全自动芯片推拉力测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了全自动芯片推拉力测试机，包括测试台和固定于测试台上表面的机架，所述机架上设置有推拉力测试组件；所述推拉力测试组件的正下方还设置有移动平台，所述移动平台包括底座、第一推拉件及第二推拉件，所述底座安装在测试台的上表面，所述第一推拉件设于底座上，所述底座和第一推拉件其中一个上设有第一滑轨，第一推拉件可沿第一滑轨方向相对底座移动；所述第二推拉件设于所述第一推拉件的上表面，所述第二推拉件和第一推拉件其中一个设有第二滑轨，第二推拉件可沿第二滑轨方向相对第一推拉件移动。本实用新型专利技术对芯片进行不同方向上的推拉力测试，提高测试的全面性。

Full automatic chip push pull tester

【技术实现步骤摘要】
全自动芯片推拉力测试机
本技术涉及电子器件测试领域，具体涉及全自动芯片推拉力测试机。
技术介绍
电子产品在我们的日常生活中越来越普及，例如手机，平板，导航仪，电子书，学习机等，在生产各类电子产品时，往往需要对电子产品中的芯片等进行推拉力测试。推拉力测试机是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是填补国内空白的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确、适用面广、测试精度高，适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。该设备无论测试精度、重复可靠性、操控性和外观设计。推拉力测试装置主要用于测试产品的推拉力，一般包括测试台、移动平台、推拉力测试组件、驱动装置、控制系统等，而传统的移动平台功能单一，芯片待测点的定位不够准确，更换待侧面时，操作麻烦，对芯片施加推拉力单一，无法全面测试芯片的可靠性或破坏性。
技术实现思路
r>本技术的目的在于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.全自动芯片推拉力测试机，其特征在于：包括测试台(1)和固定于测试台(1)上表面的机架(2)，所述机架(2)上设置有推拉力测试组件(3)；所述推拉力测试组件(3)的正下方还设置有移动平台，所述移动平台包括底座(4)、第一推拉件(5)及第二推拉件(6)，所述底座(4)安装在测试台(1)的上表面，所述第一推拉件(5)设于底座(4)上，所述底座(4)和第一推拉件(5)其中一个上设有第一滑轨(401)，其中另一个上开设有与所述第一滑轨(401)匹配的第一滑槽(501)，第一推拉件(5)可沿第一滑轨(401)方向相对底座(4)移动；所述第二推拉件(6)设于所述第一推拉件(5)的上表面，所述第二推拉件(...

【技术特征摘要】
1.全自动芯片推拉力测试机，其特征在于：包括测试台(1)和固定于测试台(1)上表面的机架(2)，所述机架(2)上设置有推拉力测试组件(3)；所述推拉力测试组件(3)的正下方还设置有移动平台，所述移动平台包括底座(4)、第一推拉件(5)及第二推拉件(6)，所述底座(4)安装在测试台(1)的上表面，所述第一推拉件(5)设于底座(4)上，所述底座(4)和第一推拉件(5)其中一个上设有第一滑轨(401)，其中另一个上开设有与所述第一滑轨(401)匹配的第一滑槽(501)，第一推拉件(5)可沿第一滑轨(401)方向相对底座(4)移动；所述第二推拉件(6)设于所述第一推拉件(5)的上表面，所述第二推拉件(6)和第一推拉件(5)其中一个设有第二滑轨(502)，其中另一个开设有与所述第二滑轨(502)匹配的第二滑槽(601)，第二推拉件(6)可沿第二滑轨(502)方向相对第一推拉件(5)移动，所述第二推拉件(6)远离第一推拉件(5)的一侧还设有用于固定载板的夹持件(7)，所述夹持件(7)与第二推拉件(6)转动连接；还包括设置在测试台(1)内用于推拉力测试组件(3)和移动平台的控制系统。


2.根据权利要求1所述的全自动芯片推拉力测试机，其特征在于：所述推...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋次为，
申请(专利权)人：成都汉芯国科集成技术有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51