一种Open Block测试装置、方法及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种Open Block测试装置、方法及系统，包括测试主机和至少一个测试板卡；测试板卡上设置有测试控制器、Nand Flash芯片、温控部件；所述Nand Flash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；测试控制器与测试主机通信。通过测试主机控制测试控制器对Nand Flash芯片进行读写，写入时，对Block的部分page进行读写，使Block处于Open状态，即Open Block。间隔一定时间再进行读取，计算Block的每个page的BER，最后分析出BER随时间的变化。提供Block在不同温度Open状态下BER随时间的变化趋势及规律，为Nand Flash控制器的实现及优化提供参考。

An open block testing device, method and system

【技术实现步骤摘要】
一种OpenBlock测试装置、方法及系统
本专利技术涉及NandFlash芯片测试领域，具体涉及NandFlash芯片的OpenBlock测试装置、方法及系统。
技术介绍
NandFlash具有容量大，读写速度快，价格相对低廉等优点，在一些嵌入式产品、U盘、特别是SSD中得到大量应用。但是NandFlash由于自身原理、制作工艺等存在一些固有的特性，如位反转、读干扰、写干扰等，所以写入NandFlash的数据，再读出来时会和写入的数据有一定差异，即BER(BitErrorRate，误码率)。BER在一定范围之内是可以接受的，实际使用中Nand控制程序会有一套完整的纠错校验机制，但是如果BER太高，超出了纠错模块的纠错能力，则保存的数据很有可能会失效，造成数据丢失。另外，在实际使用中一些使用场景会加速Nand一些特性的表现，造成BER升高，比如openblock，block在open状态下在很短的时间内可能BER就会升到很高，以至于校验失败，所以为了数据的安全，很有必要对openblock状态下BER的变化情况及规律进行测试。目前，在NandFlash应用中，对openblock的测试比较少；为了避免openblock的出现，大部分厂商会一次性写满一个block，当数据不足时会填充dummydata，但是这种使用不是很灵活，有时候会造成存储空间的浪费。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种OpenBlock测试装置、方法及系统，提供Block在Open状态下BER随时间的变化趋势及规律。本专利技术的技术方案是：一种OpenBlock测试装置，包括测试主机和至少一个测试板卡；测试板卡上设置有测试控制器、NandFlash芯片、温控部件；所述NandFlash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；测试控制器与测试主机通信。进一步地，所述温控部件包括温度控制器、测温探头、加热片、风扇和外壳，所述测温探头、加热片、风扇设置在外壳内，外壳扣合在NandFlash芯片处；测温探头、加热片、风扇分别与温度控制器电连接；温度控制器与测试控制器电连接。进一步地，NandFlash芯片通过插接座插接在测试板卡上。进一步地，测试板卡上还设置有网口，测试控制器通过网线与测试主机通信。本专利技术的技术方案还包括一种OpenBlock测试方法，包括以下步骤：S0，测试主机控制测试控制器通过温控部件调节NandFlash芯片所处环境温度，并等待温度稳定；S1，测试主机控制测试控制器对NandFlash芯片的测试Block进行部分写入数据；S2，测试主机定时控制测试控制器对测试Block进行读取数据；S3，测试控制器根据读取数据计算测试Block每个page的BER数据，并将所计算的BER数据和对应Block信息返回测试主机；S4，测试主机根据返回BER数据、对应Block信息分析并显示测试结果。进一步地，测试主机端具体执行以下步骤：S101，与测试控制器建立连接；S102，生成Random数据并下发至测试控制器；S103，下发温控命令至测试控制器；S104，接收测试控制器返回的温度稳定信号；S105，设置在该温度下的最大测试时间；S106，下发待测样本Block编号至测试控制器；S107，下发开始测试命令至测试控制器；S108，定时下发获取BER命令至测试控制器直到最大测试时间；S109，接收测试控制器返回的BER数据、BER数据与page的对应关系以及对应Block写入数据量；S110，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量、此次测试的温度保存；S111，待所有测试完成后，对所保存数据进行分析并显示测试结果；S112，根据测试结果结合后续使用的Nand控制器的BER最大纠错能力找出对应测试Block的Open时间。进一步地，测试控制器端具体执行以下步骤：S201，接收Random数据并保存；S202，接收温控命令；S203，控制温度部件调节NandFlash芯片所处环境的温度至所需测试的温度；S204，待测温探头检测到温度稳定后，将温度稳定信号发送至测试主机；S205，接收待测样本Block编号并保存；S206，接收到测试命令后，对测试Block的部分page写入Random数据，使测试Block处于Open状态，且记录所写入数据信息；S207，接收到获取BER命令后，读取测试Block中的所有page的数据；S208，将读取的所有page的数据与原始写入对应page的数据进行比较，计算出每个page的BER数据；S209，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量发送至测试主机。本专利技术的技术方案还包括一种OpenBlock测试系统，测试主机端包括：连接模块，与测试控制器建立连接；Random数据生成模块，生成Random数据并下发至测试控制器；温控命令下发模块，下发温控命令至测试控制器；温度稳定信号接收模块，接收测试控制器返回的温度稳定信号；测试时间设置模块，设置在该温度下的最大测试时间；样本编号下发模块，下发待测样本Block编号至测试控制器；测试命令下发模块，下发开始测试命令至测试控制器；获取BER命令下发模块，定时下发获取BER命令至测试控制器直到最大测试时间；接收数据模块，接收测试控制器返回的BER数据、BER数据与page的对应关系以及对应Block写入数据量；数据保存模块，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量、对应测试温度保存；结果分析显示模块，待所有测试完成后，对所保存数据进行分析并显示测试结果；Open时间查找模块，根据测试结果结合后续使用的Nand控制器的BER最大纠错能力找出对应测试Block的Open时间。进一步地，测试控制器端包括：Random数据接收模块，接收Random数据并保存；温控命令接收模块，接收温控命令；温度调节控制模块，控制温度部件调节NandFlash芯片所处环境温度至所需测试的温度；温度稳定信号发送模块，待测温探头检测到温度稳定后，将温度稳定信号发送至测试主机；样本编号接收模块，接收待测样本Block编号并保存；数据写入模块，接收到测试命令后，对测试Block的部分page写入Random数据，使测试Block处于Open状态，且记录所写入数据信息；数据读取模块，接收到获取BER命令后，读取测试Block中的所有page的数据；BER计算模块，将读取的所有page的数据与原始写入对应page的数据进行比较，计算出每个page的BER数据；数据发送本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Open Block测试装置，其特征在于，包括测试主机和至少一个测试板卡；/n测试板卡上设置有测试控制器、Nand Flash芯片、温控部件；所述Nand Flash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；/n测试控制器与测试主机通信。/n

