全自动牛角电容老化数据监控测试方法技术

技术编号:23656200 阅读:36 留言:0更新日期:2020-04-04 12:25
本发明专利技术属于电解电容生产技术领域,尤其涉及一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法,包括以下步骤:S100:提供待检测的电容,上料装置和电容夹具,通过上料装置给电容打码,然后使用电容夹具夹紧打码后的电容;S200:提供开路短路检测部件,开路短路检测部件用于对电容进行检测;S300:提供老化烤箱和监测装置,将监测装置安装于老化烤箱内,将电容夹具置入老化烤箱对内,老化烤箱对电容进行老化,监测装置同时对电容进行数据监控;S400:提供下料筛选装置,经过老化烤箱后的电容夹具输送至下料筛选装置上,然后通过下料筛选装置对电容进行检测筛选,电脑对大量的实时检测数据分析判断出电容老化过程的细微的异常变化。

Automatic monitoring and testing method for aging data of horn capacitor

【技术实现步骤摘要】
全自动牛角电容老化数据监控测试方法
本专利技术属于电解电容生产
,尤其涉及一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法。
技术介绍
铝电解电容器的老化也叫老练,老化的目的是充电修复氧化膜,使电容的电性能得以稳定。因为电容器的正极箔片在分切、铆接、卷绕等工艺制作过程中,箔片上的氧化膜受到损伤,所以要进行充电老化修补被损坏的氧化膜目前国内外电容老化设备只是在烤箱内对电容进行充电老化,没有对老化过程中的电容上的电压电流的数值变化进行监测,老化完成后,移出烤箱外部才进行一次老化后数据检测,以此检测数据来判断电容是否合格。电容在烤箱长时间充电老化过程没有数据检测,只是在充电老化完成后才进行一次数据检测,这样无法完全判断老化过程中电容内部瑕疵的闪火击穿、过充内爆、老化不充分等不良,无老化的过程监测也就无产品老化过程数据的追溯。这样对电容老化过程的研究改善就缺乏数据可查,也就无法完全保证电容的品质。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法,旨在解决现有技术中没有检测电容老化过程数据的变化技术问题。为实现上述目的,本专利技术实施例提供的一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S100:提供待检测的电容,上料装置和电容夹具,通过所述上料装置给电容打码,然后使用所述电容夹具夹紧打码后的所述电容;S200:提供开路短路检测部件,所述开路短路检测部件用于对位于所述电容夹具上的所述电容进行开路、短路检测;S300:提供老化烤箱、监测装置和电脑,将所述电容夹具放置到所述老化烤箱内,老化烤箱对电容夹具上的电容进行老化,同时所述监测装置对所述电容进行数据监控,并将监控数据传输至电脑上;S400:提供下料筛选装置,将经过所述老化烤箱后的所述电容夹具输送至所述下料筛选装置上,然后通过所述下料筛选装置对老化后的所述电容进行数据检测并进行筛选。可选地,所述步骤S100中,所述上料装置包括正负极识别机构和上料识别打码剔除机构,所述正负极识别机构用于对电容进行正负极、套管位置检测,所述上料识别打码剔除机构用于对电容进行打码并检测所述电容打码的清晰度。可选地,所述上料识别打码剔除机构包括激光打码组件、打码位置旋转台、检测喷码中转台、二维码检测视觉组件、打码/剔除中转台和正负极还原中转台;所述激光打码组件用于对电容进行打码;所述打码位置旋转台用于旋转电容,使电容的打码位置面向后方;所述检测喷码中转台用于夹紧电容;所述二维码检测视觉组件用于对所述电容打码位置进行视觉检测;所述打码/剔除中转台用于对未打码的电容进行打码,对已经打码的且清晰的电容省略打码,对打码不清晰的电容进行剔除;所述正负极还原中转台用于将所述电容旋转回正负极规定的角度位置。可选地,所述步骤S200中,所述开路短路检测部件包括开路短路测量仪表、开路短路测试电刷、开路短路打料组件、开路短路不良品盒;所述开路短路测量仪表和所述开路短路测试电刷电连接,所述开路短路测试电刷与电容夹具接触,所述开路短路测量仪表检测检测所述电容开路和/或短路的状态,开路短路打料组件用于将检测出短路和/或短路的所述电容从所述电容夹具中打下至所述开路短路不良品盒中。可选地,所述步骤S300中,所述老化烤箱包括充电电刷,所述充电电刷用于给所述电容夹具上的电容老化通电;所述监测装置包括红外信号发送供电电刷、红外信号发送电路板和红外信号接收电路板;所述红外信号发送供电电刷用于给所述红外信号发送电路板供电;所述红外信号发送电路板设置于所述电容夹具上,并用于将所述电容夹具测量的各个电容的相关数据无线发送给所述红外信号接收电路板;所述红外信号接收电路板与所述电脑连接,并用于将测量的相关数据传输至所述电脑上。可选地,所述电容夹具上设置有用于检测所述电容的测量电路,所述电容夹具经与所述红外信号发送供电电刷接触时,所述测量电路通电并每12微秒对所述电容夹具上的各所述电容进行一次数据检测。可选地,所述老化烤箱包括箱体、进料机械手、出料机械手、分割器组件和多组传动链条组件,所述进料机械手和所述出料机械手分别位于所述箱体的两侧,所述进料机械手位于所述开路短路检测部件的一侧,所述出料机械手位于所述下料筛选装置一侧,各所述传动链条组件和所述分割器组件均安装于所述箱体内,所述分割器组件通过连接链条与各所述传动链条组件连接并用于驱动各所述传动链条组件工作。可选地,所述步骤S300中,所述老化烤箱的工作为度为85℃~105℃。可选地,所述步骤S300中,所述监控装置监控所述电容的数据包括所述电容的闪火击穿、过充内爆和老化不充分。可选地,所述步骤S400中,所述下料筛选装置包括测量仪表部件和筛选部件,所述测量仪表部件与所述筛选部件电连接并用于筛选不良品电容。本专利技术实施例提供的全自动牛角电容老化数据监控测试方法中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一:上料装置对电容进行识别后插入电容夹具,再进行开路短路测试,然后将电容夹具放入老化烤箱,电容夹具在老化烤箱内运动中时进行通电老化,同时监测装置对夹具上的每个电容进行一次数据检测,检测装置将检测的数据传输给电脑,然后将电容夹具从老化烤箱中取下,通过下料筛选装置对老化后的电容进行数据检测并进行筛选;使用电脑能够对大量的实时检测数据分析能够判断出电容老化过程的细微的异常变化。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的全自动牛角电容老化数据监控测试方法的流程图。图2为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机的结构示意图。图3为图2提供的全自动牛角电容过程监控老化机的简化结构示意图。图4为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机的另一结构示意图。图5为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中上料装置的结构示意图。图6为图5提供的全自动牛角电容过程监控老化机中上料装置的正视图。图7为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中检测装置的结构示意图。图8为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中老化烤箱内部结构示意图。图9为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中老化烤箱省略箱体后的结构示意图图10为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中电容夹具经过老化烤箱时的构示意图。图11为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中下料筛选装置的结构示意图。图12为运行本专利技术实施例提供的全自动牛角电容过程监控老化机中出料装置的结构示意图。图13为图12提供的全自动牛角电容过程监控老化机中出料装置的俯视图。其中,图中各附图标本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS100:提供待检测的电容,上料装置和电容夹具,通过所述上料装置给电容打码,然后使用所述电容夹具夹紧打码后的所述电容;/nS200:提供开路短路检测部件,所述开路短路检测部件用于对位于所述电容夹具上的所述电容进行开路、短路检测;/nS300:提供老化烤箱、监测装置和电脑,将所述电容夹具放置到所述老化烤箱内,老化烤箱对电容夹具上的电容进行老化,同时所述监测装置对所述电容进行数据监控,并将监控数据传输至电脑上;/nS400:提供下料筛选装置,将经过所述老化烤箱后的所述电容夹具输送至所述下料筛选装置上,然后通过所述下料筛选装置对老化后的所述电容进行数据检测并进行筛选。/n

