【技术实现步骤摘要】
实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置
本专利技术涉及实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置，具体地说，涉及一种能够大批量、高效率、高准确率的半导体分立器件多温度测试的装置。
技术介绍
目前，半导体分立器件在电力电子行业有着非常广泛的应用，是电子产品的基础元器件之一，在产业电子化升级过程中，越来越得到重视与应用。我国是半导体分立器件全球最大的需求国，但其自给率却很小。当下我国正寻求转型，大量半导体分立器件寻求国产化，市场前景非常大。目前，国内半导体分立器件生产厂家生产量极大，生产厂家每年生产少则百批多则千批，每批次投产至少几百只甚至上千只半导体分立器件。产品在生产及出厂前要进行多次、分阶段、常温及高低温下各项参数测试，其测试结果的准确率及效率在生产过程中显得格外重要。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题总的来说是提供一种实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置及方法。为解决上述问题，本专利技术所采取的技术方案是：一种实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置，包括测试源、...
【技术保护点】
1.一种实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置 ，其特征在于：包括测试源、测试架、以及设置在测试架上的测试转换台；测试转换台上设置有用于测试作为转换器的分立器的工位，在工位上设置有用于压装转换器的弹簧片；/n在测试架上设置有电源模块、整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、触发模块、继电器模块、以及矩阵电路模块；/n电源模块依次通过整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、继电器模块、以及矩阵电路模块电连接；触发模块与计数模块电连接；/n在测试转换台设置有测试模块；矩阵电路模块控制测试模块的通断；/...
【技术特征摘要】
1.一种实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置，其特征在于：包括测试源、测试架、以及设置在测试架上的测试转换台；测试转换台上设置有用于测试作为转换器的分立器的工位，在工位上设置有用于压装转换器的弹簧片；
在测试架上设置有电源模块、整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、触发模块、继电器模块、以及矩阵电路模块；
电源模块依次通过整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、继电器模块、以及矩阵电路模块电连接；触发模块与计数模块电连接；
在测试转换台设置有测试模块；矩阵电路模块控制测试模块的通断；
测试源通过矩阵电路模块控制测试源对转换器测试。
2.根据权利要求1所述的实现半导体分立器件大批量多温度测试的装置，其特征在于:电源模块外接市电，电源模块的变压器TI对市电进行降压；
整流模块，包括四个二极管组成的惠更斯整流桥的桥式整流器DQ，用于对降压信号进行整流处理；
一次滤波模块，包括并联在惠更斯整流桥两个输出端之间的电解电容C1与高频电容C2；
稳压模块，包括三端稳压器ZD1；三端稳压器ZD1的Vin端接桥式整流器DQ正输出端，三端稳压器ZD1的GND端接桥式整流器DQ负输出端；
二次滤波模块，包括设置在滤波器电容C3输出端与桥式整流器DQ负输出端之间；
计数模块，包括与二次滤波模块输出端连接且并联的第一可逆计数器U1与第二可逆计数器U2、复位电容C4、以及复位开关SBQ1；复位电容C4与复位开关SBQ1并联设置有且用于控制第一可逆计数器U1与第二可逆计数器U2复位清零；
显码模块包括输入端与第一可逆计数器U1输出端电连接的第一译码器U3、输入端与第一译码器U3输出端电连接的第一数码管P1、输入端与第二可逆计数器U2输出端电连接的第二译码器U4、以及输入端与第二译码器U4输出端电连接的第二数码管P2；第一数码管P1用于显示矩阵电路模块个位坐标；第二数码管P2用于显示矩阵电路模块十位坐标；
触发模块包括输出端与第一可逆计数器U1输入端电连接的个位减电路与个位加电路、以及输出端与第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：王辉，李莎，刘宏伟，
申请(专利权)人：青岛航天半导体研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。