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本实用新型公开了全自动芯片推拉力测试机,包括测试台和固定于测试台上表面的机架,所述机架上设置有推拉力测试组件;所述推拉力测试组件的正下方还设置有移动平台,所述移动平台包括底座、第一推拉件及第二推拉件,所述底座安装在测试台的上表面,所述第一推...该专利属于成都汉芯国科集成技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都汉芯国科集成技术有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开了全自动芯片推拉力测试机,包括测试台和固定于测试台上表面的机架,所述机架上设置有推拉力测试组件;所述推拉力测试组件的正下方还设置有移动平台,所述移动平台包括底座、第一推拉件及第二推拉件,所述底座安装在测试台的上表面,所述第一推...