多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备技术方案

本发明专利技术公开了一种多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备，其中，一种多通道PID整定性能测试的方法包括获取各通道PID的参数和指令；根据各通道PID的参数和指令，对被控对象的待测量进行整定；获取各通道PID的测试结果。本发明专利技术通过构建一种多通道PID整定性能测试的系统和设备，搭建多通道PID整定性能测试环境，对比测试多通道PID的整定性能，并根据多个实际用例的测试，证明了EPID的整定性能要优于PID。

Method, system and equipment of multi-channel PID tuning performance test

【技术实现步骤摘要】
多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备
本专利技术涉及比例积分微分(PID)测试领域，尤其是涉及一种多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备。
技术介绍
在工程实际中，应用最为广泛的调节器控制规律为比例、积分、微分控制，简称PID控制。PID控制器以其结构简单、稳定性好、工作可靠、调整方便而成为工业控制的主要技术之一。PID控制器就是根据系统的误差，利用比例、积分、微分计算出控制量进行控制的。现有技术对PID的测试主要集中在单一通道PID的参数整定，通常采用时域测试法和频域测试法，侧重对幅频和相频特性等参数的测试。然而如何高效地测定多通道PID的整定效果，是目前待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种多通道PID整定性能测试方法，能够同时测试多通道PID的整定性能，比较各通道PID控制器的控制性能，进而选取出调控性能更好的控制方法。本专利技术还提出一种多通道PID整定性能测试系统。本专利技术还提出一种多通道PID整定性能测试设备。第一方面，本专利技术的一个实施例提供了一种多通道PID整定性能测试方法，包括：获取各通道PID的参数和指令；根据各通道PID的参数和指令，对被控对象的待测量进行整定；获取各通道PID的测试结果。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试方法至少具有如下有益效果：1.能够同时测试多通道PID的整定性能，从而方便比较各通道PID的整定效果；2.通过比较各通道PID的整定性能测试结果，能够选取出调控性能更好的控制方法。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试方法，多通道包括至少一个PID通道和至少一个增强型比例积分微分(EPID)通道。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试方法，能够同时测试PID和EPID的整定性能，比较PID控制器和EPID控制器的控制性能，进而选取出调控性能更好的控制方法。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试方法，根据各通道PID的参数和指令，对被控对象的待测量进行整定，包括：获取待测量的电信号；根据各通道PID的参数和指令，启动测试；控制各通道的断开和闭合，以调节待测量的电信号；将待测量的电信号稳定在目标范围内，停止测试。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试方法，各通道能够独立地对被控对象的待测量进行整定，从而能够同时测试多通道PID的整定性能。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试方法，获取待测量的电信号，包括：通过传感装置感应待测量的变化，将待测量的变化转换成电信号输出。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试方法，通过传感装置将待测量的变化转换成电信号输出，从而能够实现对被控对象的待测量进行整定。第二方面，本专利技术的一个实施例提供了一种多通道PID整定性能测试系统，包括执行模块和控制模块，控制模块用于获取各通道PID的参数和指令，并获取各通道PID的测试结果；执行模块用于根据各通道PID的参数和指令，对被控对象的待测量进行整定。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试系统至少具有如下有益效果：1.能够同时测试多通道PID的整定性能，从而方便比较各通道PID的整定效果，提高了测试效率；2.测试装置简易，降低了测试成本。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，控制模块包括一体机，一体机用于获取多通道PID的参数和指令，控制执行模块对被控对象的待测量进行整定，及获取各通道PID的测试结果。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，通过一体机实现对执行模块的控制，从而能够控制整定测试的过程，且一体机集成各通道，能够实现同时测试多通道PID的整定性能，从而提高了测试效率。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，一体机包括可编程逻辑控制器(PLC)和显示器，可编程逻辑控制器用于获取多通道PID的指令，控制指令的执行，及获取各通道PID的测试结果；显示器用于获取和显示多通道PID的参数。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，通过在一体机中集成可编程逻辑控制器(PLC)和显示器，既能实现对整定测试过程的控制，又能通过显示器直观地显示预设的各通道PID的参数，从而方便调节各通道PID的参数，提高了测试效率。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，显示器包括至少一个显示界面，显示界面还能显示各通道PID的测试结果。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，能够通过显示界面显示各通道PID的预设参数和测试结果，而无需外接数据采集装置，能够更快速、更高效地完成对被控对象的待测量的整定过程，提高了测试效率。根据本专利技术的另一些实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，执行模块包括各通道的继电器，继电器根据控制模块的输出指令完成断开和闭合动作。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试系统，通过继电器控制各通道的断开和闭合，通过控制模块的输出指令控制继电器的上电和断电，从而实现控制模块对整定测试过程的控制。第三方面，本专利技术的一个实施例提供了一种多通道PID整定性能测试设备，包括：至少一个处理器，以及，与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行本专利技术实施例中一些具体实施例的一种多通道PID整定性能测试方法。本专利技术实施例的一种多通道PID整定性能测试设备至少具有如下有益效果：1.能够同时测试多通道PID的整定性能，从而方便比较各通道PID的整定效果；2.通过比较各通道PID的整定性能测试结果，能够选取出调控性能更好的控制方法；3.通过设备处理器执行多通道PID整定性能测试方法，适用性广，降低了测试成本。附图说明图1是本专利技术实施例中一种多通道PID整定性能测试方法的一具体实施例的流程示意图；图2是本专利技术实施例中一种多通道PID整定性能测试方法的另一具体实施例的流程示意图；图3是本专利技术实施例中一种多通道PID整定性能测试系统的一具体实施例的结构示意图；图4是基于图3的一种多通道PID整定性能测试系统的一具体实施例的一体机屏端组态图；图5是基于图3的一种多通道PID整定性能测试系统的一具体实施例的PLC梯形图；图6是本专利技术实施例中一种多通道PID整定性能测试系统的一具体实施例的测试结果示意图；图7是本专利技术实施例中一种多通道PID整定性能测试系统的另一具体实施例的测试结果示意图。具体实施方式以下将结合实施例对本专利技术的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本专利技术的目的、特征和效果。显然，所描本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多通道PID整定性能测试方法，其特征在于，包括：/n获取各通道PID的参数和指令；/n根据所述参数和所述指令，对被控对象的待测量进行整定；/n获取各通道PID的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种多通道PID整定性能测试方法，其特征在于，包括：
获取各通道PID的参数和指令；
根据所述参数和所述指令，对被控对象的待测量进行整定；
获取各通道PID的测试结果。


2.根据权利要求1所述的一种多通道PID整定性能测试方法，其特征在于，所述多通道包括至少一个PID通道和至少一个EPID通道。


3.根据权利要求1或2所述的一种多通道PID整定性能测试方法，其特征在于，所述根据所述参数和所述指令，对被控对象的待测量进行整定，包括：
获取所述待测量的电信号；
根据所述参数和所述指令，启动测试；
控制所述各通道的断开和闭合，以调节所述待测量的电信号；
将所述待测量的电信号稳定在目标范围内，停止测试。


4.根据权利要求3所述的一种多通道PID整定性能测试方法，其特征在于，所述获取所述待测量的电信号，包括：
通过传感装置感应所述待测量的变化，将所述待测量的变化转换成电信号输出。


5.一种多通道PID整定性能测试系统，其特征在于，包括控制模块和执行模块，所述控制模块用于获取各通道PID的参数和指令，并获取各通道PID的测试结果；
所述执行模块用于根据所述参数和所述指令，对被控对象的待测量进行整定。


6.根据权利要求5所述的一种多...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋斌，魏先峰，
申请(专利权)人：深圳市显控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44