温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种线性测量系统涉及光电探测系统探测性能测量技术领域，解决了像面照度低、光谱范围小和动态范围小的问题，一种线性测量系统，辐射源出射的信号光依次经第一抛物面反射镜、可调光阑后经分束镜分成透射信号光和反射信号光，透射信号光经第一滤光片轮组和第一...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。