一种IGBT性能退化特征参数的提取方法技术

本发明专利技术提出了一种IGBT性能退化特征参数的提取方法，旨在提高对IGBT退化在线监测的精度，实现步骤为：(1)采集IGBT性能退化的检测数据；(2)计算拖尾电流的拟合系数和栅极漏电流的拟合系数；(3)构建IGBT的特征矩阵；(4)对特征矩阵进行核主成分分析；(5)构建样本集和健康样本集；(6)获取IGBT的性能退化特征参数。通过对漏电流拟合系数、拖尾电流拟合系数和饱和开态电压三种退化特征进行核主成分分析，剔除了冗余信息，同时使用贡献率作为加权马氏距离的权重参考，通过加权马氏距离得到了IGBT性能退化特征参数，提高了IGBT性能退化特征参数的准确性，本发明专利技术可应用于对IGBT性能退化进行在线监测。

A method of extracting characteristic parameters of IGBT performance degradation

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT性能退化特征参数的提取方法
本专利技术属于电力电子器件与装置可靠性
，涉及一种IGBT性能退化特征参数的提取方法，具体涉及一种基于核主成分分析和加权马氏距离的IGBT性能退化特征参数的提取方法，可应用于对IGBT性能退化进行在线监测。
技术介绍
绝缘栅双极型晶体管IGBT(insulatedgatebipolartransistor)是由双极型三极管和绝缘栅型场效应管组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件。IGBT具有输入阻抗高、快速开关、电流密度大、导通压降低等优点，被广泛应用于逆变器、电机传动控制、汽车、轨道交通等民用领域，而且在航空、航天等军事领域也拥有很好的发展前景。但是IGBT在面对过高电压和高温等恶劣环境时容易发生失效，如果IGBT突然发生失效，轻则造成电子设备出现故障停机，重则造成严重事故。因此，需要提取表征IGBT性能退化的特征参数并根据性能退化特征参数对IGBT性能退化进行在线监测，实现提前更换维护、降低维护成本和提高系统稳定性。性能退化特征参数是一种表征系统退化状态的参数，能够衡量系统的健康状态，也称为特征参数或退化因子或性能参数或退化指标或退化参数。目前国内外表征IGBT的性能退化状态多采用单一退化特征建立性能退化特征参数，如饱和开态电压、集电极电流、栅极电压、栅极阈值电压、开通/关断时间、结温、导通电阻、拖尾电流拟合系数。然而由于不同性能退化特征参数包含的IGBT性能退化信息不同，另外性能退化特征参数对IGBT性能退化机制的敏感度不同，因此单一退化特征不能全面的表征IGBT的性能退化过程。有效地建立融合多退化特征的性能退化特征参数能够提高性能退化特征参数对IGBT性能退化过程表征的准确性，进而提高了IGBT性能退化在线监测的精度，具有重要意义。例如，申请公布号为CN106124957A，名称为“一种绝缘栅双极型晶体管退化的在线监测方法”的专利申请，公开了一种基于结温优化的IGBT退化参数提取方法。该方法首先检测IGBT在正常情况下表征结温水平的不变压降和表征性能退化程度的导通电阻，并计算相同结温下导通电阻变化量与结温变化量的比例系数；其次在线检测IGBT在性能退化情况下的不变压降和导通电阻，结合正常情况下得到的比例系数对导通电阻进行去结温影响的优化。该方法考虑了结温对导通电阻的影响，得到了更能代表IGBT性能退化状态的性能退化特征参数，实现了对IGBT性能退化的在线监测。其存在的不足之处是，首先该方法采用的IGBT性能退化特征参数只有一种，不能全面地包含IGBT性能退化信息，不利于实现高精度的IGBT性能退化的在线监测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术存在的缺陷，提供了一种IGBT性能退化特征参数的提取方法，旨在提高对IGBT性能退化在线监测的精度。为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案包括如下步骤：(1)采集IGBT性能退化的检测数据：采集IGBT在每一个开通/关断周期的开通状态集电极-发射极的饱和开态电压Vce-oni、关断状态T时间段内集电极的拖尾电流和栅极的漏电流并将m个开通/关断周期内所采集的检测数据组成检测数据矩阵其中i＝1,2…m，m≥2，ti表示第i个开通/关断周期采集数据的时间点；(2)计算的拟合系数和的拟合系数：(2a)构建指数模型f1i(t)＝exp(P1(i)t3+P2(i)t2+P3(i)t+P4(i))和指数模型其中P1(i)、P2(i)、P3(i)和P4(i)分别为f1i(t)的系数，G1(i)、G2(i)、G3(i)和G4(i)为的系数，exp(·)为以自然常数e为底的指数；(2b)通过f1i(t)对进行拟合，得到P1(i)、P2(i)、P3(i)和P4(i)的值，并将P1(i)作为拖尾电流的拟合系数，同时通过对进行拟合，得到G1(i)、G2(i)、G3(i)和G4(i)的值，并将G4(i)作为漏电流的拟合系数，然后对P1(i)和G4(i)进行备份；(3)构建IGBT的特征矩阵Xm×3：对检测数据矩阵Sm×3内m个开通/关断周期的饱和开态电压，以及拖尾电流的拟合系数的备份数据和栅极的漏电流的拟合系数的备份数据进行合并，得到IGBT的特征矩阵Xm×3：(4)对特征矩阵Xm×3进行核主成分分析：采用核主成分分析算法对特征矩阵Xm×3进行核主成分分析，得到核主成分矩阵Zm×p及贡献率矩阵L1×p为：Zm×p＝[Z1,…,Zj,…,Zp]L1×p＝[l1,…,lj,…,lp]其中，为第j个核主成分，lj为第j个核主成分的贡献率，j＝1,2…p，p为核主成分个数；(5)构建样本集和健康样本集；构建样本集同时构建健康样本集其中为核主成分矩阵Zm×p的第i行元素构成的样本，为第j个核主成分的前n个元素构成的健康样本，n≥1；(6)获取IGBT的性能退化特征参数HI：计算每个核主成分Zj的马氏距离加权系数得到加权矩阵W＝diag(w1,…,wj,…,wp)，并采用加权马氏距离公式，通过W计算与Z*的偏离度DI(i)，并将m个开通/关断周期的偏离度HI＝[DI(1)，…,DI(i),…,DI(m)]作为IGBT的性能退化特征参数，其中diag(w1,…,wj,…,wp)为以w1,…,wj,…,wp为对角元素的对角阵。本专利技术与现有技术相比，具有如下优点：1.本专利技术采用核主成分分析对三种退化特征进行核主成分分析，剔除了三种退化特征间的冗余信息，再采用核主成分分析得到的贡献率作为加权马氏距离的权重参考，通过加权马氏距离得到了IGBT性能退化特征参数，合理地区分了核主成分之间的重要性区别，提高了IGBT性能退化特征参数准确性，有效提高了IGBT性能退化在线监测的精度。2.本专利技术使用指数模型从栅极漏电流和拖尾电流中提取出包含IGBT性能退化信息的漏电流拟合系数和拖尾电流拟合系数，并在漏电流拟合系数、拖尾电流拟合系数和饱和开态电压三种退化特征分别代表IGBT栅极、集电极和集电极-发射极输出的退化信息，相比于单一退化特征，从三种退化特征中提取的性能退化特征参数更全面地包含IGBT性能退化信息，进一步提高了IGBT性能退化在线监测的精度。附图说明图1为本专利技术的实现流程图；图2为本专利技术集电极拖尾电流拟合系数P1提取结果图；图3为本专利技术栅极漏电流拟合系数G4提取结果图；图4为本专利技术开态饱和电压Vce-on提取结果图；图5为本专利技术性能退化特征参数HI提取结果图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例，对本专利技术作进一步详细描述：参照图1，本专利技术包括如下步骤：步骤1)采集IGBT器件性能退化的检测数据：保持壳温在(268℃,270℃)的区间，在型号为IRG4BC30K的IGBT的栅极施加方波信号，实现对IGBT寿命的加速，直到IGBT出现闩锁效应时截止。在对IGBT进行寿命加速期间，采集I本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于核主成分分析和加权马氏距离的IGBT性能退化特征参数提取方法，其特征在于，包括如下步骤：/n(1)采集IGBT性能退化的检测数据：/n采集IGBT在每一个开通/关断周期的开通状态集电极-发射极的饱和开态电压Vce-on

