一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法制造方法及图纸

本申请公开了一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法，包括：供电切换电路，用于切换主供电装置和辅助供电装置作为供电电源通过固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；供电开关，用于控制主供电装置和辅助供电装置的供电时间；本申请利用供电切换电路和辅助供电装置不仅实现了对固态硬盘的下电测试，还能够确保在主供电装置下电后，由供电切换电路让辅助供电装置继续对固态硬盘除电压检测电路外的模块继续供电，既不会阻碍固态硬盘触发断电保护，也确保了固态硬盘能够完整执行完断电保护，记录期间的执行过程至运行日志中，为后续利用固态硬盘的运行日志分析和完善固态硬盘的断电保护提供了基础，使用户能快速定位问题，提高研发效率。

A device and method for testing the abnormal power on and off of SSDs

【技术实现步骤摘要】
一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法
本专利技术涉及自动化控制领域，特别涉及一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法。
技术介绍
众所周知，与机械硬盘相比，固态硬盘在速度，功耗，容量，噪声，可靠性等性能方面具有较大优势，在现阶段，尽管前者在价格上有一定优势，但是随着大容量FLASH闪存颗粒(FlashEEPROMMemory，闪存存储器芯片)的出现，固态硬盘的也会越来越低，使其更广泛应用于服务器、存储等设备中。但在服务器和存储领域，企业级固态硬盘不同于消费级固态硬盘，要求固态硬盘异常断电时，能够保证DRAM(DynamicRandomAccessMemory，动态随机存存储器)数据刷新保存到FLASH，所对应的FTL表(FlashTranslationLayer，闪存转换层)不被破坏，实现下一次固态硬盘正常上电后正常识别和运行，通过固态硬盘主板上的储能电容完成异常掉电时的数据保护。但是，在固态硬盘前期研发阶段，如何实现固态硬盘的自动化上下电测试，特别是当服务器或者存储设备给固态硬盘断电后，有些为了解决软件开发过程中的异常下电bug问题，检查代码逻辑和功能，保证固态硬盘控制器能够被正常供电和运-行，打印对应的日志和寄存器信息，方便问题定位，是摆在现有软件研发人员面前的主要问题。为了解决上述问题，需要一种用于模拟固态硬盘异常上下电的测试装置和方法，方便软件定位问题，提高研发的开发效率，缩短固态硬盘产品的研发周期。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法，方便软件定位问题，提高研发的开发效率，缩短固态硬盘产品的研发周期。其具体方案如下：一种固态硬盘异常上下电测试装置，包括：测试PC机、所述测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；所述供电开关的第一控制端与所述主供电装置连接，所述供电开关的第二控制端与所述辅助供电装置连接，所述主供电装置分别与所述供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，所述辅助供电装置与所述供电切换电路的第二输入端连接，所述供电切换电路的输出端连接所述固态硬盘的DC/DC转换电路，所述测试PC机与所述固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；所述主供电装置和所述辅助供电装置均用于通过所述供电切换电路向所述固态硬盘供电，所述主供电装置还用于为所述测试PC机供电；所述供电切换电路，用于切换所述主供电装置和所述辅助供电装置作为供电电源通过所述固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；所述供电开关，用于控制所述主供电装置和辅助供电装置的供电时间。可选的，所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路向所述固态硬盘的固态硬盘控制器、NANDFLASH和DDRSDRAM供电。可选的，所述测试PC机，还用于获取所述固态硬盘中的运行日志和内部寄存器数据。可选的，所述测试PC机通过PCIe3.0x4接口和相应的U.2转接治具与所述固态硬盘的所述固态硬盘控制器通信连接；所述主供电装置通过所述PCIe3.0x4接口和所述U.2转接治具与所述供电切换电路和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。可选的，所述主供电装置和所述辅助供电装置的输出电压为12V。可选的，所述供电开关包括：供电电源、第一继电器、第二继电器和MCU；所述供电电源分别与所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU连接，所述MCU分别与所述第一继电器和所述第二继电器连接，所述第一继电器与所述主供电装置连接，所述第二继电器与所述辅助供电装置连接；所述供电电源，用于向所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU供电；所述MCU，用于控制所述第一继电器和所述第二继电器的闭合时间；所述第一继电器，用于控制所述主供电装置的供电时间；所述第二继电器，用于控制所述辅助供电装置的供电时间。可选的，所述主供电装置的开关与所述第一继电器连接，所述第一继电器控制所述主供电装置的开关；所述主供电装置的输出端分别与所述供电切换电路第一输入端连接和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。可选的，所述辅助供电装置输出端通过所述第二继电器与所述供电切换电路连接，以向所述固态硬盘供电。可选的，所述供电切换电路包括第一二极管和第二二极管；所述第一二极管的阳极作为所述供电切换电路的第一输入端与所述主供电装置连接，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极相连，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极的公共端作为所述供电切换电路的输出端与所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路连接，所述第二二极管的阳极作为所述供电切换电路的第二输入端与所述辅助供电装置连接。本专利技术还公开了一种固态硬盘异常上下电测试方法，应用于如前述的固态硬盘异常上下电测试装置，包括：判断上下电循环次数是否大于预设的循环阈值；若未达到所述循环阈值，则在预设的第一延时时间后，控制主供电装置向待测的固态硬盘供电；在预设的第二延时时间后，控制辅助供电装置向所述固态硬盘供电；所述固态硬盘在得电后，与测试PC机正常通信运行预设的第三延时时间后，控制所述主供电装置停止向所述固态硬盘供电；在预设的第四延时时间后，控制所述辅助供电装置停止向所述固态硬盘供电；上下电循环次数加一，继续判断上下电循环次数，直至上下电循环次数大于所述循环阈值；其中，第四延时时间的计时起始点为第三延时时间的结束点。本专利技术中，固态硬盘异常上下电测试装置，包括：测试PC机、测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；供电开关的第一控制端与主供电装置连接，供电开关的第二控制端与辅助供电装置连接，主供电装置分别与供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，辅助供电装置与供电切换电路的第二输入端连接，供电切换电路的输出端连接固态硬盘的DC/DC转换电路，测试PC机与固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；主供电装置和辅助供电装置均用于通过供电切换电路向固态硬盘供电，主供电装置还用于为测试PC机供电；供电切换电路，用于切换主供电装置和辅助供电装置作为供电电源通过固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；供电开关，用于控制主供电装置和辅助供电装置的供电时间。本专利技术利用供电切换电路和辅助供电装置不仅实现了对固态硬盘的下电测试，还能够确保在主供电装置下电后，由供电切换电路让辅助供电装置继续对固态硬盘除电压检测电路外的模块继续供电，既不会阻碍固态硬盘触发断电保护，也确保了固态硬盘能够完整执行完断电保护，记录期间的执行过程至运行日志中，为后续利用固态硬盘的运行日志分析和完善固态硬盘的断电保护过程提供了基础，能够使用户快速定位问题所在，提高研发效率，缩短研发周期。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，包括：测试PC机、所述测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；/n所述供电开关的第一控制端与所述主供电装置连接，所述供电开关的第二控制端与所述辅助供电装置连接，所述主供电装置分别与所述供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，所述辅助供电装置与所述供电切换电路的第二输入端连接，所述供电切换电路的输出端连接所述固态硬盘的DC/DC转换电路，所述测试PC机与所述固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；/n所述主供电装置和所述辅助供电装置均用于通过所述供电切换电路向所述固态硬盘供电，所述主供电装置还用于为所述测试PC机供电；/n所述供电切换电路，用于切换所述主供电装置和所述辅助供电装置作为供电电源通过所述固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；/n所述供电开关，用于控制所述主供电装置和辅助供电装置的供电时间。/n

