【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路测试的表面扫描装置
本专利技术涉及集成电路
，具体为一种用于集成电路测试的表面扫描装置。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。用于集成电路测试的表面扫描装置，主要是针对在集成电路电磁兼容测试中，在进行EMI辐射发射测试和EMS辐射抗扰度测试时，需要使用磁场或电场探头对集成电路表面进行辐射采样，或是向集成电路表面施加辐射干扰。在这一过程中，需要表面扫描装置，包含定位系统和探头两部分。传统的用...
【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试的表面扫描装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)顶部的靠中心位置固定安装有放置板(2)，所述放置板(2)的顶部设置有被测试设备本体(3)，所述被测试设备本体(3)的底部与放置板(2)的顶部接触，所述工作台(1)顶部的靠两侧位置均固定连接有支撑板(4)，两个支撑板(4)的顶部固定连接有顶板(5)，所述顶板(5)底部的靠中心位置活动安装有活动板(6)，所述活动板(6)底部的靠中心位置活动安装有扫描支架(7)，所述扫描支架(7)前表面的靠顶部位置固定安装有横板(8)，所述扫描支架(7)前表面的靠底部位置活动连接有旋转轴(9)，所述旋转轴(9)...
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试的表面扫描装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)顶部的靠中心位置固定安装有放置板(2)，所述放置板(2)的顶部设置有被测试设备本体(3)，所述被测试设备本体(3)的底部与放置板(2)的顶部接触，所述工作台(1)顶部的靠两侧位置均固定连接有支撑板(4)，两个支撑板(4)的顶部固定连接有顶板(5)，所述顶板(5)底部的靠中心位置活动安装有活动板(6)，所述活动板(6)底部的靠中心位置活动安装有扫描支架(7)，所述扫描支架(7)前表面的靠顶部位置固定安装有横板(8)，所述扫描支架(7)前表面的靠底部位置活动连接有旋转轴(9)，所述旋转轴(9)的前端固定安装有探头安装块(10)，所述探头安装块(10)的靠中心位置活动安装有探头(11)，所述探头(11)通过信号连接有探头适配器，探头适配器位于工作台(1)的后端，所述工作台(1)的底部固定连接有底座...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑益民，王逸晨，方旭，
申请(专利权)人：浙江诺益科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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