一种PD芯片响应度测试系统技术方案

技术编号:26042041 阅读:60 留言:0更新日期:2020-10-23 21:21
本实用新型专利技术属于光通信行业,尤其涉及一种PD芯片响应度测试系统。本实用新型专利技术的系统包括探针台部分、光源部分、响应度显示部分,是一种简单、易操作、成本较低的PD芯片响应度测试系统,可以在芯片正式投入生产前,将不良品筛选出来,极大程度的提高生产良率与生产效率,避免了不良品流入生产造成的工时浪费以及其他原材料损失。

【技术实现步骤摘要】
一种PD芯片响应度测试系统
本技术属于光通信行业,尤其涉及一种PD芯片响应度测试系统。
技术介绍
随着光通信行业的迅猛发展,现在对ROSA(ReceiverOpticalSubassembly,光接收模块)的需求量也越来越大。PD芯片作为ROSA的关键组件,在投产过程中,从外观上很难判断PD芯片性能是否良好,一旦投入生产线,需要到生产后期才能发现PD芯片是否出现性能不良情况,此时,对产品进行返修不仅会耗费大量时间,还容易导致其它原材料的报废,增加成本。目前的PD芯片均没有在投产前期进行响应度检测或者测试,也没有相关响应度检测方法的报道。
技术实现思路
本技术的目的是提升PD芯片生产良率,在芯片投入生产线之前对PD芯片响应度进行快速、简单的测试,筛选出不良芯片,减少不必要的成本浪费。为实现该目的,本技术提供了一种PD芯片响应度测试系统,可以减少不必要的成本浪费,有效提升产品良率以及生产效率。本技术的技术方案:一种PD芯片响应度测试系统,主要由探针台部分、光源部分和响应度显示部分组成;所述探针台部分包括三个三轴位移平台、两个探针台1和一个PD芯片治具,三轴位移平台并列布置,两个探针台1和PD芯片治具分别安装在一个三轴位移平台上,且两个探针台1位于PD芯片治具的两侧;两个探针支架的底端分别安装在两个探针台1上,两个探针分别安装在探针支架顶端;PD芯片治具用于安装PD芯片,且PD芯片治具上设有光纤夹头支架;测试时,通过三轴位移平台调节探针台1和PD芯片治具的位置。所述光源部分包括光源装置6和会聚光插针5,会聚光插针5与光源装置6通过光纤连接,会聚光插针5安装在光纤夹头支架上,使会聚光插针5垂直对准PD芯片7,将光照射在PD芯片7上,为PD芯片7提供光源;所述响应度显示部分包括皮安表4、ROSA半成品2和电源3;ROSA半成品2中含有跨阻放大器且不含PD芯片;电源3的正负极分别通过引线与跨阻放大器的正负极电源引脚相连,跨阻放大器的PIN<A>和PIN<K>引脚分别与两个探针的一端相连,两个探针的另一端分别与PD芯片7的正负极相连,并保证与PIN<A>引脚相连的探针与PD芯片7的正极相连,与PIN<K>引脚相连的探针与PD芯片7的负极相连,ROSA半成品2和电源3共同为PD芯片7加电;皮安表4与跨阻放大器输出脚RSSI相连,显示待测PD芯片7产生的电流数值。本技术的有益效果:本技术提出了一种简单、易操作、成本较低的PD芯片响应度测试系统,可以在芯片正式投入生产前,将不良品筛选出来,极大程度的提高生产良率与生产效率,避免了不良品流入生产造成的工时浪费以及其他原材料损失。附图说明图1为本技术测试系统的整体结构示意图。图中:1探针台;2ROSA半成品;3电源;4皮安表;5会聚光插针;6光源装置;7PD芯片。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术进行详细说明。如图1所示,本技术的PD芯片响应度测试系统,主要由探针台部分、光源部分、响应度显示部分组成。测试时,首先将待测的PD芯片7放置于PD芯片治具正中心圆盘上,通过三轴位移平台调节PD芯片治具和探针台的位置,从而调节PD芯片和探针的位置,使PD芯片7正负极分别与两个探针连接;电源3的正负极与ROSA半成品2中的跨阻放大器的正负极电源引脚相连,跨阻放大器的PIN<A>、PIN<K>与两个探针连接,为待测PD芯片7加电;光源装置6为待测的PD芯片7提供10μW光源,10μW光源通过光纤传输至会聚光插针5,会聚光插针5垂直于待测PD芯片7正上方;PD芯片7产生响应电流并通过跨阻放大器输出脚RSSI传输至皮安表4,根据公式:响应度=响应电流/光源功率(A/W)可得响应度数值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种PD芯片响应度测试系统,其特征在于,所述的PD芯片响应度测试系统主要由探针台部分、光源部分和响应度显示部分组成;/n所述探针台部分包括三个三轴位移平台、两个探针台(1)和一个PD芯片治具,三轴位移平台并列布置,两个探针台(1)和PD芯片治具分别安装在一个三轴位移平台上,且两个探针台(1)位于PD芯片治具的两侧;两个探针支架的底端分别安装在两个探针台(1)上,两个探针分别安装在探针支架顶端;PD芯片治具用于安装PD芯片,且PD芯片治具上设有光纤夹头支架;测试时,通过三轴位移平台调节探针台(1)和PD芯片治具的位置;/n所述光源部分包括光源装置(6)和会聚光插针(5),会聚光插针(5)与光源装置(6)通过光纤连接,会聚光插针(5)安装在光纤夹头支架上,使会聚光插针(5)垂直对准PD芯片(7),将光照射在PD芯片(7)上,为PD芯片(7)提供光源;/n所述响应度显示部分包括皮安表(4)、ROSA半成品(2)和电源(3);ROSA半成品(2)中含有跨阻放大器且不含PD芯片;电源(3)的正负极分别通过引线与跨阻放大器的正负极电源引脚相连,跨阻放大器的PIN<A>和PIN<;K>引脚分别与两个探针的一端相连,两个探针的另一端分别与PD芯片(7)的正负极相连,并保证与PIN<A>引脚相连的探针与PD芯片(7)的正极相连,与PIN<K>引脚相连的探针与PD芯片(7)的负极相连,ROSA半成品(2)和电源(3)共同为PD芯片(7)加电;皮安表(4)与跨阻放大器输出脚RSSI相连,显示待测PD芯片(7)产生的电流数值。/n...

【技术特征摘要】
1.一种PD芯片响应度测试系统,其特征在于,所述的PD芯片响应度测试系统主要由探针台部分、光源部分和响应度显示部分组成;
所述探针台部分包括三个三轴位移平台、两个探针台(1)和一个PD芯片治具,三轴位移平台并列布置,两个探针台(1)和PD芯片治具分别安装在一个三轴位移平台上,且两个探针台(1)位于PD芯片治具的两侧;两个探针支架的底端分别安装在两个探针台(1)上,两个探针分别安装在探针支架顶端;PD芯片治具用于安装PD芯片,且PD芯片治具上设有光纤夹头支架;测试时,通过三轴位移平台调节探针台(1)和PD芯片治具的位置;
所述光源部分包括光源装置(6)和会聚光插针(5),会聚光插针(5)与光源装置(6)通过光纤连接,会聚光插针(5)安装在光纤夹头支架上,使会聚光插针(5)垂...

【专利技术属性】
技术研发人员:侯炳泽刘兆东王志文宋小飞
申请(专利权)人:大连优迅科技有限公司
类型:新型
国别省市:辽宁;21

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