【技术实现步骤摘要】
一种集成电路布局数据的处理方法
本专利技术涉及集成电路数据处理
,具体为一种集成电路布局数据的处理方法。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件,采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步,它在电路中用字母“IC”表示,集成电路具有体积小,重量轻,引出线和焊接点少,寿命长,可靠性高,性能好等优点,同时成本低,便于大规模生产,它不仅在工、民用电子设备如收录机、电视机、计算机等方面得到广泛的应用,同时在军事、通讯、遥控等方面也得到广泛的应用,用集成电路来装配电子设备,其装配密度比晶体管可提高几十倍至几千倍,设备的稳定工作时间也可大大提高,集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术,主要体现在加工设备,加工工艺,封装测试,批量生产及设计创新的能力上,集成电路按其功能、结构的不同,可以分为模拟集 ...
【技术保护点】
1.一种集成电路布局数据的处理方法,其特征在于:具体包括以下步骤:/nS1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台,然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上,通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试,测试完成后,生成N个测试结果,然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储,在数据库内对芯片进行的测试项目、极限单位以及变化量极限值逐个进行标记,同时对每个集成电路芯片的测试结果进行标记,生成文件名;/nS2、当需要对数据库内的芯片测试数据进行布局整理时,通过关键词检索对数据库内的相关测试结果进行提取,将数据提取到操作页面上,按照数据的大小、测试项目、极限单位 ...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路布局数据的处理方法,其特征在于:具体包括以下步骤:
S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台,然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上,通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试,测试完成后,生成N个测试结果,然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储,在数据库内对芯片进行的测试项目、极限单位以及变化量极限值逐个进行标记,同时对每个集成电路芯片的测试结果进行标记,生成文件名;
S2、当需要对数据库内的芯片测试数据进行布局整理时,通过关键词检索对数据库内的相关测试结果进行提取,将数据提取到操作页面上,按照数据的大小、测试项目、极限单位以及变化量极限值进行重新排列组合,使得得到规整性数据;
S3、根据S2中将重新布局后的数据进行逻辑操作,得到集成布局数据,并且对该集成电路布局数据进行数据校验处理,保证数据的完整性,最后将布局完成后的集成电路数据重新发送至数据库内,并做好备注处理,用以区分未布局以及已布局的集成电路数据;
S4、根据S3对已布局后的集成...
【专利技术属性】
技术研发人员:向彦瑾,
申请(专利权)人:四川豪威尔信息科技有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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