一种电容内爆检测电路制造技术

本实用新型专利技术属于检测电路技术领域，尤其涉及一种电容内爆检测电路，包括电流采集电路，所述电流采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息；电压采集电路，所述电压采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息；主控电路，所述主控电路与所述电流采集电路和所述电压采集电路连接，用于根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆。本实用新型专利技术在对电容进行内爆时，通过检测流经被测电容的电压和电流来综合判断被测电容是否发生内爆，保证了测量的准确性，降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电容内爆检测电路
本技术属于检测电路
，尤其涉及一种电容内爆检测电路。
技术介绍
电解电容出厂前需要经历生产和老化测试。其中，生产时，电解电容难免会出现铝箔切边不整齐产生毛刺、电解质有杂质等缺陷，电解电容上有毛刺及电解质有杂质的位置的耐压值远低于正常值。在老化测试时，需要在被测电容两端施加充电电压，随着充电电压不断提高，有缺陷的电容极易发生内爆，发生内爆时被测电容两端的电压急剧下降，电流急剧上升。内爆结束后，被测电容继续充电，在后续的老化过程中，已发生内爆的电容大概率又因继续充电而使其伏安特性显示为正常电容，从而使发生内爆的电容极易流入市场，进而产生影响使用的问题。目前，在老化测试中很难检测电容是否发生内爆，使用电容时，一般多采用万用表来测量，但是万用表测量的结果易受到干扰，导致测量结果不准确。此外，市面上还有专门的测试设备，但是仅仅只能针对某一特定内阻的电容进行测试，在对不同容值和内阻的电容进行测量时，极易发生测量不准确的问题，影响客户使用，并且通过专门设备测试电容内爆，易产生成本过高的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电容内爆检测电路，旨在解决现有技术中对电容进行内爆测量时，测量不准确的技术问题。为实现上述目的，本技术实施例提供一种电容内爆检测电路，包括：电流采集电路，所述电流采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息；电压采集电路，所述电压采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息；主控电路，所述主控电路与所述电流采集电路和所述电压采集电路连接，用于根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆。可选地，还包括通道开关电路，所述通道开关电路的输入端与所述电流采集电路连接，所述通道开关电路还与所述主控电路连接。可选地，所述电流采集电路包括第一差分放大电路和第二差分放大电路，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输入端均与被测电容连接，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输出端均与所述通道开关电路的输入端连接；所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的放大系数不同。可选地，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路均包括运算放大器，两所述运算放大器的输入端均与被测电容连接，两所述运算放大器的输出端均与所述通道开关电路连接。可选地，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路均包括输出滤波电路，所述输出滤波电路与所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输出端连接。可选地，所述输出滤波电路包括滤波电容和滤波电阻，所述滤波电阻的一端与所述运算放大器的输出端连接，所述滤波电阻的另一端与所述滤波电容的一端连接，所述滤波电容的另一端接地。可选地，所述通道开关电路包括模拟开关芯片，所述模拟开关芯片的第一引脚和第二引脚分别与两所述运算放大器的输出端连接，所述模拟开关芯片还与所述主控电路连接。可选地，所述主控电路包括主控芯片，所述模拟开关芯片的第四引脚、第十五引脚、第九引脚和第十引脚均与所述主控芯片连接。可选地，所述电压采集电路包括第一采样电阻、第二采样电阻、瞬态二极管和第五电阻，所述第一采样电阻的第一端与被测电容连接，所述第一采样电阻的第二端与所述第二采样电阻连接，所述第一采样电阻的第二端还与所述瞬态二极管的负极连接，所述瞬态二极管的正极接地，所述第五电阻的第一端与所述瞬态二极管的负极连接，所述第五电阻的第二端与所述主控电路连接。可选地，所述电压采集电路包括第三采样电阻、第四采样电阻、开关二极管和第六电阻；所述第三采样电阻的第一端与被测电容连接，所述第三采样电阻的第二端与所述第四采样电阻连接后接地，所述第三采样电阻的第二端还与所述开关二极管的正极连接，所述开关二极管的正极还与所述第六电阻连接，所述第六电阻还与主控电路连接本技术实施例提供的电容内爆检测电路中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：本技术在对电容进行内爆时，通过电流采集电路采集流经被测电容的电流信息，通过电压采集电路采集流经被测电容的电压信息，最后发送至所述主控电路，所述主控电路根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆，如此，通过检测流经被测电容的电压和电流来综合判断被测电容是否发生内爆，保证了测量的准确性，降低了生产成本。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的电容内爆检测电路的电路结构框图；图2为本技术实施例提供的电容内爆检测电路的使用状态模拟图图；图3为本技术实施例提供的电容内爆检测电路的电路原理图；图4为本技术实施例提供的电容内爆测试正常电容及内爆电容的电流电压曲线图。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术的实施例，而不能理解为对本技术的限制。在本技术实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本技术实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术实施例中的具体含义。在本技术的一个实施例中，如图1-图4所示，提供一种电容内爆检测电路，包括电流采集电路100、电压采集电路200和主控电路300。其中，所述电流采集电路100与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息。所述电压采集电路200与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息。所述主控电路300与所述电流采集电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电容内爆检测电路，其特征在于，包括/n电流采集电路，所述电流采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息；/n电压采集电路，所述电压采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息；/n主控电路，所述主控电路与所述电流采集电路和所述电压采集电路连接，用于根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆。/n

【技术特征摘要】
1.一种电容内爆检测电路，其特征在于，包括
电流采集电路，所述电流采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息；
电压采集电路，所述电压采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息；
主控电路，所述主控电路与所述电流采集电路和所述电压采集电路连接，用于根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆。


2.根据权利要求1所述的电容内爆检测电路，其特征在于，还包括通道开关电路，所述通道开关电路的输入端与所述电流采集电路连接，所述通道开关电路还与所述主控电路连接。


3.根据权利要求2所述的电容内爆检测电路，其特征在于，所述电流采集电路包括第一差分放大电路和第二差分放大电路，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输入端均与被测电容连接，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输出端均与所述通道开关电路的输入端连接；所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的放大系数不同。


4.根据权利要求3所述的电容内爆检测电路，其特征在于，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路均包括运算放大器，两所述运算放大器的输入端均与被测电容连接，两所述运算放大器的输出端均与所述通道开关电路连接。


5.根据权利要求4所述的电容内爆检测电路，其特征在于，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路均包括输出滤波电路，所述输出滤波电路与所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输出端连接。


6.根据权利要求5所述的电容内爆检...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢道法，谢文辉，
申请(专利权)人：广东恩慈智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44