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本发明公开了一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法，包括：外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体，激光器与铁电晶体光路连接，光电探测器与铁电晶体光路连接；外场控制器向铁电晶体施加外场；数据采集控制单元与外场控制器...
该专利属于中国科学院福建物质结构研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院福建物质结构研究所授权不得商用。

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