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本发明公开了一种集成电路布局数据的处理方法，具体包括以下步骤：S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结...
该专利属于四川豪威尔信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川豪威尔信息科技有限公司授权不得商用。

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