一种基于多偏置误差的大型高速回转装备圆柱轮廓测量模型制造技术

本发明专利技术公开了一种基于多偏置误差的大型高速回转装备圆柱轮廓测量模型。所述测量模型包括七个偏置误差分量，分别是偏心误差(α,e)，几何轴线倾斜误差γ，传感器测头偏移误差d

A cylinder profile measurement model of large-scale high-speed rotating equipment based on multiple offset errors

【技术实现步骤摘要】
一种基于多偏置误差的大型高速回转装备圆柱轮廓测量模型
本专利技术属于表面形状测量
；具体涉及一种基于多偏置误差的大型高速回转装备圆柱轮廓测量模型。
技术介绍
圆柱度误差是反映回转类零件表面形状的核心技术指标。随着精密工程技术和航空航天技术的发展，回转类零件圆柱度误差的精度要求越来越高，如某型号航空发动机低压涡轮轴的圆柱度误差要求在5μm以内；尽管测量仪器具有较高的精度，但各系统误差的绝对存在对回转类零件表面形状的测量产生很大影响，因此应该研究大型高速回转装备测量系统可能存在的偏置误差源，通过“软技术”进一步提升回转类零件的测量精度。目前国内外对圆柱轮廓测量的研究主要集中于被测试件的整体偏心误差及其几何轴线相对于测量回转轴线不重合而造成的倾斜误差，Murthy最先提出了双参数圆柱轮廓测量模型，将被测试件倾斜误差对偏心的二次影响考虑到模型中。Whitehouse在圆柱轮廓测量时分析了竖直导轨误差的影响机理，考虑其在测量方向上的线性误差并加以补偿。黄景志在圆轮廓测量中注意到当传感器测量方向不通过仪器回转中心时会造成较大测量误差，建立了考本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于多偏置误差的大型高速回转装备圆柱轮廓测量模型，其特征在于，所述测量模型包括七个偏置误差分量，分别是偏心误差(α,e)即被测试件基面中心与转台回转中心的偏差量，几何轴线倾斜误差γ，传感器测头偏移误差d

【技术特征摘要】
1.一种基于多偏置误差的大型高速回转装备圆柱轮廓测量模型，其特征在于，所述测量模型包括七个偏置误差分量，分别是偏心误差(α,e)即被测试件基面中心与转台回转中心的偏差量，几何轴线倾斜误差γ，传感器测头偏移误差dj，j＝1,2,…,p,p为采样截面数，传感器测球半径r，传感器测头支杆倾斜误差水平导轨轴线倾斜误差w和竖直导轨轴线倾斜误差φ，圆柱轮廓不同高度截面处的测量模型为：



式中，ρij—被测试件圆柱轮廓上第j截面第i，i＝1,2,…,n,n为各截面的采样点数，测点到瞬时测量中心O3j的距离；Δrij—被测试件圆柱轮廓的表面加工误差；rij—第i测量点到几何中心O2j的距离；ej—复合偏心量；αj—复合偏心角；dj—传感器测头偏移量；r—传感器测头半径；—传感器测头支杆倾斜角；Lj—水平导轨的运动距离；w—水平导轨轴线倾斜角；τ—水平导轨轴线倾斜误差与垂直测量方向的夹角；zj—被测截面高度；φ—竖直导轨轴线倾斜角；ε—竖直导轨轴线倾斜误差与测量方向的夹角；γ—几何轴线倾斜误差；θij—相对于转台回转中心O1j的采样角度；—相对于截面几何中心O2j的采样角度。


2.根据权利要求1所述测量模型，其特征在于，所述测量模型的截面j的测点i到几何中心O2j的距离rij为：



式中，β—被测试件几何轴线在测量平面上的投影与测量方向的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙传智，刘永猛，谭久彬，王晓明，王宏业，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙;23