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本实用新型公开了一种半导体制冷片温差测试装置，其包括：散热器、工作台、支架、制冷片固定座和双通道温度监控器，所述支架上设置有向下指向制冷片固定座的升降驱动装置，所述升降驱动装置底部设置有与制冷片固定座平行的压板，所述制冷片固定座顶面内凹设置...
该专利属于青云志能源科技(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青云志能源科技(苏州)有限公司授权不得商用。

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