【技术实现步骤摘要】
用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法
本专利技术涉及一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法，属于铁电材料性能测量领域。
技术介绍
铁电体相变(也称为铁电晶体相变)，结构相变的一类，是指铁电体从一种结构状态转变成另一种结构状态的现象。温度、电场、应力等外界条件均能诱导其产生相变。相变可分为位移型相变、断健型相变，有序-无序相变等，也可分为一极铁电相变和二级铁电相变等类型。铁电晶体的相变过程往往伴随着结构和对称性的改变，同时引起热学性质、介电性、光学、热释电性等相关物理性质在相变点附近的变化，对铁电相变来说尤其如此。从顺电相到铁电相，随着对称性破缺的发生，除了出现可翻转的自发极化外，还会在居里点附近观察到显著的光学效应的异样。现有的技术主要为通过测试热学性质(如DSC)，介电性质(介电仪)，铁电(铁电仪)实现对铁电体相变的检测。具体地，现有技术中，通过对极化了的铁电陶瓷施加应力场后，采用压电法来检测剩余极化强度。其他常用测试方法还有热退极化法、铁电法、差热法。这些方法均未对外场调控和数据获取进行同步...
【技术保护点】
1.一种用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，所述激光器与所述铁电晶体光路连接，所述光电探测器与所述铁电晶体光路连接；所述外场控制器向所述铁电晶体施加外场；所述数据采集控制单元与所述外场控制器控制连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，所述激光器与所述铁电晶体光路连接，所述光电探测器与所述铁电晶体光路连接；所述外场控制器向所述铁电晶体施加外场；所述数据采集控制单元与所述外场控制器控制连接。
2.根据权利要求1所述的用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，所述外场控制器向所述数据采集控制单元传输数据连接；所述光电探测器与所述数据采集控制单元传输数据连接。
3.根据权利要求1所述的用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，所述激光器为脉冲激光器，所述脉冲激光器产生激光的脉冲频率为纳秒、皮秒或飞秒。
4.根据权利要求1所述的用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，所述激光器为高峰值功率为1064～1500nm的脉冲激光器。
5.根据权利要求1所述的用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在于，所述用于铁电晶体相变检测的光学探针还包括第一滤光片组，所述第一滤光片组设置于所述激光器与所述铁电晶体连接的光路上，且分别与所述激光器及所述铁电晶体光路连接。
6.根据权利要求1所述的用于铁电晶体相变检测的光学探针，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：李丙轩，张戈，廖文斌，黄凌雄，陈玮冬，林长浪，
申请(专利权)人：中国科学院福建物质结构研究所，
类型：发明
国别省市：福建;35
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