阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置。阵列基板包括栅极驱动区域，栅极驱动区域设置有栅极驱动电路，栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元，移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在第一检测点和第二检测点之间的子电路。本实施例的故障激发方法包括：在预设时长内，将第一检测点与第二检测点之间的压差设置为预定压差，若子电路不存在潜在故障，则子电路不导通，若子电路存在潜在故障，则潜在故障在预定压差的作用下被激发为实际故障。本实施例能够避免存在潜在故障的阵列基板进入后续制程，以降低生产成本并提高良品率；并能够避免施加在两个检测点之间的电压对阵列基板产生破坏。

Potential fault excitation and detection method, display panel and display device of array substrate

【技术实现步骤摘要】
阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置
本申请涉及显示
，具体而言，本申请涉及一种阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，OLED)产品具有轻薄、亮度高、功耗低、柔性好等优点，因此具有良好的应用前景。制约OLED产品发展的主要原因是OLED的生产成本较高，而造成OLED生产成本较高的主要原因是蒸镀制程的成本高。因此，需要对阵列基板进行测试，以避免存在故障的阵列基板进入到蒸镀制程。针对阵列基板GOA(GateDriveOnArray，阵列基板栅极驱动)区域的信赖性测试，是阵列基板的重要测试之一。GOA区域存在的实际故障很容易在信赖性测试中检测出来，但存在的潜在故障，由于潜在故障在没有恶化而转变为实际故障之前，不会引发功能性问题，因此，潜在故障难以在信赖性测试中检测出来。这些潜在故障随时可能在后续制程或OLED产品的使用中转变为实际故障。这些存在潜在故障的阵列基板进入后续制程，一方面会造成资源的浪费，使得生产成本增加，另一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板潜在故障激发方法，所述阵列基板包括栅极驱动区域，所述栅极驱动区域包括导电层和绝缘层，所述导电层和所述绝缘层形成栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元，所述移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在所述第一检测点和所述第二检测点之间的子电路，其特征在于，所述阵列基板的潜在故障激发方法包括：/n在预设时长内，将所述第一检测点与所述第二检测点之间的压差设置为预定压差，若所述子电路不存在潜在故障，则所述子电路不导通以防止所述预定压差损坏所述阵列基板，若所述子电路存在潜在故障，则所述潜在故障在所述预定压差的作用下被激发为实际故障以实现对所述阵列基板的潜在故障的激发...

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板潜在故障激发方法，所述阵列基板包括栅极驱动区域，所述栅极驱动区域包括导电层和绝缘层，所述导电层和所述绝缘层形成栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元，所述移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在所述第一检测点和所述第二检测点之间的子电路，其特征在于，所述阵列基板的潜在故障激发方法包括：
在预设时长内，将所述第一检测点与所述第二检测点之间的压差设置为预定压差，若所述子电路不存在潜在故障，则所述子电路不导通以防止所述预定压差损坏所述阵列基板，若所述子电路存在潜在故障，则所述潜在故障在所述预定压差的作用下被激发为实际故障以实现对所述阵列基板的潜在故障的激发。


2.根据权利要求1所述的阵列基板潜在故障激发方法，其特征在于，所述潜在故障包括：所述绝缘层的潜在裂纹、所述导电层的潜在裂纹和/或位于所述导电层和所述绝缘层之间的颗粒物；
所述实际故障包括：所述绝缘层的潜在裂纹恶化所导致的所述子电路短路、所述导电层的潜在裂纹恶化所导致是所述子电路的断路、和/或位于所述导电层和所述绝缘层之间的颗粒物使得所述绝缘层开裂所导致的所述子电路短路。


3.根据权利要求2所述的阵列基板潜在故障激发方法，其特征在于，所述预定压差范围为10V～70V。


4.根据权利要求3所述的阵列基板潜在故障激发方法，其特征在于，所述预设时长为10S～30S。


5.根据权利要求4所述的阵列基板潜在故障激发方法，其特征在于，所述阵列基板还包括位于显示区的扫描信号线，所述移位寄存单元还包括输出控制端和至少一个信号输出端，所述子电路包括至少一个输出控制薄膜晶体，所述输出控制薄膜晶体的栅极与所述输出控制端电连接，所述输出控制薄膜晶体管的漏极与所述信号输出端连接，所述信号输出端与所述扫描信号线连接，若所述子电路不存在潜在故障，则所述子电路不导通以防止所述预定压差损坏所述阵列基板，包括：
若所述子电路不存在潜在故障，则所述输出控制薄膜晶体管不导通以使所述信号输出端不向所述扫描信号线输出信号。


6.根据权利要求1-5中任一项所述的阵列基板潜在故障激发方法，其特征在于，所述移位寄存单元包括上拉节点、电源电压输入端以及连接在所述上拉节点和所述电源电压输入端之间的第一子电路，所述第一子电路包括至少一个第一薄膜晶体管和至少一个第一控制端，其中，所述第一控制端与所述第一薄膜晶体管的栅极电连接，所述第一薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述上拉节点和所述电源电压输入端电连接；
在预设时长内，将所述第一检测点与所述第二检测点之间的压差设置为预定压差，包括：
在第一预设时长内，将所述上拉节点与所述电源电压输入端之间的压差设置为第一预设压差；
在所述第一控制端输入悬空信号，以使所述第一薄膜晶体管处于断开状态，若所述第一子电路不存在潜在故障，则所述第一薄膜晶体管的断开使所述第一子电路不导通，若所述第一子电路存在潜在故障，则所述潜在故障在所述第一预定压差的作用下被激发为实际故障。


7.根据权利要求6所述的阵列基板潜在故障激发方法，其特征在于，所述移位寄存单元还包括与所述上拉节点电连接的上拉控制单元，所述上拉控制单元包括第一信号输入端和第一时钟信号输入端；
将所述上拉节点与所述电源电压输入端之间的压差设置为第一预设压差，包括：
在所述电源电压输入端输入第一电压信号，以使所述电源电压输入端处于第一电位；
在所述第一信号输入端输入第二电压信号，在所述第一时钟信号输入端输入第一时钟信号，以使所述上拉节点处于第二电位，其中，所述第二电位与所述第一电位的差值的绝对值为所述第一预设压差。


8.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：李广耀，王东方，汪军，王海涛，王庆贺，倪柳松，黄先纯，胡洋，陈皖青，周超，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11