一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、主控及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质，该方法包括：生成测试数据；关闭差分功能，将测试数据写入硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；判断从目标存储单元中读取的第一写入数据与测试数据是否一致；若是，则开启差分功能，将测试数据覆盖写入目标存储单元；判断从目标存储单元中读取的第二写入数据与测试数据是否一致；若第二写入数据与测试数据一致，则判定差分信号正常；若第二写入数据与测试数据不一致，则判定差分信号异常。本申请先后在关闭和开启差分功能的两种状态下，分别对硬盘中存储单元进行数据写入校验，从而对出现差分问题的通信链路进行故障排查定位，有效提高生产效率和质量。

A differential signal quality detection method, device, main control and medium for hard disk

【技术实现步骤摘要】
一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、主控及介质
本申请涉及电子检测
，特别涉及一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质。
技术介绍
一般情况下，硬盘在量产并制作完成后，会对所有的盘做高温RDT以及BIT老化等测试。在实际测试和应用中，差分信号质量对这些测试结果会造成一定的干扰，影响测试结果。而现有技术中，通常并未在硬盘测试中进行关于差分信号质量的专项检测，以至于在高温RDT、BIT老化等测试过程中出现了相关差分问题时，才发现故障问题，并唯有通过耗时耗力的层层检测和定位来解决故障，严重影响了生产效率。鉴于此，提供一种解决上述技术问题的方案，已经是本领域技术人员所亟需关注的。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质，以便有效地针对差分信号质量进行专项检测，帮助进行故障定位及提高生产效率和质量。为解决上述技术问题，第一方面，本申请公开了一种硬盘的差分信号质量检测方法，应用于硬盘主控，包括：生成测试数据；关闭差分功能，将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致；若是，则开启差分功能，将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元；判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致；若所述第二写入数据与所述测试数据一致，则判定差分信号正常；若所述第二写入数据与所述测试数据不一致，则判定差分信号异常。可选地，在所述判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致之后，还包括：若否，则判定通信链路异常。可选地，在所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元之前，还包括：擦除所述目标存储单元。可选地，在所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元之后，还包括：判断是否覆盖写入成功；若覆盖写入成功，则继续执行所述判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致的步骤；若覆盖写入失败，则再次执行所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元的步骤。可选地，在所述关闭差分功能之后，还包括：获取差分功能状态；判断差分功能是否成功关闭；若是，则继续执行所述将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元的步骤；若否，则生成差分功能配置失败的报错信息。可选地，在所述开启差分功能之后，还包括：获取差分功能状态；判断差分功能是否成功开启；若是，则继续执行所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元的步骤；若否，则生成差分功能配置失败的报错信息。第二方面，本申请还公开了一种硬盘的差分信号质量检测装置，应用于硬盘主控，包括：数据生成单元，用于生成测试数据；第一写入单元，用于关闭差分功能，将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；第一判断单元，用于判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致；第二写入单元，用于在所述第一判断单元判定所述第一写入数据与所述测试数据一致后，开启差分功能，将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元；第二判断单元，用于判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致；若所述第二写入数据与所述测试数据一致，则判定差分信号正常；若所述第二写入数据与所述测试数据不一致，则判定差分信号异常。可选地，所述第一判断单元还用于：在判定从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据不一致后，判定所述硬盘的通信链路异常。第三方面，本申请还公开了一种硬盘主控，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序以实现如上所述的任一种硬盘的差分信号质量检测方法的步骤。第四方面，本申请还公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用以实现如上所述的任一种硬盘的差分信号质量检测方法的步骤。本申请所提供的硬盘的差分信号质量检测方法应用于硬盘主控，包括：生成测试数据；关闭差分功能，将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致；若是，则开启差分功能，将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元；判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致；若所述第二写入数据与所述测试数据一致，则判定差分信号正常；若所述第二写入数据与所述测试数据不一致，则判定差分信号异常。可见，本申请针对差分信号进行了专项检测，先后在关闭差分功能和开启差分功能的两种状态下，分别对硬盘中的同一存储单元进行数据写入和校验，基于两次校验结果可有效判定硬盘差分信号质量，从而可针对出现差分信号问题的通信链路进行故障排查与检测维修，帮助快速进行故障定位，进而有效提高生产效率和质量。本申请所提供的硬盘的差分信号质量检测装置、硬盘主控及计算机可读存储介质同样具有上述有益效果。附图说明为了更清楚地说明现有技术和本申请实施例中的技术方案，下面将对现有技术和本申请实施例描述中需要使用的附图作简要的介绍。当然，下面有关本申请实施例的附图描述的仅仅是本申请中的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图，所获得的其他附图也属于本申请的保护范围。图1为本申请实施例公开的一种硬盘的差分信号质量检测方法的应用场景图；图2为本申请实施例公开的一种硬盘的差分信号质量检测方法的流程图；图3为本申请实施例公开的一种硬盘的差分信号质量检测装置的结构框图；图4为本申请实施例公开的一种硬盘主控的结构框图。具体实施方式本申请的核心在于提供一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质，以便有效地针对差分信号质量进行专项检测，帮助进行故障定位及提高生产效率和质量。为了对本申请实施例中的技术方案进行更加清楚、完整地描述，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行介绍。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。差分信号传输是一种通过传输一对振幅相同、相位相反的信号、以降低干扰而提高信号质量的信号技术，在电力电子领域中被广泛应用。一般地，在硬盘量产并制作完成后，会对所有的盘做高温RDT以及BIT老化等测试。在实际测试和应用中，差分信号质量对这些测试结果会造成一定的干扰，影响测试结果。而现有技术中，通常并未在硬盘测试中进行关于差分信号质量的专项检测，以至于在高温RDT、BIT老化等测试过程中出现了相关差本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硬盘的差分信号质量检测方法，其特征在于，应用于硬盘主控，包括：/n生成测试数据；/n关闭差分功能，将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；/n判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致；/n若是，则开启差分功能，将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元；/n判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致；/n若所述第二写入数据与所述测试数据一致，则判定差分信号正常；若所述第二写入数据与所述测试数据不一致，则判定差分信号异常。/n

【技术特征摘要】
1.一种硬盘的差分信号质量检测方法，其特征在于，应用于硬盘主控，包括：
生成测试数据；
关闭差分功能，将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；
判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致；
若是，则开启差分功能，将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元；
判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致；
若所述第二写入数据与所述测试数据一致，则判定差分信号正常；若所述第二写入数据与所述测试数据不一致，则判定差分信号异常。


2.根据权利要求1所述的差分信号质量检测方法，其特征在于，在所述判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致之后，还包括：
若否，则判定通信链路异常。


3.根据权利要求1所述的差分信号质量检测方法，其特征在于，在所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元之前，还包括：
擦除所述目标存储单元。


4.根据权利要求1所述的差分信号质量检测方法，其特征在于，在所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元之后，还包括：
判断是否覆盖写入成功；
若覆盖写入成功，则继续执行所述判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致的步骤；
若覆盖写入失败，则再次执行所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元的步骤。


5.根据权利要求1至4任一项所述的差分信号质量检测方法，其特征在于，在所述关闭差分功能之后，还包括：
获取差分功能状态；
判断差分功能是否成功关闭；
若是，则继续执行所述将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元的步骤；
若否，则生成差分功能配置失败的报错信息。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙虎威，
申请(专利权)人：江苏芯盛智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32