【技术特征摘要】
1.一种基于核主成分分析和加权马氏距离的IGBT性能退化特征参数提取方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)采集IGBT性能退化的检测数据：
采集IGBT在每一个开通/关断周期的开通状态集电极-发射极的饱和开态电压Vce-oni、关断状态T时间段内集电极的拖尾电流和栅极的漏电流并将m个开通/关断周期内所采集的检测数据组成检测数据矩阵其中i＝1,2…m，m≥2，ti表示第i个开通/关断周期采集数据的时间点；
(2)计算的拟合系数和的拟合系数：
(2a)构建指数模型f1i(t)＝exp(P1(i)t3+P2(i)t2+P3(i)t+P4(i))和指数模型其中P1(i)、P2(i)、P3(i)和P4(i)分别为f1i(t)的系数，G1(i)、G2(i)、G3(i)和G4(i)为的系数，exp(·)为以自然常数e为底的指数；
(2b)通过f1i(t)对进行拟合，得到P1(i)、P2(i)、P3(i)和P4(i)的值，并将P1(i)作为拖尾电流的拟合系数，同时通过对进行拟合，得到G1(i)、G2(i)、G3(i)和G4(i)的值，并将G4(i)作为漏电流的拟合系数，然后对P1(i)和G4(i)进行备份；
(3)构建IGBT的特征矩阵Xm×3：
对检测数据矩阵Sm×3内m个开通/关断周期的饱和开态电压，以及拖尾电流的拟合系数的备份数据和栅极的漏电流的拟合系数的备份数据进行合并，得到IGBT的特征矩阵Xm×3：



(4)对特征矩阵Xm×3进行核主成分分析：
采用核主成分分析算法对特征矩阵Xm×3进行核主成分分析，得到核主成分矩阵Zm×p及贡献率矩阵L1×p为：
Zm×p＝[Z1,…,Zj,…,Zp]
L1×p＝[l1,…,lj,…,lp]
其中，为第j个核主成分，lj为第j个核主成分的贡献率，j＝1,2…p，p为核主成分个数；
(5)构建样本集和健康样本集；
构建样本集同时构建健康样本集其中为核主成分矩阵Zm×p的第i行元素构成的样本，为第j个核主成分的前n个元素构成的健康...

【专利技术属性】
技术研发人员：游海龙，胡金宝，张金力，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61