一种介质滤波器激光调试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种介质滤波器激光调试机构，包括激光打标机、工作台以及用于夹持介质滤波器的治具，工作台上固定有竖向支架，竖向支架上固定有Z轴直线运动机构，激光打标机沿Y轴方向固定于Z轴直线运动机构的直线运动件上；还包括X轴转台、Z轴转台、第一U型支架以及位于第一U型支架内的第二U型支架，第一U型支架安装于工作台上，X轴转台固定于第一U型支架的一端内壁，第一U型支架的另一端与第二U型支架的一端可转动地连接，第二U型支架的另一端与X轴转台的输出端固定连接，Z轴转台固定于第二U型支架内，治具固定于Z轴转台的输出端上。本实用新型专利技术实现被调介质滤波器的孔洞等位置无死角调试，有效提升介质滤波器产品合格率。

A laser debugging mechanism for dielectric filter

【技术实现步骤摘要】
一种介质滤波器激光调试机构
本技术涉及介质滤波器调试
，具体涉及一种介质滤波器激光调试机构。
技术介绍
介质(陶瓷)滤波器使用特定性能的介质材料，通过特定工艺制作成指定形状，并通过表面镀银，在陶瓷表面形成微波/射频信号的封闭腔体，实现微波滤波器功能。由于尺寸/材料加工误差等因素，制作完成的滤波器需要通过调试才能完全满足性能指标，调试的方法为：去除滤波器特定区域的表面镀银。主要去除镀银的方式为打磨和激光，而激光去除在加工精度和加工效率方面都要优于打磨方式。目前用于介质滤波器调试用的激光调试装置主要采用激光打标机发出的激光经过其内X轴振镜和Y轴振镜位移调校，结合Z轴直线运动机构升降激光打标机，并配合X轴转台和/或Y轴转台旋转待调试介质滤波器进行。其中，通过激光打标机发出的激光经过其内X轴振镜和Y轴振镜位移调校，结合Z轴直线运动机构升降激光打标机，配合X轴转台/Y轴转台旋转调试介质滤波器的方案，介质滤波器存在部分需要调试的区域(弧面/斜面/孔洞)被遮挡，激光无法到达的情况，调试效果较差，介质滤波器产品合格率较低；而通过激光打标机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种介质滤波器激光调试机构，包括激光打标机(3)、工作台(1)以及用于夹持介质滤波器(10)的治具(5)，所述工作台(1)上固定有竖向支架(2)，所述竖向支架(2)上固定有Z轴直线运动机构(4)，所述激光打标机(3)沿Y轴方向固定于所述Z轴直线运动机构(4)的直线运动件上；其特征在于：还包括X轴转台(9)、Z轴转台(8)、第一U型支架(6)以及位于所述第一U型支架(6)内的第二U型支架(7)，所述第一U型支架(6)安装于所述工作台(1)上，所述X轴转台(9)固定于所述第一U型支架(6)的一端内壁，所述第一U型支架(6)的另一端与第二U型支架(7)的一端可转动地连接，所述第二U型支架(7)的...

【技术特征摘要】
1.一种介质滤波器激光调试机构，包括激光打标机(3)、工作台(1)以及用于夹持介质滤波器(10)的治具(5)，所述工作台(1)上固定有竖向支架(2)，所述竖向支架(2)上固定有Z轴直线运动机构(4)，所述激光打标机(3)沿Y轴方向固定于所述Z轴直线运动机构(4)的直线运动件上；其特征在于：还包括X轴转台(9)、Z轴转台(8)、第一U型支架(6)以及位于所述第一U型支架(6)内的第二U型支架(7)，所述第一U型支架(6)安装于所述工作台(1)上，所述X轴转台(9)固定于所述第一U型支架(6)的一端内壁，所述第一U型支架(6)的另一端与第二U型支架(7)的一端可转动地连接，所述第二U型支架(7)的另一端与所述X轴转台(9)的输出端固定连接，所述Z轴转台(8)固定于所述第二U型支架(7)内，所述治具(5)固定于所述Z轴转台(8)的输出端上，并位于所述激光打标机(3)的工作范围内。


2.根据权利要求1所述的一种介质滤波器激光调试机构，其特征在于：所述第一U型支架(6)与第二U型支架(7)连接的端部通过转轴(11)可转动地连接。


3.根据权利要求1所述的一种介质滤波器激光调试机构，其特征在于：所述X轴转台(9)通过螺栓与所述第一U型支架(6)相应端部内壁固定连接。


4.根据权利要求1所述的一种介质滤波器激光调试机构，其特征在于：所述Y轴转台通过螺栓与所述第二U型支架...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晨阳，
申请(专利权)人：苏州煦光智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32