一种半导体制冷片温差测试装置制造方法及图纸

技术编号:24054199 阅读:224 留言:0更新日期:2020-05-07 12:17
本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷片温差测试装置,其包括:散热器、工作台、支架、制冷片固定座和双通道温度监控器,所述支架上设置有向下指向制冷片固定座的升降驱动装置,所述升降驱动装置底部设置有与制冷片固定座平行的压板,所述制冷片固定座顶面内凹设置有与半导体制冷片对应的卡槽,所述卡槽中及压板底面分别内凹设置有探头定位槽,所述双通道温度监控器含有分别设置在探头定位槽中的探头,所述探头定位槽中设置有对探头支撑的隔热弹性体,所述散热器设置在制冷片固定座的底部。本实用新型专利技术所述的半导体制冷片温差测试装置,提升了测试环境的稳定性和统一性,探头与半导体制冷片双面的接触比较稳定,提高了检测准确率。

A device for measuring temperature difference of semiconductor refrigeration sheet

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片温差测试装置
本技术涉及制冷片生产
,尤其涉及一种半导体制冷片温差测试装置。
技术介绍
半导体制冷片是一种由半导体所组成的冷却装置,利用半导体材料的特性,当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时,在电偶的两端分别吸收热量和放出热量,实现制冷的目的。半导体制冷片的体积通常比较小巧,可靠性比较高,可以应用在空间受到限制的场所。为了确保半导体制冷片的产品性能,需要在出厂前进行半导体制冷片温差测试。由于缺乏对应的检测设备,温差测试的准确率低,测试环境的稳定性和统一性差,需要改进。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体制冷片温差测试装置,提升温差测试时测试环境的稳定性和统一性,提高检测准确率和工作效率。为达此目的,本技术采用以下技术方案:一种半导体制冷片温差测试装置,包括:散热器、工作台、支架、制冷片固定座和双通道温度监控器,所述制冷片固定座设置在工作台上,所述支架设置在工作台上并位于制冷片固定座一侧,所述支架上设置有向下指向制冷片固定座的升降驱动装置,所述升降驱动装置底部设置有与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体制冷片温差测试装置,用于半导体制冷片的双面温差测试,其特征在于,包括:散热器、工作台、支架、制冷片固定座和双通道温度监控器,所述制冷片固定座设置在工作台上,所述支架设置在工作台上并位于制冷片固定座一侧,所述支架上设置有向下指向制冷片固定座的升降驱动装置,所述升降驱动装置底部设置有与制冷片固定座平行的压板,所述制冷片固定座顶面内凹设置有与半导体制冷片对应的卡槽,所述卡槽中及压板底面分别内凹设置有探头定位槽,所述双通道温度监控器含有分别设置在探头定位槽中的探头,所述探头定位槽中设置有对探头进行支撑的隔热弹性体,以使得探头表面突出在探头定位槽之外,所述散热器设置在制冷片固定座的底部。/...

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片温差测试装置,用于半导体制冷片的双面温差测试,其特征在于,包括:散热器、工作台、支架、制冷片固定座和双通道温度监控器,所述制冷片固定座设置在工作台上,所述支架设置在工作台上并位于制冷片固定座一侧,所述支架上设置有向下指向制冷片固定座的升降驱动装置,所述升降驱动装置底部设置有与制冷片固定座平行的压板,所述制冷片固定座顶面内凹设置有与半导体制冷片对应的卡槽,所述卡槽中及压板底面分别内凹设置有探头定位槽,所述双通道温度监控器含有分别设置在探头定位槽中的探头,所述探头定位槽中设置有对探头进行支撑的隔热弹性体,以使得探头表面突出在探头定位槽之外,所述散热器设置在制冷片固定座的底部。


2.根据权利要求1所述的半导体制冷片温差测试装置,其特征在于,所述升降驱动装置为快速夹、气缸或者电缸。


3.根据权利要求1所述的半导体制冷片温差测试装置,其特征在于,所述卡槽的深度小于半导体制冷片的厚度。


4.根据权利要求1所述的半导体制冷片温差测试装置,其特征在于,所述隔热弹性体为空心发泡塑料管。...

【专利技术属性】
技术研发人员:耿靳财祁奇徐越
申请(专利权)人:青云志能源科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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