触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及触摸屏检测设备领域，公开了一种触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备，包括置物台、画面缺陷检测装置及TP检测装置，画面缺陷检测装置包括光源组件、屏幕点亮组件及成像组件，光源组件朝向容置区设置，屏幕点亮组件包括图像信号发生器及导电探针，图像信号发生器与导电探针电连接，导电探针用于与触摸屏产品的金手指电连接，成像组件朝向容置区设置，成像组件与图像处理主板电连接；TP检测装置包括TP检测主板及检测探针，TP检测主板与检测探针电连接，检测探针用于与触摸屏产品的金手指电连接。本实用新型专利技术能够实现对触摸屏画面缺陷及电学性能的共同检测，从而提高生产效率及减少设备占地面积。

Touch screen picture defect and electrical performance testing equipment

【技术实现步骤摘要】
触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备
本技术涉及触摸屏检测设备领域，特别是涉及一种触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备。
技术介绍
为了保证触摸屏生产制造中的可靠性和一致性，实现高标准大规模制造中的品质控制，需要对触摸屏进行一系列的检测。传统触摸屏检测主要集中在两方面，分别是触摸屏画面缺陷检测及触摸屏电学性能检测。其中，触摸屏画面缺陷检测主要是为了检测显示屏的画面电测，包括点类、线类、MURA类、影像类、贴合异物、灰尘及功能类瑕疵，触摸屏电学性能检测主要是为了检测触摸屏的电容、电压、电流等电学性能。原有触摸屏生产流程中，触摸屏画面缺陷检测为单独检测工段，触摸屏电学性能检测为另外一个检测工段，当需要进行这两个工段检测时，需要两套设备依次进行检测，导致触摸屏生产效率低以及检测设备占地面积较大的问题。而且，现有触摸屏画面缺陷检测设备是在触摸屏处于“不通电不点亮”状态下，利用光源照射触摸屏，通过相机拍摄采集图像至图像处理主板，由图像处理主板进行图像算法处理，来检出灰尘，由于触摸屏表面灰尘及内部贴合异物被光源照射后都会“泛白”，如图3所示，图中表本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备，其特征在于，包括：/n置物台，所述置物台上设置有容置区，所述容置区用于容置触摸屏产品；/n画面缺陷检测装置，所述画面缺陷检测装置包括光源组件、屏幕点亮组件及成像组件，所述光源组件朝向所述容置区设置，所述光源组件用于发出的光束与所述触摸屏产品所在平面形成夹角，所述屏幕点亮组件包括图像信号发生器及导电探针，所述导电探针设置于所述容置区的一侧，所述图像信号发生器与所述导电探针电连接，所述导电探针用于与所述触摸屏产品的金手指电连接，所述成像组件朝向所述容置区设置；及/nTP检测装置，所述TP检测装置包括TP检测主板及检测探针，所述检测探针设置于所述容置区的一侧...

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备，其特征在于，包括：
置物台，所述置物台上设置有容置区，所述容置区用于容置触摸屏产品；
画面缺陷检测装置，所述画面缺陷检测装置包括光源组件、屏幕点亮组件及成像组件，所述光源组件朝向所述容置区设置，所述光源组件用于发出的光束与所述触摸屏产品所在平面形成夹角，所述屏幕点亮组件包括图像信号发生器及导电探针，所述导电探针设置于所述容置区的一侧，所述图像信号发生器与所述导电探针电连接，所述导电探针用于与所述触摸屏产品的金手指电连接，所述成像组件朝向所述容置区设置；及
TP检测装置，所述TP检测装置包括TP检测主板及检测探针，所述检测探针设置于所述容置区的一侧，所述TP检测主板与所述检测探针电连接，所述检测探针用于与所述触摸屏产品的金手指电连接。


2.根据权利要求1所述的触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备，其特征在于，所述光源组件包括光源灯、调角组件及位移组件，所述光源灯设置于所述容置区的一侧上方，所述调角组件与所述光源灯连接，所述调角组件用于调节所述光源灯发出的光束的角度，以使所述光源灯发出的光束与所述触摸屏产品所在平面形成所述夹角，所述位移组件与所述光源灯连接，所述位移组件用于改变所述光源灯的位置。


3.根据权利要求2所述的触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备，其特征在于，所述调角组件包括铰接基座及旋转电机，所述光源灯的两端分别与所述铰接基座的两侧铰接，所述旋转电机安装在所述铰接基座上，所述旋转电机与所述光源灯连接，所述旋转电机用于带动所述光源灯做旋转运动。


4.根据权利要求2所述的触摸屏画面缺陷及电学性能检测设备，其特征在于，所述位移组件包括横向运动组件及升降运动组件，所述横向运动组件与所述光源灯连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨铠康，华成，余凌云，曹寿盛，
申请(专利权)人：惠州旭鑫智能技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44