极耳检查校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及卷绕机自动化技术领域，公开了一种极耳检查校正方法及装置。该极耳检查校正方法通过对当前组电芯的极耳探出距离进行一致度分析，在当前组极耳探出距离一致度超出预定阈值范围时，输出不稳定信息，提示操作人员检查原因；在当前组电芯极耳探出距离一致度符合预定阈值范围时，通过当前组电芯极片的投入纠偏值配合当前组电芯的极耳探出距离调整值，来获得下一组电芯极片的投入纠偏值，如此，为下一组极片提供更加可靠的纠偏值，确保极片投入位置更加准确，从而提高了极耳探出距离的一致度，保证了电芯质量。

Method and device for checking and correcting polar ear

【技术实现步骤摘要】
极耳检查校正方法及装置
本专利技术涉及卷绕机自动化
，尤其是涉及一种极耳检查校正方法及装置。
技术介绍
极耳，是锂离子聚合物电池的一部分，电池是分正负极的，极耳就是从电芯中将正负极引出来的金属电体。现有锂电池多采用卷绕机卷绕加工，如图1所示，卷绕完成后的电芯的正极极耳和负极极耳的探出保护膜(Sealant)的顶侧边缘到隔膜边缘的距离称为极耳探出距离，也称为极耳高度或者极耳外露尺寸，极耳探出距离包括正极极耳探出距离和负极极耳探出距离。在实际加工生产中，正极极耳探出距离和负极极耳探出距离的尺寸会出现不一致的现象或者二者超出各自工艺设定的公差范围，这样便会影响到电芯卷绕后的入壳工艺的处理效果，而入壳不良则会进一步影响到注液等后续工序的正常生产，进而最终影响电芯的性能和质量，所以针对正极极耳探出距离和负极极耳探出距离不一致或超出工艺设定的公差范围的电芯只能报废处理。现有技术中，极耳探出的管控往往依靠人工测量，维护难度大；多个电芯探出尺寸的一致性差或单个电芯正极极耳探出距离、负极极耳探出距离的一致性差，对后工序的组装造成较大影响；且电芯探出尺寸出现偏差时，在电芯卷绕时不能及时对后续的极耳探出距离作出相应调整，往往会出现大批量偏差，导致电芯的批量报废，造成生产浪费严重且影响生产效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种极耳检查校正方法及装置以解决现有技术中存在的极耳探出距离不符合要求时，极片与极耳不能及时补偿调整，从而影响电芯质量并造成生产浪费的技术问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种极耳检查校正方法，所述方法包括：分别获取当前组电芯的极耳探出距离，所述当前组电芯包括至少两个电芯；根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数；根据所述第一统计学参数判断所述当前组电芯的极耳探出距离的一致度是否在预定阈值范围内；若所述一致度超出预定阈值范围，输出不稳定信息；若所述一致度在预定阈值范围内，根据当前组电芯的所述极耳探出距离进行统计学分析，得到第二统计学参数；基于所述第二统计学参数计算得到极耳探出距离调整值；基于所述极耳探出距离调整值及当前组电芯极片的投入纠偏值计算得到下一组电芯极片的投入纠偏值。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述获取当前组电芯的极耳探出距离包括：获取当前电芯的探出特征图像；对当前电芯的探出特征图像进行图像处理，检测出探出特征图像中的当前电芯的左、右边缘位置；根据极耳与电芯左边缘或右边缘的预设标准值，预估当前电芯的极耳位置范围；基于当前电芯的极耳位置范围分析极耳准确位置；基于极耳准确位置分析获得极耳探出距离。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，所述对当前电芯探出特征图像进行图像处理包括：在当前电芯的探出特征图像中检测电芯的位置，分析探出特征图像中的电芯是否相对标准方向出现倾斜；若探出特征图像中的电芯相对标准方向出现倾斜，校正探出特征图像至标准方向。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，所述极耳与电芯左边缘或右边缘的预设标准值通过对预设标准电芯的标准探出特征图像分析获得。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数，包括：基于当前组电芯的所述极耳探出距离调取统计学计算方法计算得到第一统计学参数；其中，所述统计学计算方法为CPK值计算方法或标准差计算方法或方差计算方法，相应的，所述第一统计学参数为CPK值或标准差值或方差值。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，当所述统计学计算方法为标准差计算方法或方差计算方法时，即所述第一统计学参数为标准差值或方差值时；所述根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数之前，还包括：对当前组电芯的极耳探出距离进行正态分布统计，以获取当前组电芯的极耳探出距离的正态分布情况；判断当前组电芯的极耳探出距离的正态分布情况是否符合预设要求；若当前组电芯的极耳探出距离的正态分布情况符合预设要求，根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数；若当前组电芯的极耳探出距离的正态分布情况不符合预设要求，输出不稳定信息。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述根据当前组电芯的所述极耳探出距离进行统计学分析，得到第二统计学参数，包括：基于当前组电芯的所述极耳探出距离调取统计学计算方法计算得到所述第二统计学参数，所述统计学计算方法包括加权平均值计算方法、调和平均值计算方法、几何平均值计算方法、修剪平均值计算方法、中位值计算方法的任意一种；相应的，所述第二统计学参数包括加权平均值、调和平均值、几何平均值、修剪平均值、中位值的任意一种。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式，其中，所述基于极耳准确位置分析获得极耳探出距离，包括：基于极耳的准确位置判断极耳与隔膜边缘之间的夹角是否在垂直度阈值范围内；若极耳与隔膜边缘之间的夹角处于垂直度预设范围内，分析获得极耳探出距离；若极耳与隔膜边缘之间的夹角超出预设垂直度预设范围，输出人工干预信息。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第八种可能的实施方式，所述极耳包括正极极耳和负极极耳；所述正极极耳对应的电芯正极极片的投入纠偏值、所述负极极耳对应的电芯负极极片的投入纠偏值分别计算。第二方面，本专利技术实施例还提供一种极耳检查校正装置，包括：包括控制器、视觉装置以及入料纠偏电机，所述控制器与所述视觉装置、入料纠偏电机分别电连接；所述视觉装置能够获取卷绕完成的电芯的探出特征图像并发送给所述控制器；所述控制器能够执行如上述任一项所述的极耳检查校正方法；所述入料纠偏电机能够接收所述控制器的控制指令对下一组电芯的极片进行投入位置调整，所述控制指令包括下一组电芯极片的投入纠偏值。与现有技术相比，本专利技术实施例的有益效果为：本专利技术实施例带来了以下有益效果：本专利技术实施例提供的极耳检查校正方法，为下一组电芯极片提供更加可靠的投入纠偏值，确保极片投入位置更加准确，从而提高了极耳探出距离的一致度，保证了电芯质量。同时，本专利技术实施例极耳检查校正方法能够及时发现电芯极耳探出距离的异常，并做相应补偿调整，避免发生电芯的批量报废，降低了生产浪费并相应的提高了生产效率。本专利技术实施例提供的极耳检查校正装置，其控制器能够实现本专利技术实施例提供的极耳检查校正方法，相比现有技术，本专利技术实施例极耳检查校正装置与本专利技术实施例提供的极耳检查校正方法具有相同的有益效果。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种极耳检查校正方法，其特征在于，所述方法包括：/n分别获取当前组电芯的极耳探出距离，所述当前组电芯包括至少两个电芯；/n根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数；/n根据所述第一统计学参数判断所述当前组电芯的极耳探出距离的一致度是否在预定阈值范围内；/n若所述一致度超出预定阈值范围，输出不稳定信息；/n若所述一致度在预定阈值范围内，根据当前组电芯的所述极耳探出距离进行统计学分析，得到第二统计学参数；/n基于所述第二统计学参数计算得到极耳探出距离调整值；/n基于所述极耳探出距离调整值及当前组电芯极片的投入纠偏值计算得到下一组电芯极片的投入纠偏值。/n

