一种插回损测试机制造技术

本发明专利技术提出了插回损测试机，包括：检测装置，所述检测装置包括用于对产品进行测试的测试机构；以及送料机构，其用于将产品运输至所述测试机构；以及下料机构，其用于运输经过所述测试机构测试后的产品，并分流合格产品和不合格产品。本申请通过设置检测装置、送料机构和下料机构，由上述机构互相配合，从而实现插回损测试的机械化，极大的提高了插回测试的效率。

A testing machine for insertion loss

【技术实现步骤摘要】
一种插回损测试机
本专利技术涉及光纤测试领域，具体涉及一种插回损测试机。
技术介绍
光插回损测试仪是一种常用的光通信测试仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损、回损测试以及稳定性测量，但是在现有技术中，对光纤进行插回损测试，通常都是由人工对每一条光纤进行单根测试，效率极低，上述问题是本领域亟需解决的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种能有效提高插回损测试效率的一种插回损测试机。为了解决上述技术问题，本专利技术提供的方案是：一种插回损测试机，包括：检测装置，所述检测装置包括用于对产品进行测试的测试机构；以及送料机构，其用于将产品运输至所述测试机构；以及下料机构，其用于运输经过所述测试机构测试后的产品，并分流合格产品和不合格产品。进一步的是：还包括料盘，所述料盘用于承载产品。进一步的是：所述料盘包括托盘，所述托盘上设置有若干光纤法兰以及与所述光纤法兰一一对应的插芯固定套。进一步的是：所述测试机构包括移动组件、测试插头和探测头，所述移动组件用于承载所述托盘经过所述测试插头和所述探测头之间；所述测试插头与第一测试组件连接，所述第一测试组件用于驱使所述测试插头插入所述光纤法兰，所述探测头与第二测试组件连接，所述第二测试组件用于驱使所述探测头进行测试。进一步的是：所述第一测试组件包括可升降的插头夹爪，所述插头夹爪与夹爪驱动机构连接，所述夹爪驱动机构用于驱使所述插头夹爪靠近所述光纤法兰；所述第二测试组件包括插芯压板、探头固定件和探头驱动机构，所述插芯压板可靠近或远离所述探头固定件，所述探头驱动机构包括探头升降机构和探头推动机构，所述探头升降机构用于驱使所述探头固定件升降，所述探头推动机构用于驱使所述探头固定件和所述插芯压板同时靠近或远离所述插芯固定套。进一步的是：所述移动组件包括位于所述测试插头和所述探测头之间移动滑台，所述移动滑台上滑动配合有盘体定位机构，所述盘体定位机构用于承载并定位所述料盘。进一步的是：所述盘体定位机构包括承载壳，所述承载壳的宽度方向的两端设置有第一定位组件，所述承载壳的长度方向的两端设置有第二定位组件，所述第一定位组件用于在所述承载壳体的宽度方向上对所述料盘定位，所述第二定位组件用于在所述承载壳的长度方向上对所述料盘定位。进一步的是：所述第一定位组件包括设置于所述承载壳宽度方向一端的第一固定件，以及设置于所述承载壳宽度方向另一端的第一伸缩件，所述第一伸缩件可靠近或远离所述第一固定件；所述第二定位组件包括设置于所述承载壳长度方向一端的第二固定件，以及设置于所述承载壳长度方向另一端的第二伸缩件，所述第二伸缩件可靠近或远离所述第二固定件。进一步的是：所述送料机构包括第一输送机构、预定位机构、上料机械手，所述第一输送机构用于将产品运输至所述预定位机构，所述上料机械手用于将产品从所述预定位机构抓取至所述测试机构。进一步的是：所述下料机构包括第一下料机械手、第二下料机械手和第二输送机构，所述第一下料机械手用于将合格产品抓取至所述第二输送机构，所述第一下料机械手用于抓取不合格产品。本专利技术的有益效果：本申请通过设置检测装置、送料机构和下料机构，由上述机构互相配合，从而实现插回损测试的机械化，极大的提高了插回测试的效率。