【技术实现步骤摘要】
一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室
本专利技术涉及电磁测试
，具体为一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室。
技术介绍
现有方法通常采用TEM小室法进行集成电路的电磁兼容测试，其测试频率受工艺技术等原因的限制只能测试到3GHz；现有的TEM小室测试方法由于是将被测品放到小室内部测试，对集成电路等电路板的小型被测品的供电、摆放、测试位置等都无法有效的确定；现有的测试方法对集成电路的电磁兼容测试方法没有明确的规定测试方法，也没有专门的测试设备和环境。为此，我们提出一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，以解决上述
技术介绍
中提出集成电路的电磁兼容测试测试受工艺限制、测试位置等都无法有效的确定与没有明确的规定测试方法和没有专门的测试设备和环境的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，包括底部托...
【技术保护点】
1.一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，包括底部托架(1)，其特征在于：所述底部托架(1)的顶部固定连接有底部盖板(2)，所述底部盖板(2)顶部的前后两端均固定连接有侧板(3)，两个侧板(3)之间的顶部固定连接有顶部盖板(4)，两个侧板(3)的后端固定连接有后部盖板(5)，所述底部盖板(2)顶部前端的侧板(3)的靠左侧位置通过合页固定安装有屏蔽门(6)，所述顶部盖板(4)的靠中间位置放置有限位芯板(8)，所述限位芯板(8)的底端与底部盖板(2)固定连接，所述侧板(3)的顶部固定安装有开窗(11)，且侧板(3)的顶部对应开窗(11)的靠四角位置均设置有固定开关...
【技术特征摘要】
1.一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室，包括底部托架(1)，其特征在于：所述底部托架(1)的顶部固定连接有底部盖板(2)，所述底部盖板(2)顶部的前后两端均固定连接有侧板(3)，两个侧板(3)之间的顶部固定连接有顶部盖板(4)，两个侧板(3)的后端固定连接有后部盖板(5)，所述底部盖板(2)顶部前端的侧板(3)的靠左侧位置通过合页固定安装有屏蔽门(6)，所述顶部盖板(4)的靠中间位置放置有限位芯板(8)，所述限位芯板(8)的底端与底部盖板(2)固定连接，所述侧板(3)的顶部固定安装有开窗(11)，且侧板(3)的顶部对应开窗(11)的靠四角位置均设置有固定开关(12)，所述固定开关(12)包括安装块(15)，所述安装块(15)通过螺栓与顶部盖板(4)固定连接，且安装块(15)靠近开窗(11)的一端固定连接有连接块(16)，所述连接块(16)的活动连接有螺纹杆(17)，所述螺纹杆(17)的顶部固定连接有拧块(14)，所述螺纹杆(17)的底端固定连接有固定垫(18)，所述固定垫(18)的底端...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑益民，彭敏涛，陈俊，
申请(专利权)人：浙江诺益科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。