【技术特征摘要】
1.一种OpenBlock测试装置，其特征在于，包括测试主机和至少一个测试板卡；
测试板卡上设置有测试控制器、NandFlash芯片、温控部件；所述NandFlash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；
测试控制器与测试主机通信。


2.根据权利要求1所述的OpenBlock测试装置，其特征在于，所述温控部件包括温度控制器、测温探头、加热片、风扇和外壳，所述测温探头、加热片、风扇设置在外壳内，外壳扣合在NandFlash芯片处；
测温探头、加热片、风扇分别与温度控制器电连接；温度控制器与测试控制器电连接。


3.根据权利要求1或2所述的OpenBlock测试装置，其特征在于，NandFlash芯片通过插接座插接在测试板卡上。


4.根据权利要求1或2所述的OpenBlock测试装置，其特征在于，测试板卡上还设置有网口，测试控制器通过网线与测试主机通信。


5.一种OpenBlock测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S0，测试主机控制测试控制器通过温控部件调节NandFlash芯片所处环境温度，并等待温度稳定；
S1，测试主机控制测试控制器对NandFlash芯片的测试Block进行部分写入数据；
S2，测试主机定时控制测试控制器对测试Block进行读取数据；
S3，测试控制器根据读取数据计算测试Block每个page的BER数据，并将所计算的BER数据和对应Block信息返回测试主机；
S4，测试主机根据返回BER数据、对应Block信息分析并显示测试结果。


6.根据权利要求5所述的OpenBlock测试方法，其特征在于，测试主机端具体执行以下步骤：
S101，与测试控制器建立连接；
S102，生成Random数据并下发至测试控制器；
S103，下发温控命令至测试控制器；
S104，接收测试控制器返回的温度稳定信号；
S105，设置在该温度下的最大测试时间；
S106，下发待测样本Block编号至测试控制器；
S107，下发开始测试命令至测试控制器；
S108，定时下发获取BER命令至测试控制器直到最大测试时间；
S109，接收测试控制器返回的BER数据、BER数据与page的对应关系以及对应Block写入数据量；
S110，将BER数据、BER数据与page的对应关系、对应Block写入数据量、此次测试的温度保存；
S111，待所有测试完成后，对所保存数据进行分析并显示测试结果；
S112，根据测试结果结合后续使用的Nand控制器的BER最大纠错能力找出对应测试Block的Open时间。


7.根据权利要求6所述的OpenBlock测试方法，其特征在于，测试控制器端具体执行以下步骤：
S201，接收Random数据并保存；
S202，接收温控命令；
S203，控制温...

【专利技术属性】
技术研发人员：李栋，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32