【技术实现步骤摘要】
一种交直流电压或电流测量电路
本技术涉及电压或电流测量电路
,更具体的说是涉及一种交直流电压或电流测量电路。
技术介绍
随着半导体技术的进步,电子器件日益趋于小尺寸化,其输入和输出电流或电压也随之变得更加细微。此外,各种基于新材料或新架构的电子器件也不断出现,对它们的测试可能要求较高的时间精度以确定其性能或特性。而现有的电子器件测试系统已无法满足测试所要求的高电流或电压精度以及高时间精度。现有的技术无论是单独的源表系统、还是将源表和负载电阻的并联电路与示波器相结合的方法,都无法同时实现电流/电压和时间信号的高精度测量。然而,随着半导体技术的发展,特别是新材料新架构的电子器件,对高电流/电压和时间精度的测试系统的需求是极为迫切的。因此,如何提供一种交直流电压或电流测量电路为了本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本技术提供了一种交直流电压或电流测量电路,可对单极性或双极性信号的有效测量,能够实现交流信号的平均值法测量或有效值法测量及直流单双极性信的平均值测量及极性显示。< ...
【技术保护点】
1.一种交直流电压或电流测量电路,其特征在于,包括:信号放大电路、信号整流电路、极性及频率测量电路和单片机系统电路;所述信号放大电路的输出端分别与信号整流电路和极性及频率测量电路相连;所述信号整流电路和所述极性及频率测量电路的输出端均与所述单片机系统电路相连。/n
【技术特征摘要】
1.一种交直流电压或电流测量电路,其特征在于,包括:信号放大电路、信号整流电路、极性及频率测量电路和单片机系统电路;所述信号放大电路的输出端分别与信号整流电路和极性及频率测量电路相连;所述信号整流电路和所述极性及频率测量电路的输出端均与所述单片机系统电路相连。
2.根据权利要求1所述的一种交直流电压或电流测量电路,其特征在于,所述信号放大电路包括运算放大器IC2、电阻13、电阻R12、电阻R14、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R4、电阻R6和电阻R7;输入信号IN1通过电阻R4,再分别通过R8、串接的R6、R10、串接的R7、R11后,通过电阻R13与运算放大器IC2的3端口相连;输入信号IN2依次通过电阻R9,并联的电阻R6、电阻R7,电阻R8,电阻R13与运算放大器IC2的3端口相连,且输入信号IN2依次通过电阻R9,并联的电阻R10、电阻R11,电阻R12,电阻R13与运算放大器IC2的3端口相连;输入信号IN3依次通过电阻R14,电阻R12,电阻R13与运算放大器IC2的3端口相连;运算放大器IC2的7端口、4端口分别与工作电源的正极、负极相连。
3.根据权利要求2所述的一种交直流电压或电流测量电路,其特征在于,所述信号放大电路还包括并联的电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19,并联的电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19一端依次通过电阻R12、电阻R13与运算放大器的3端口相连,另一端接地。
4.根据权利要求2或3所述的一种交直流电压或电流测量电路,其特征在于,所述信号放大电路还包括电阻R3、电阻R1和电容C1,运算放大器IC2的2端口通过电阻R3接地,且运算放大器IC2的2端口通过并联的电阻R1、电容C1与运算放大器IC2的6端口相连。
5.根据权利要求4所述的一种交直流电压或电流测量电路,其特征在于,所述信号整流电路包括双运算放大器IC4、电阻R25、电阻R26、电阻R23、电阻R29、二极管D8、二极管D9、电阻R28、电阻R30、电阻R32和电容C23;运算放大器IC2的6端口分别通过电阻R25与双运算放大器IC4的2端口相连,通过电阻R26与双运算放大器IC4的6端口相连;双运算放大器IC4的2端口与6端口通过电阻R23相连,芯片且IC4的2端口通过二极管D8与双运算放大器IC4的1端口相连,双运算放大器IC4的1端口依次通过二极管D9、电阻R29与双运算放大器IC4的6端口相连;双运算放大器IC4的6端口通过并联的电阻...
【专利技术属性】
技术研发人员:周松明,刘和燕,徐顺荣,
申请(专利权)人:广东东崎电气有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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