一种二极管电性能检验测试装置制造方法及图纸

技术编号:24016989 阅读:43 留言:0更新日期:2020-05-02 03:46
本实用新型专利技术公开了一种二极管电性能检验测试装置,属于半导体封装测试设备领域。包括线路板,线路板上设有输入接线端、输出接线端和轴向产品测试柱,所述输入接线端连接测试夹,输出接线端连接测试仪,所述轴向产品测试柱和输出接线端采用电连接,轴向产品测试柱外围套设有保护座,所述保护座通过螺钉固定在线路板上;本实用新型专利技术可以同时测试轴向二极管产品、贴片产品和TO产品,提升了测试效率和准确性。

A device for testing the electrical properties of diodes

【技术实现步骤摘要】
一种二极管电性能检验测试装置
本技术属于半导体封装测试设备领域,具体涉及一种二极管电性能检验测试装置。
技术介绍
在半导体器件的封装测试生产过程中,制程品质控制中产品均需要进行电性能检测和分析。由于不同产品的外型不同,所用的测试夹具不同。一般贴片产品和TO产品通过测试夹连接到测试仪上进行检测,而轴向二极管产品则需要设置测试座连接另一个测试仪进行检测。这样既提高了设备成本,也影响了测试效率,而且采用不同检测仪检测还会影响到同批次产品检测的准确性。
技术实现思路
针对现有技术中缺陷与不足的问题,本技术提出了一种二极管电性能检验测试装置,可以同时测试轴向二极管产品、贴片产品和TO产品,提升了测试效率和准确性。本技术解决其技术问题所采用的技术方案为:一种二极管电性能检验测试装置,包括线路板,线路板上设有输入接线端、输出接线端和轴向产品测试柱,所述输入接线端连接测试夹,输出接线端连接测试仪,所述轴向产品测试柱和输出接线端采用电连接,轴向产品测试柱外围套设有保护座,所述保护座通过螺钉固定在线路板上。进一步的,所述轴向产品测试柱中间设有安装轴向二极管引脚的槽口。进一步的,所述线路板上位于轴向产品测试柱中间设有安装螺纹孔。进一步的,所述测试仪采用电性能测试仪。进一步的,所述保护座两端设有轴向产品测试柱的安装孔,中间设有定位沉孔。进一步的,所述保护座两端设有安装轴向二极管引脚的槽口,且槽口位置不高于轴向产品测试柱槽口位置。本技术具有如下有益效果:本技术将不同的测试夹具组装在一起,可以通过测试夹来检测贴片产品和TO产品,通过轴向产品测试柱来检测轴向二极管产品,这样只需要一台电性能测试仪即可,即节省了成本,同时提高了测试效率和准确性。附图说明图1为本技术结构示意图;图2为本技术线路板结构示意图;图3为本技术保护座俯视图;图4为本技术保护座主视图;图5为本技术轴向产品示意图;图6为本技术TO产品示意图;图7为本技术贴片产品示意图;图8为本技术轴向产品测试安装示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术的具体实施方式进行详细说明。如图1所示,一种二极管电性能检验测试装置,包括线路板1,线路板1上设有输入接线端2、输出接线端3和轴向产品测试柱5,所述输入接线端2连接测试夹4,输出接线端3连接测试仪7,所述轴向产品测试柱5和输出接线端3采用电连接,轴向产品测试柱5外围套设有保护座6,所述保护座6通过螺钉11固定在线路板1上。进一步的,所述轴向产品测试柱5中间设有安装轴向二极管引脚的槽口51,方便固定轴向二极管产品。进一步的,所述线路板1上位于轴向产品测试柱5中间设有安装螺纹孔12,方便保护座6拆装。进一步的,所述测试仪7采用电性能测试仪。进一步的,所述保护座6两端设有轴向产品测试柱5的安装孔61,中间设有定位沉孔62。进一步的,所述保护座6两端设有安装轴向二极管引脚的槽口63,且槽口63位置不高于轴向产品测试柱槽口51位置,以确保轴向二极管两侧引脚与轴向产品测试柱5接触。本技术通过测试夹来检测贴片产品和TO产品,通过轴向产品测试柱来检测轴向二极管产品,这样只需要一台电性能测试仪即可,即节省了成本,同时提高了测试效率和准确性。以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和本技术的优点。本技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理,在不脱离本技术精神和范围的前提下本技术还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本技术的范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二极管电性能检验测试装置,其特征在于为:包括线路板,线路板上设有输入接线端、输出接线端和轴向产品测试柱,所述输入接线端连接测试夹,输出接线端连接测试仪,所述轴向产品测试柱和输出接线端采用电连接,轴向产品测试柱外围套设有保护座,所述保护座通过螺钉固定在线路板上。/n

【技术特征摘要】
1.一种二极管电性能检验测试装置,其特征在于为:包括线路板,线路板上设有输入接线端、输出接线端和轴向产品测试柱,所述输入接线端连接测试夹,输出接线端连接测试仪,所述轴向产品测试柱和输出接线端采用电连接,轴向产品测试柱外围套设有保护座,所述保护座通过螺钉固定在线路板上。


2.如权利要求1所述的一种二极管电性能检验测试装置,其特征在于:所述轴向产品测试柱中间设有安装轴向二极管引脚的槽口。


3.如权利要求1所述的一种二极管电性能检验测试装置,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪良恩田长亮
申请(专利权)人:安徽安美半导体有限公司
类型:新型
国别省市:安徽;34

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