【技术特征摘要】
1.一种极耳检查校正方法，其特征在于，所述方法包括：
分别获取当前组电芯的极耳探出距离，所述当前组电芯包括至少两个电芯；
根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数；
根据所述第一统计学参数判断所述当前组电芯的极耳探出距离的一致度是否在预定阈值范围内；
若所述一致度超出预定阈值范围，输出不稳定信息；
若所述一致度在预定阈值范围内，根据当前组电芯的所述极耳探出距离进行统计学分析，得到第二统计学参数；
基于所述第二统计学参数计算得到极耳探出距离调整值；
基于所述极耳探出距离调整值及当前组电芯极片的投入纠偏值计算得到下一组电芯极片的投入纠偏值。


2.根据权利要求1所述的极耳检查校正方法，其特征在于，所述获取当前组电芯的极耳探出距离包括：
获取当前电芯的探出特征图像；
对当前电芯的探出特征图像进行图像处理，检测出探出特征图像中的当前电芯的左、右边缘位置；
根据极耳与电芯左边缘或右边缘的预设标准值，预估当前电芯的极耳位置范围；
基于当前电芯的极耳位置范围分析极耳准确位置；
基于极耳准确位置分析获得极耳探出距离。


3.根据权利要求2所述的极耳检查校正方法，其特征在于，所述对当前电芯探出特征图像进行图像处理包括：
在当前电芯的探出特征图像中检测电芯的位置，分析探出特征图像中的电芯是否相对标准方向出现倾斜；
若探出特征图像中的电芯相对标准方向出现倾斜，校正探出特征图像至标准方向。


4.根据权利要求2所述的极耳检查校正方法，其特征在于，所述极耳与电芯左边缘或右边缘的预设标准值通过对预设标准电芯的标准探出特征图像分析获得。


5.根据权利要求1所述的极耳检查校正方法，其特征在于，所述根据当前组电芯的极耳探出距离进行统计学分析，得到第一统计学参数，包括：
基于当前组电芯的所述极耳探出距离调取统计学计算方法计算得到第一统计学参数；
其中，所述统计学计算方法为CPK值计算方法或标准差计算方法或方差计算方法，相应的，所述第一统计学参数为CPK值或标准差值或方差值。


6.根据权利要求5所述的极耳检查校正方法，其特征在于，当所述统计学计算方法为标准差计算方法或方差计算...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：无锡先导智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32