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一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室制造技术
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下载一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室的技术资料
文档序号:24086601
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本发明公开了一种适用于集成电路电磁兼容测试的开窗型GTEM小室,包括底部托架,所述底部托架的顶部固定连接有底部盖板,所述底部盖板顶部的前后两端均固定连接有侧板,两个侧板之间的顶部固定连接有顶部盖板,两个侧板的后端固定连接有后部盖板,所述底部...
该专利属于浙江诺益科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江诺益科技有限公司授权不得商用。
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