【技术实现步骤摘要】
一种激光器芯片测试装置
本技术属于光通信领域,具体涉及一种激光器芯片测试装置。
技术介绍
芯片测试是保证光器件生产良率不可或缺的重要环节,芯片测试对测试环境要求非常严格。在芯片测试环境中,测试温度是测试环境中的重要参数,因此,建立稳定的温控系统,从而保证测试环境的温度精度,是芯片测试中重要的环节之一。目前行业常规芯片测试系统存在两个弊端:1)无温控系统;2)有温控系统,但没有温度反馈系统,导致温控精度较低。
技术实现思路
本技术方案旨在提供一种用于光通信的激光器芯片测试装置,来解决现有技术存在的不足。本技术解决技术问题所采用的方案是:一种激光器芯片测试装置,包括光纤透镜1、光纤三维调节架2、散热台3、温控模块4、探针三维调节架5、探针6、PIV耦合电源7和波长计8;所述的温控模块4安装在散热台3上,主要由管壳9、半导体制冷器10和热敏电阻11组成;所述的管壳9固定在散热台3上,管壳9形成上方开口的空间,所述的半导体制冷器10固定在管壳9内,所述的热敏电阻11固定在半导体制冷器10上;所述的半导体制冷器10和热敏电阻11通过金线与管壳9的管脚相连,且PIV耦合电源7与相应的管脚相连,为半导体制冷器10和热敏电阻11提供电能,PIV耦合电源7测量热敏电阻11的阻抗,并控制半导体制冷器10的制冷;所述的散热台3,其左右两侧各设有一个探针三维调节架5;所述的探针6共两个,分别安装在两个探针三维调节架5上,通过探针三维调节架5调节探针6的位置;测试时,两个探针6分别与半导 ...
【技术保护点】
1.一种激光器芯片测试装置,其特征在于,所述的激光器芯片测试装置包括光纤透镜(1)、光纤三维调节架(2)、散热台(3)、温控模块(4)、探针三维调节架(5)、探针(6)、PIV耦合电源(7)和波长计(8);/n所述的温控模块(4)安装在散热台(3)上,主要由管壳(9)、半导体制冷器(10)和热敏电阻(11)组成;所述的管壳(9)固定在散热台(3)上,管壳(9)形成上方开口的空间,所述的半导体制冷器(10)固定在管壳(9)内,所述的热敏电阻(11)固定在半导体制冷器(10)上;所述的半导体制冷器(10)和热敏电阻(11)通过金线与管壳(9)的管脚相连,且PIV耦合电源(7)与相应的管脚相连,为半导体制冷器(10)和热敏电阻(11)提供电能,PIV耦合电源(7)测量热敏电阻(11)的阻抗,并控制半导体制冷器(10)的制冷;/n所述的散热台(3),其左右两侧各设有一个探针三维调节架(5);所述的探针(6)共两个,分别安装在两个探针三维调节架(5)上,通过探针三维调节架(5)调节探针(6)的位置;测试时,两个探针(6)分别与半导体制冷器(10)上的激光器芯片的正极和负极相接触,且两个探针(6) ...
【技术特征摘要】
1.一种激光器芯片测试装置,其特征在于,所述的激光器芯片测试装置包括光纤透镜(1)、光纤三维调节架(2)、散热台(3)、温控模块(4)、探针三维调节架(5)、探针(6)、PIV耦合电源(7)和波长计(8);
所述的温控模块(4)安装在散热台(3)上,主要由管壳(9)、半导体制冷器(10)和热敏电阻(11)组成;所述的管壳(9)固定在散热台(3)上,管壳(9)形成上方开口的空间,所述的半导体制冷器(10)固定在管壳(9)内,所述的热敏电阻(11)固定在半导体制冷器(10)上;所述的半导体制冷器(10)和热敏电阻(11)通过金线与管壳(9)的管脚相连,且PIV耦合电源(7)与相应的管脚相连,为半导体制冷器(10)和热敏电阻(11)提供电能,PIV耦合电源(7)测量热敏电阻(11)的阻抗,并控制半导体制冷器(10)的制冷;
所述的散热台(3),其左右两侧各设有一个探针三维调节架(5);所...
【专利技术属性】
技术研发人员:孔繁禹,廖传武,张亮,袁家勇,
申请(专利权)人:大连优迅科技有限公司,
类型:新型
国别省市:辽宁;21
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