一种形貌扫描方法及系统技术方案

本申请公开了一种形貌方法及装置，用以实现复杂区域扫描，克服单一的圆形、矩形区域扫描对扫描任务带来的制约限制，完成自定义非规则的凸多边形区域遍历，包括：确定待扫描区域；将所述待扫描区域划分为N边形；将所述N边形分割为S个分割区域；对所述S个分割区域进行形貌扫描。本实施例还提供了一种形貌扫描装置。通过本实施例的方法，将待扫描区域进行分割，再分别对每个分割区域进行扫描，解决了三维形貌测量仪对复杂区域扫描测量问题，提高了扫描测量效率，提高了稳定性和可靠性。

A method and system of scanning topography

【技术实现步骤摘要】
一种形貌扫描方法及系统
本申请涉及探测领域，尤其涉及三维形貌扫描方法及装置。
技术介绍
区域遍历指的是给定待扫描区域，然后规划路径，依次完成整个区域的遍历扫描。区域遍历有很多实现方法和途径，不同的应用场合对遍历区域的要求也不尽相同。常规的区域遍历是规则的，如圆形、矩形、正方形、三角形等区域遍历，但是这些遍历区域有一定的限制，在一些特殊的应用场合不能很好的完成预期的工作任务。
技术实现思路
针对上述技术问题，本申请实施例提供了一种形貌扫描方法及装置，用以实现复杂区域扫描，克服单一的圆形、矩形区域扫描对扫描任务带来的制约限制，完成自定义非规则的凸多边形区域遍历。第一方面，本专利技术实施例提供了一种形貌扫描方法，包括：确定待扫描区域；将所述待扫描区域划分为N边形；将所述N边形分割为S个分割区域；对所述S个分割区域进行形貌扫描；其中，所述N边形的任意一个内角小于180度，N是大于等于3的正整数，S小于等于N-1。进一步的，将所述待扫描区域划分为N边形，具体包括：将所述待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种形貌扫描方法，其特征在于，该方法包括：/n确定待扫描区域；/n将所述待扫描区域划分为N边形；/n将所述N边形分割为S个分割区域；/n对所述S个分割区域进行形貌扫描；/n其中，所述N边形的任意一个内角小于180度，N是大于等于3的正整数，S小于等于N-1。/n

【技术特征摘要】
1.一种形貌扫描方法，其特征在于，该方法包括：
确定待扫描区域；
将所述待扫描区域划分为N边形；
将所述N边形分割为S个分割区域；
对所述S个分割区域进行形貌扫描；
其中，所述N边形的任意一个内角小于180度，N是大于等于3的正整数，S小于等于N-1。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待扫描区域划分为N边形，具体包括：
将所述待扫描区域转换为数学坐标；
在所述数学坐标上将所述待扫描区域划分为N边形；
其中，所述数学坐标的原点是扫描系统的初始化零点。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述N边形分割为S个分割区域，具体包括：
以所述N边形的每个顶点的横坐标为分割界限，将所述N边形区域沿纵坐标方向分割为S个分割区域；
其中，所述S个分割区域从左到右编号为1到S，且第1个分割区域和第S个分割区域为三角形，其他分割区域为梯形。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，包括：
所述S个分割区域的顶点坐标为(ai,bi)；
所述顶点坐标(ai,bi)在所述N边形上，从最左边的顶点开始，沿顺时针方向，i的编号从1开始依次增加1，i的值为1到2Q，Q＝S+1；
其中，(a1,b1)和(a2Q,b2Q)重叠，均为最左边的顶点；(aQ,bQ)和(aQ+1,bQ+1)重叠，均为最右边的顶点。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述S个分割区域进行形貌扫描，具体包括：
从最左边的的第1个分割区域开始，从左到右依次对所述S个分割区域分别进行形貌扫描。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述从左到右依次对所述S个分割区域分别进行形貌扫描，具体包括：
对每个分割区域，按照以下步骤进行形貌扫描：
以每个所述分割区域最左端的坐标为起点，若最左端有两个坐标，则以纵坐标值小的顶点为起点；
横坐标向右步进一次，向上扫描；
若扫描至所述分割区域的上边界，判断所述分割区域是否扫描完毕，若扫描完毕则结束所述分割区域扫描，并开始下一个分割区域扫描；若所述分割区域未扫描完毕，则横坐标向右步进一次，向下扫描；
若扫描至所述分割区域的下边界，判断所述分割区域是否扫描完毕，若扫描完毕则结束所述分割区域扫描，并开始下一个分割区域扫描；若所述分割区域未扫描完毕，则横坐标向右步进一次，向上扫描；
其中，所述向右步进...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭力振，宋金城，刘柯，朱浩，袁媛，
申请(专利权)人：北京航天计量测试技术研究所，中国运载火箭技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11