【技术特征摘要】
1.一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S100:提供待检测的电容,上料装置和电容夹具,通过所述上料装置给电容打码,然后使用所述电容夹具夹紧打码后的所述电容;
S200:提供开路短路检测部件,所述开路短路检测部件用于对位于所述电容夹具上的所述电容进行开路、短路检测;
S300:提供老化烤箱、监测装置和电脑,将所述电容夹具放置到所述老化烤箱内,老化烤箱对电容夹具上的电容进行老化,同时所述监测装置对所述电容进行数据监控,并将监控数据传输至电脑上;
S400:提供下料筛选装置,将经过所述老化烤箱后的所述电容夹具输送至所述下料筛选装置上,然后通过所述下料筛选装置对老化后的所述电容进行数据检测并进行筛选。


2.根据权利要求1所述的全自动牛角电容老化数据监控测试方法,其特征在于,所述步骤S100中,所述上料装置包括正负极识别机构和上料识别打码剔除机构,所述正负极识别机构用于对电容进行正负极、套管位置检测,所述上料识别打码剔除机构用于对电容进行打码并检测所述电容打码的清晰度。


3.根据权利要求2所述的全自动牛角电容老化数据监控测试方法,其特征在于,所述上料识别打码剔除机构包括激光打码组件、打码位置旋转台、检测喷码中转台、二维码检测视觉组件、打码/剔除中转台和正负极还原中转台;所述激光打码组件用于对电容进行打码;所述打码位置旋转台用于旋转电容,使电容的打码位置面向后方;所述检测喷码中转台用于夹紧电容;所述二维码检测视觉组件用于对所述电容打码位置进行视觉检测;所述打码/剔除中转台用于对未打码的电容进行打码,对已经打码的且清晰的电容省略打码,对打码不清晰的电容进行剔除;所述正负极还原中转台用于将所述电容旋转回正负极规定的角度位置。


4.根据权利要求1所述的全自动牛角电容老化数据监控测试方法,其特征在于,所述步骤S200中,所述开路短路检测部件包括开路短路测量仪表、开路短路测试电刷、开路短路打料组件、开路短路不良品盒;所述开路短路测量仪表和所述开路短路测试电刷电连接,所述开路短路测试电刷与电容夹具接触,所述开路短路测量仪表检测检测所述电容开路和/或短路的状态,开路短路打...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢道法谢文辉
申请(专利权)人:广东恩慈智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1