【技术实现步骤摘要】
一种芯片镭射切割后的处理方法
本专利技术涉及芯片切割的
,尤其涉及一种芯片镭射切割后的处理方法。
技术介绍
近年来,Ⅲ-Ⅴ族半导体应用越来越广泛,为了大幅度节约成本和提高制作效率,在大批量生产中往往在晶圆上沉积集成电路芯片,然后再分割成各个单元,最后再进行封装和焊接。晶圆切割技术对提高成品率和封装效率有着重要影响。传统的切割方法有金刚石划裂切割和轮刀切割,传统的切割方式存在问题有:1、宽切割槽(30-100um),晶片利用率低;2、易产生裂纹、碎片、分层;3、刀具耗损快,需要消耗大量去离子水,增加成本等。镭射切割技术集光学、精密机械、电子技术和计算机技术于一体,与传统加工方法相比,它具有以下优点:1、加工速度快;2、窄切割槽(10-30um),晶片利用率高;3、非接触加工,适合薄晶圆;4、自动化程度高,任意图形切割。因而,镭射切割技术逐渐取代了传统切割方法,得到应用。在镭射切割过程中会产生热应力,被分割后的芯片边缘存在一些烧融物,因而切割后需使用化学蚀刻的方法把烧融物蚀刻掉然后进行清洗,消除热应力,恢复芯片的机 ...
【技术保护点】
1.一种芯片镭射切割后的处理方法,其特征在于包括以下步骤:/n1)对晶圆进行镭射切割以及扩片处理,形成若干独立的芯片;/n2)将芯片浸泡于表面活性剂溶液中;/n3)将芯片移出表面活性剂溶液然后浸入蚀刻液,通过蚀刻液蚀刻芯片边缘的烧融物;/n4)对蚀刻后的芯片进行清洗,清除表面残留的蚀刻液;/n5)将清洗后的芯片烘干。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片镭射切割后的处理方法,其特征在于包括以下步骤:
1)对晶圆进行镭射切割以及扩片处理,形成若干独立的芯片;
2)将芯片浸泡于表面活性剂溶液中;
3)将芯片移出表面活性剂溶液然后浸入蚀刻液,通过蚀刻液蚀刻芯片边缘的烧融物;
4)对蚀刻后的芯片进行清洗,清除表面残留的蚀刻液;
5)将清洗后的芯片烘干。
2.根据权利要求1所述的处理方法,其特征在于:步骤2)中,所述表面活性剂溶液包括以下几种:a、聚乙二醇3-5wt%、聚乙二醇辛基苯基醚2-4wt%,溶剂为水;b、聚氧化丙烯、聚氧化乙烯共聚物2-4wt%,聚氧乙烯化合物0.5-1.5wt%,溶剂为水;c、聚乙烯醇9-11wt%,乙氧基丙氧基化-C6-12-醇3-5wt%,溶剂为水。
3.根据权利要求1所述的处理方法,其特征在于:步骤2)中,所述芯片在所述表面活性剂溶液中浸泡60-180s。
4.根据权利要求1所述的处理方法,其特征在于:步骤3)中,是将所述芯片浸泡于所述蚀刻液中...
【专利技术属性】
技术研发人员:王伟,林科闯,伍燕辉,陈军,李华群,许章伟,
申请(专利权)人:厦门市三安集成电路有限公司,
类型:发明
国别省市:福建;35
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