测量装置和测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供测量装置和测量方法，所述测量装置(10)包括：发光部(13)，照射与成为被测量对象的光纤光学部件(20)耦合的脉冲光；受光部(15)，检测被测量光，该被测量光基于由发光部(13)照射的脉冲光产生且向与脉冲光的传播方向相反方向传播；以及控制部(11)，基于由受光部(15)检测的被测量光的检测信号，计算与光纤光学部件(20)关联的参数，控制部(11)判断计算的参数是否超过规定阈值，判断为计算的参数超过了规定阈值时，使脉冲光的平均强度下降。

Measuring devices and methods

【技术实现步骤摘要】
测量装置和测量方法相关申请的交叉参考本申请主张2018年9月25日向日本特许厅提交的日本专利申请2018-179049号的优先权，并且将该申请的全部公开内容并入本文以供参照。
本专利技术涉及测量装置和测量方法。
技术介绍
在包括光纤等的光纤光学部件中以往公知一种与测量装置关联的技术，该测量装置进行光纤光学部件的故障点的搜索和该故障点的光损失测量等。例如，在专利文献1中公开了一种光脉冲试验装置，当确认光纤的熔接和接合时，能够缩短并减少用户进行与OTDR(OpticalTimeDomainReflectometer光时域反射仪)的测量监测相关的时间。现有技术文献专利文献1：日本专利公开公报特开2012-163481号在使用这种光纤光学部件的测量中，例如存在多个成为被测量对象的光纤光学部件时、以及光纤光学部件的光波导部分断裂时等，用户需要取下与测量装置连接的一个光纤光学部件并重新与其他光纤光学部件连接。此时，如果持续从测量装置照射脉冲光，则例如测量装置的光射出端面有可能烧损。因此，用户更换与测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，其特征在于包括：/n发光部，照射与成为被测量对象的光纤光学部件耦合的脉冲光；/n受光部，检测被测量光，所述被测量光基于由所述发光部照射的所述脉冲光产生且向与所述脉冲光的传播方向相反方向传播；以及/n控制部，基于由所述受光部检测的所述被测量光的检测信号，计算与所述光纤光学部件关联的参数，/n所述控制部判断计算的所述参数是否超过规定阈值，判断为计算的所述参数超过了规定阈值时，使所述脉冲光的平均强度下降。/n

【技术特征摘要】
20180925 JP 2018-1790491.一种测量装置，其特征在于包括：
发光部，照射与成为被测量对象的光纤光学部件耦合的脉冲光；
受光部，检测被测量光，所述被测量光基于由所述发光部照射的所述脉冲光产生且向与所述脉冲光的传播方向相反方向传播；以及
控制部，基于由所述受光部检测的所述被测量光的检测信号，计算与所述光纤光学部件关联的参数，
所述控制部判断计算的所述参数是否超过规定阈值，判断为计算的所述参数超过了规定阈值时，使所述脉冲光的平均强度下降。


2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，
所述控制部基于所述检测信号，取得将纵轴作为所述被测量光的光强度且将横轴作为距离的测量波形，
所述控制部设定所述测量波形中的规定的距离位置，并且计算设定的所述规定的距离位置的所述参数。


3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，
所述光纤光学部件包括光纤，
所述被测量光包括在所述测量装置中的与所述光纤的耦合部反射的反射光，
所述规定的距离位置与所述耦合部对应。


4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，
所述参数包括反射衰减量，
所述控制部基于所述反射光的所述检测信号来计算所述耦合部中的所述反射衰减量，
所述控制部判断为计算的所述反射衰减量比规定阈值小时使所述脉冲光的平均强度下降。


5.根据权利要求3或4所述的测量装置，其特征在于，
所述参数包括所述反射光的光强度，
所述控制部基于所述反射光的所述检测信号来计算所述耦合部中的所述反射光的光强度，
所述控制部判断为计算的所述反射光的光强度比规定阈值大时使所述脉冲光的平均强度下降。

【专利技术属性】
技术研发人员：青木省一，
申请(专利权)人：横河电机株式会社，横河计测株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP