一种EKT双面AOI检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种EKT双面AOI检测设备，包括上照相机光源模块和下照相机光源模块，所述上照相机光源模块安装在第一支撑架上，所述下照相机光源模块安装在第二支撑架上；所述第一支撑架包括X轴和第一Y轴和第二Y轴，所述第一Y轴和所述第二Y轴对称且间隔设置，所述X轴横跨所述第一Y轴和所述第二Y轴，且通过第一滑块分别与所述第一Y轴和所述第二Y轴相接；两个照相机光源模块上下交错分布，光源频闪，可避免同时移动拍照时，彼此光线的干扰，且双面检测，提高了效率，且控制了成本。此外，两个照相机光源模块在各自的X轴、Y轴上移动拍照，互补干扰，可以实现独立控制。

A ekt double AOI testing equipment

【技术实现步骤摘要】
一种EKT双面AOI检测设备
本技术涉及电子装配领域，尤其涉及一种EKT双面AOI检测设备。
技术介绍
AOI(AutomaticOpticInspection,自动光学检测)的全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生成中遇到的常见缺陷进行检测的设备，目前的AOI对板材的上下双面检测方式是采用两台在线AOI之间加翻板机的方案进行检测，生成效率低，设备成本高，占地方空间，双面AOI检测设备彻底解决了此类问题。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述现有技术的不足，提供了一种EKT双面AOI检测设备，自动化程度高，极大的提高了生成效率。为实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：本技术提供了一种EKT双面AOI检测设备，包括上照相机光源模块和下照相机光源模块，所述上照相机光源模块安装在第一支撑架上，所述下照相机光源模块安装在第二支撑架上；所述第一支撑架包括X轴和第一Y轴和第二Y轴，所述第一Y轴和所述第二Y轴对称且间隔设置，所述X轴横跨所述第一Y轴和所述第二Y轴，且通过第一滑块分别与所述第一Y轴和所述第二Y轴本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种EKT双面AOI检测设备，其特征在于：包括上照相机光源模块(1)和下照相机光源模块(2)，所述上照相机光源模块(1)安装在第一支撑架(3)上，所述下照相机光源模块(2)安装在第二支撑架(4)上；/n所述第一支撑架(3)包括X轴(5)和第一Y轴(601)和第二Y轴(602)，所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)对称且间隔设置，所述X轴(5)横跨所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)，且通过第一滑块(603)分别与所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)相接；/n所述X轴(5)、所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)均包括轴基座(501)，所述轴基座(501...

【技术特征摘要】
1.一种EKT双面AOI检测设备，其特征在于：包括上照相机光源模块(1)和下照相机光源模块(2)，所述上照相机光源模块(1)安装在第一支撑架(3)上，所述下照相机光源模块(2)安装在第二支撑架(4)上；
所述第一支撑架(3)包括X轴(5)和第一Y轴(601)和第二Y轴(602)，所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)对称且间隔设置，所述X轴(5)横跨所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)，且通过第一滑块(603)分别与所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)相接；
所述X轴(5)、所述第一Y轴(601)和所述第二Y轴(602)均包括轴基座(501)，所述轴基座(501)上设有丝杆(503)，电脑和运动控制卡控制马达(504)转动，所述马达(504)转动带动所述丝杆(503)平转。


2.根据权利要求1所述的一种EKT双面AOI检测设备，其特征在于：所述X轴(5)的一侧还设有导轨(502)和传动块锁(505)，所述导轨(502)安装在所述X轴的一侧，且与所述丝杆(503)相邻，所述传动块锁(505)安装在所述导轨(502)和所述丝杆(503)上，所述丝杆(503)伸缩运动，带动所述传动块锁(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄坤，范剑，
申请(专利权)人：深圳易科讯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44