够符合装配的要求。因此，采用光杆检测销的方法实际上更加严格了公差的要求，会导致将合格的零件被误判为不合格的零件，导致制造的成本提高。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种检具及检测螺纹孔延伸公差带的方法，采用本专利技术提供的方法，基于检测插销的限位面与检具本体的止挡面贴合程度确定零件是否符合要求。一方面，提高了对零件的检测效率。另一方面，提高了检测的精度。为解决上述问题，本专利技术的第一方面提供了一种检具，用于基于螺纹孔延伸公差带检测零件，包括：检测插销和检具本体；检具本体包括：底座，用于支承零件；底座，用于支承零件；底座一端沿第一方向延伸形成第一定位部件，第一定位部件用于抵接零件；第一定位部件平行于底座延伸方向形成支架，支架设置有通孔，通孔与零件上的螺纹孔同轴设置；支架的上表面为检具本体的止挡面；检测插销包括限位部件和检测部件；限位部件与检测部件台阶面为检测插销的限位面；限位面用于与止挡面配合以检测零件。进一步地，底座沿第二方向延伸形成第二定位部件，第二定位部件用于抵接零件；第二定位部件与第一定位部件形成为“L”形。进一步地，检测部件形成有圆柱和圆台；圆台包括第一底面和第二底面，第一底面的面积大于第二底面；第一底面与圆柱的底面贴合。根据本专利技术的第二方面，提供了一种检测螺纹孔延伸公差带的方法，该方法包括：获取螺纹孔外部直径方向的延伸公差带值T1、螺纹孔深度D和螺纹孔轴线方向的延伸公差带值P，并基于公差带值T1、螺纹孔深度D和公差带值P获取螺纹孔底部直径方向的延伸公差带值T2；基于公差带值T1、公差带值T2和零件的尺寸选用尺寸匹配的检具；通过检具检测零件是否符合要求。进一步地，螺纹孔底部的公差带值T2通过下述公式计算得到：进一步地，基于公差带值T1、公差带值T2、零件的尺寸选用尺寸匹配的检具包括：基于公差带值T2和公差带值T1确定检测插销的尺寸；基于零件的尺寸和公差带T1确定检具本体的尺寸。进一步地，基于公差带值T2和公差带值T1确定检测插销的尺寸包括：螺纹孔内最小的内径为d；圆柱的高为P,圆柱的直径为φ1，φ1为d与T1的差值；圆台的高为D,第二底面的直径为φ2，φ2为d与T2的差值。进一步地，基于零件的尺寸和公差带值T1确定检具本体的尺寸包括：检具本体的长度和宽度与零件的长度和宽度相适配；支架下表面与底座上表面的距离为零件的高与螺纹孔延伸长度P之和。进一步地，通孔的直径为螺纹孔的最小内径d与T1的差值。进一步地，通过检具检测零件是否符合要求步骤包括：若限位面与止挡面能够贴合，则零件符合要求；若限位面与止挡面存在间隙，则零件不符合要求。专利技术的上述技术方案具有如下有益的技术效果：(1)本专利技术提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法，基于检测插销的限位面与检具本体的止挡面贴合程度确定零件是否符合要求。一方面，提高了对零件的检测效率。另一方面，提高了检测的精度。(2)本专利技术提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法，通过检测插销的限位面与检具本体止挡面的贴合程度检测延伸公差带是否符合要求，更加直观的体现了零件是否符合要求，检测方法更快速直观。附图说明图1(a)是现有技术中螺纹孔的示意图；图1(b)是图1(a)中螺纹孔与紧固件装配过程图；图1(c)是现有技术中螺纹孔的示意图；图1(d)是图1(a)中螺纹孔与紧固件装配过程图；图2(a)是现有技术中螺纹孔的示意图；图2(b)是实际对图2(a)所示的螺纹孔的延伸公差带要求示意图；图2(c)是采用光杆检测销的方法检测延伸公差的示意图；图3是根据本专利技术第一实施方式提供的检具本体的结构示意图；图4是根据本专利技术第一实施方式提供的检具与零件的装配示意图；图5是根据本专利技术第二实施方式提供的对螺纹孔位置度公差要求示意图；图6是根据本专利技术第二实施方式提供的基于螺纹孔延伸公差带的零件检测方法流程示意图；图7是根据本专利技术第二实施方式提供的获取螺纹孔底部公差带值T2示意图；图8是根据本专利技术第二实施方式提供的检测插销的结构示意图；图9是根据本专利技术第二实施方式提供的检具的断面图；图10是根据本专利技术第二实施方式提供的检具与检测插销的装配示意图。附图标记：1：检测插销；11：限位部件；12：检测部件；121：圆柱；122：圆台；2：零件；3：检具本体；31：底座；32第一定位部件；33：支架；331：通孔；332：止挡部件；34：第二定位部件。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本专利技术进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本专利技术的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本专利技术的概念。图1是螺栓与螺纹孔装配示意图。如图1(a)和图1(b)所示，图1(a)显示图纸上对第一零件上的一个螺纹孔的要求是：直径为M14的螺纹孔，其最大内切圆柱轴线在垂直于A方向的公差带T1为0.4。但缺少对螺纹孔最大内切圆柱轴线在螺纹孔外本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检具，用于基于螺纹孔延伸公差带检测零件(2)，其特征在于，包括：检具本体(3)和检测插销(1)；/n所述检具本体(3)包括：/n底座(31)，用于支承所述零件(2)；/n所述底座(31)一端沿第一方向延伸形成第一定位部件(32)，所述第一定位部件(32)用于抵接所述零件(2)；所述第一定位部件(32)平行于所述底座(31)延伸方向形成支架(33)，所述支架(33)设置有通孔(331)，所述通孔(331)与所述零件(2)上的螺纹孔同轴设置；所述支架(33)的上表面为所述检具本体(3)的止挡面；/n所述检测插销(1)包括限位部件(11)和检测部件(12)；/n所述限位部件(11)与所述检测部件(12)台阶面为所述检测插销(1)的限位面；所述限位面用于与所述止挡面配合以检测所述零件(2)。/n

