【技术实现步骤摘要】
一种线性测量系统
本专利技术涉及光电探测系统探测性能测量
，具体涉及一种线性测量系统。
技术介绍
绝大多数光电探测器的输入-输出关系只能在一定范围内保持线性，在其他范围，尤其是输入信号较大或较小时，探测器的响应会呈现非线性，不能够准确表征出被探测目标的辐射特性。因此对光电探测器的线性度进行测量和评价，并对探测器的非线性进行校正，使其在更大范围内能保持线性输出是很有必要的。目前常用的线性测量方法都基于通量叠加法、衰减法和动态法。随着研究的深入，由于通量叠加法相比于衰减法，具有不依赖于辅助量限制的优点，相比于动态法，具有设置方法和分析方法都相对简便的优点。因此通量叠加法逐渐成为了线性测量的主流。目前比较成熟的利用通量叠加法的线性测量仪器分为两种，一种采用单光源作为辐射源，通过双光阑法或分束双快门法进行测量；一种采用双光源作为辐射源，通过积分球法或时序法进行测量。但是双光阑法或分束双快门法需要通过调节电源注入电流来调节通量大小，而在改变光源注入电流的过程中，波长会发生漂移，影响测量精度。且光源的辐亮度调节范围有限，导...
【技术保护点】
1.一种线性测量系统，其特征在于，包括辐射源(1)、第一抛物面反射镜(3)、可调光阑(4)、分束镜(5)、第一滤光片轮组(6)、第一平面反射镜(7)、第二平面反射镜(8)、第二滤光片轮组(9)、合束镜(10)、第三滤光片轮组(11)、第二抛物面反射镜(12)和导光棒(14)；所述辐射源(1)的谱段包括250nm-2500nm，分束镜(5)与透射信号光呈75°，合束镜(10)与经其合束得到的信号光呈75°；/n辐射源(1)出射的信号光依次经第一抛物面反射镜(3)准直、经可调光阑(4)限束后入射到分束镜(5)上分成透射信号光和反射信号光，透射信号光经第一滤光片轮组(6)滤光和第...
【技术特征摘要】
1.一种线性测量系统，其特征在于，包括辐射源(1)、第一抛物面反射镜(3)、可调光阑(4)、分束镜(5)、第一滤光片轮组(6)、第一平面反射镜(7)、第二平面反射镜(8)、第二滤光片轮组(9)、合束镜(10)、第三滤光片轮组(11)、第二抛物面反射镜(12)和导光棒(14)；所述辐射源(1)的谱段包括250nm-2500nm，分束镜(5)与透射信号光呈75°，合束镜(10)与经其合束得到的信号光呈75°；
辐射源(1)出射的信号光依次经第一抛物面反射镜(3)准直、经可调光阑(4)限束后入射到分束镜(5)上分成透射信号光和反射信号光，透射信号光经第一滤光片轮组(6)滤光和第一平面反射镜(7)反射后入射到合束镜(10)上，反射信号光经第二滤光片轮组(9)滤光和第二平面反射镜(8)反射后入射到合束镜(10)上，合束镜(10)将入射到其上光的合为一束平行信号光，合束后的信号光依次经第三滤光片轮组(11)滤光、经第二抛物面反射镜(12)聚焦于导光棒(14)的前表面、经导光棒(14)传导与匀化后出射。
2.如权利要求1所述的一种线性测量系统，其特征在于，所述系统还包括第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：张子辉，李羿轩，黄煜，王淑荣，林冠宇，曹佃生，杨小虎，李占峰，李寒霜，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22
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