【技术实现步骤摘要】
基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法
本专利技术涉及一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法,属于光电探测
技术介绍
光电探测设备通过两轴内外框构型伺服控制系统完成视轴的指向控制,伺服控制系统由轴系、电机、测角元件、陀螺等组成,驱动电机带动内外框架运动,实现对视轴控制,指向精度是衡量伺服控制系统性能的主要指标。影响指向精度主要因素有轴系摩擦力矩、测角元件摩擦力矩、电机性能、陀螺性能,任何一个方面出现异常都能导致指向精度异常。传统测试方法通过建立光电闭环跟踪系统进行测试,光电探测设备安装在特定位置,用转台控制模拟目标源运动,进入跟踪模式,测量目标源偏离视场中心的图像偏差,这种测试方法占用大量的人力、物力及时间,效率较低。如果此时发现指向精度不达标,就会重新检测伺服控制系统各个部件是否满足要求,伺服控制系统比较复杂,关联因素较多,很难一次定位问题,需要多次测试,传统测试方法效率较低。
技术实现思路
要解决的技术问题为了避免现有技术的不足之处,本专利技术提出一种 ...
【技术保护点】
1.一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法,其特征在于步骤如下:/n步骤1:将角位置输入指令置成正弦信号;/n步骤2:实时采集当前角位置、角速度,运行控制算法PID计算电机驱动量,驱动伺服机构正弦运动,开始跟随指令信号;/n步骤3:实时计算当前角位置与输入指令的跟随误差,并进行存储;/n步骤4:运动三个周期后,对跟随误差进行标准差处理,得到测试结果;/n步骤5:将测试结果反馈给检测设备。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:将角位置输入指令置成正弦信号;
步骤2:实时采集当前角位置、角速度,运行控制算法PID计算电机驱动量,驱动伺服...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐志方,郑春艳,戴宁,谢青波,高军科,李莉,陈洪亮,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,
类型:发明
国别省市:河南;41
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。