专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
西安电子科技大学
>
一种IGBT性能退化特征参数的提取方法技术
>技术资料下载
下载一种IGBT性能退化特征参数的提取方法的技术资料
文档序号:24250636
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提出了一种IGBT性能退化特征参数的提取方法,旨在提高对IGBT退化在线监测的精度,实现步骤为:(1)采集IGBT性能退化的检测数据;(2)计算拖尾电流的拟合系数和栅极漏电流的拟合系数;(3)构建IGBT的特征矩阵;(4)对特征矩阵进...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。