【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，包括：测试PC机、所述测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；
所述供电开关的第一控制端与所述主供电装置连接，所述供电开关的第二控制端与所述辅助供电装置连接，所述主供电装置分别与所述供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，所述辅助供电装置与所述供电切换电路的第二输入端连接，所述供电切换电路的输出端连接所述固态硬盘的DC/DC转换电路，所述测试PC机与所述固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；
所述主供电装置和所述辅助供电装置均用于通过所述供电切换电路向所述固态硬盘供电，所述主供电装置还用于为所述测试PC机供电；
所述供电切换电路，用于切换所述主供电装置和所述辅助供电装置作为供电电源通过所述固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；
所述供电开关，用于控制所述主供电装置和辅助供电装置的供电时间。


2.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路向所述固态硬盘的固态硬盘控制器、NANDFLASH和DDRSDRAM供电。


3.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述测试PC机，还用于获取所述固态硬盘中的运行日志和内部寄存器数据。


4.根据权利要求3所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述测试PC机通过PCIe3.0x4接口和相应的U.2转接治具与所述固态硬盘的所述固态硬盘控制器通信连接；
所述主供电装置通过所述PCIe3.0x4接口和所述U.2转接治具与所述供电切换电路和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。


5.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述主供电装置和所述辅助供电装置的输出电压为12V。


6.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述供电开关包括：供电电源、第一继电器、第二继电器和MCU；
所述供电电源分别与所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU连接，所述MCU分别与所述第一继电器和所述第二继电器连接，所述第一继电器与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘福东，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32