通过灰度图像测量锡球高度的方法技术

技术编号:24201400 阅读:61 留言:0更新日期:2020-05-20 12:53
本发明专利技术公开了一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,通过主动三维传感器获取PCB板表面的高度数据,再将获取的高度数据转化为灰度值,得到灰度图像;再利用阈值分割的方法从所述灰度图像中提取锡球的区域;然后确定锡球的质心坐标,并根据锡球的质心坐标反推锡球的高度数据。本发明专利技术通过将高度数据转换为灰度图像,降低了分析和处理数据的难度,直观地将高度数据以图像的形式表现出来,极大地提高了锡球高度数据测量的效率;且本发明专利技术的测高方法可以应用于表面不规则的物体,且不受噪声干扰的影响,检测精度更高。

The method of measuring the height of solder ball by gray image

【技术实现步骤摘要】
通过灰度图像测量锡球高度的方法
本专利技术属于机器视觉检测
,具体是一种通过灰度图像测量锡球高度的方法。
技术介绍
物体高度测量方式大体上可分为接触式和非接触式,传统的接触式测量方法发展已有几十年历史,其机械结构及电子系统已经相当成熟。三坐标测量机和接触式粗糙轮廓仪是接触式三维测量的典型代表,其原理是用采样头的探针接触模型表面,采集相邻的轮廓点数据,最后构筑整个表面的线框模型。接触式测量方法具有较高的准确性和可靠性,但也存在以下缺点:(1)测量时测量头与被测物之间有接触压力,它不适合测量柔性物体,而且对测量头无法触及的表面没有很好的测量效果;另外不当的操作容易损伤被测物体的表面,特别是高精度表面,同时也会使测量头磨损;(2)测量头本身的半径以及接触测量时被测物体受到测量头挤压发生局部形变会影响测量的精度;(3)接触式测量是以逐点扫描的方式进行测量的,所以测量速度慢,尤其在测量较大物体时,非常耗时;(4)由于测量机的机械结构复杂,对工作环境要求很高,必须防震、防灰、恒温等,使其应用范围收到一些限制。非本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1,通过主动三维传感器获取PCB板表面的高度数据;/nS2,将获取的高度数据转换为灰度图像;/nS3,从所述灰度图像中提取锡球的区域;/nS4,确定每颗锡球的灰度质心坐标;/nS5,根据高度数据与灰度图像的转换规则,反推每个灰度质心坐标对应的高度数据,即得到每颗锡球的高度数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,通过主动三维传感器获取PCB板表面的高度数据;
S2,将获取的高度数据转换为灰度图像;
S3,从所述灰度图像中提取锡球的区域;
S4,确定每颗锡球的灰度质心坐标;
S5,根据高度数据与灰度图像的转换规则,反推每个灰度质心坐标对应的高度数据,即得到每颗锡球的高度数据。


2.根据权利要求1所述的一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,其特征在于,步骤S1中,所述主动三维传感器包括:同轴的白光共焦传感器、三维位移平台和转接板;所述白光共焦传感器通过转接板安装在三维位移平台上;所述白光共焦传感器为线扫激光,每条线上共有m个光斑,该m个光斑对应在三维位移平台的Y轴上;所述白光共焦传感器的横向采样数量为n个,该n个采样点对应在三维位移平台的X轴上,即所述白光共焦传感器一次扫描获取mn个采样点。


3.根据权利要求1所述的一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,其特征在于,步骤S2中,将获取的高度数据转换为灰度图像的方法为:从步骤S1获取的高度数据中遍...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴巍路清彦王雪辉
申请(专利权)人:武汉华工激光工程有限责任公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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