【技术特征摘要】
1.一种检具，用于基于螺纹孔延伸公差带检测零件(2)，其特征在于，包括：检具本体(3)和检测插销(1)；
所述检具本体(3)包括：
底座(31)，用于支承所述零件(2)；
所述底座(31)一端沿第一方向延伸形成第一定位部件(32)，所述第一定位部件(32)用于抵接所述零件(2)；所述第一定位部件(32)平行于所述底座(31)延伸方向形成支架(33)，所述支架(33)设置有通孔(331)，所述通孔(331)与所述零件(2)上的螺纹孔同轴设置；所述支架(33)的上表面为所述检具本体(3)的止挡面；
所述检测插销(1)包括限位部件(11)和检测部件(12)；
所述限位部件(11)与所述检测部件(12)台阶面为所述检测插销(1)的限位面；所述限位面用于与所述止挡面配合以检测所述零件(2)。


2.根据权利要求1所述的检具，其特征在于，所述底座(31)沿第二方向延伸形成第二定位部件(34)，所述第二定位部件(34)用于抵接所述零件(2)；
所述第二定位部件(34)与所述第一定位部件(32)形成为“L”形。


3.根据权利要求1所述的检具，其特征在于，所述检测部件(12)形成有圆柱(121)和圆台(122)；
所述圆台(122)包括第一底面和第二底面，所述第一底面的面积大于所述第二底面；
所述第一底面与所述圆柱(121)的底面贴合。


4.一种零件检测的方法，通过权利要求1-3任一项所述的检具检测，其特征在于，包括：
获取螺纹孔外部直径方向的延伸公差带值T1、螺纹孔深度D和螺纹孔轴线方向的延伸公差带值P，并基于所述公差带值T1、螺纹孔深度D和所述公差带值P获取螺纹孔底部直径方向的延伸公差带值T2；
基...

【专利技术属性】
技术研发人员：付红圣，连翠翠，罗钧鼎，
申请(专利权)人：上海蔚来汽车有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31