附图说明图1为本申请的立体示意图；图2为本申请的俯视图；图3为料盘的俯视图；图4为第一测试组件的示意图；图5为第二测试组件的示意图；图6为移动组件示意图；图7为盘体定位机构示意图；附图标记如下：检测装置1、移动组件11、移动滑台111、盘体定位机构112、承载壳1121、第一固定件1122、第一伸缩件1123、第二固定件1124、第二伸缩件1125、测试插头12、探测头13、第一测试组件14、插头夹爪141、第一夹爪气缸142、第二夹爪气缸143、第三夹爪气缸144、第二测试组件15、插芯压板151、探头固定件152、压板气缸153、探头升降机构154、探头推动机构155、第一输送机构21、预定位机构22、上料机械手23、第一下料机械手31、第二下料机械手32、第二输送机构33、料盘4、托盘41、光纤法兰42、插芯固定套43、光纤5。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施。下述公开了多种不同的实施所述的主题技术方案的实施方式或实施例。为简化公开内容，下面描述了各特征存在的一个或多个排列的具体实施例，但所举实施例不作为对本专利技术的限定,在说明书中随后记载的第一特征与第二特征连接，即可以包括直接联系的实施方式，也可以包括形成附加特征的实施方式，进一步的，也包括采用一个或多个其他介入特征使第一特征和第二特征彼此间接连接或结合，从而第一特征和第二特征可以不直接联系。在一些实施例中，一种插回损测试机，包括：检测装置1、送料机构、下料机构和料盘4。其中，检测装置1包括用于对产品进行测试的测试机构；送料机构用于将产品运输至测试机构；下料机构用于运输经过测试机构测试后的产品，并分流合格产品和不合格产品。在本申请中，将一组多个SC光纤5通过送料机构输送入检测机构，通过检测机构对该组多个SC光纤5中的每一光纤5分别进行检查，当检测完成后记录测试数据，通过下料机构对完成测试后的光纤5下料和分流，将通过测试的光纤5和未通过测试的光纤5分开。为了便于理解，对本申请的各个机构分别进行具体说明。在本申请的实施例中，为了便于运输光纤5，还包括多个料盘4，料盘4用于承载SC光纤5产品，具体的，料盘4包括托盘41，托盘41上一侧固定有若干光纤法兰42，该托盘41上与光纤法兰42相对的另一侧固定有与光纤法兰42一一对应的插芯固定套43，在承载光纤5时，将SC光纤5上设置有SC接口的一端与光纤法兰42配合，另一端插入至插芯固定套43内即可对光纤5进行固定。其中，测试机构包括移动组件11、测试插头12和探测头13，移动组件11用于承载并带动托盘41经过测试插头12和探测头13之间，测试插头12与第一测试组件14连接，第一测试组件14用于驱使测试插头12插入光纤法兰42，探测头13与第二测试组件15连接，第二测试组件15用于驱使探测头13进行测试，即，当移动组件11承载托盘41时，托盘41上设置有光纤法兰42的一侧靠近第一测试组件14，另一侧靠近第二测试组件15。在一些实施例中，第一测试组件14包括可升降的插头夹爪141，该插头夹爪141用于抓取测试插头12，插头夹爪141与夹爪驱动机构连接，夹爪驱动机构用于驱使插头夹爪141靠近光纤法兰42，具体的，夹爪顶部连接有驱动夹爪升降的第一夹爪气缸142，夹爪驱动机构包括与该第一夹爪气缸142连接的第二夹爪气缸143，第二夹爪气缸143用于驱使夹爪靠近或远离光纤法兰42，优选的，第二夹爪气缸143通过一连接板还与一第三夹爪气本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种插回损测试机，包括：/n检测装置，所述检测装置包括用于对产品进行测试的测试机构；以及/n送料机构，其用于将产品运输至所述测试机构；以及/n下料机构，其用于运输经过所述测试机构测试后的产品，并分流合格产品和不合格产品。/n

【技术特征摘要】
1.一种插回损测试机，包括：
检测装置，所述检测装置包括用于对产品进行测试的测试机构；以及
送料机构，其用于将产品运输至所述测试机构；以及
下料机构，其用于运输经过所述测试机构测试后的产品，并分流合格产品和不合格产品。


2.如权利要求1所述的一种插回损测试机，其中，还包括料盘，所述料盘用于承载产品。


3.如权利要求2所述的一种插回损测试机，其中，所述料盘包括托盘，所述托盘上设置有若干光纤法兰以及与所述光纤法兰一一对应的插芯固定套。


4.如权利要求3所述的一种插回损测试机，其中，所述测试机构包括移动组件、测试插头和探测头，所述移动组件用于承载所述托盘经过所述测试插头和所述探测头之间；
所述测试插头与第一测试组件连接，所述第一测试组件用于驱使所述测试插头插入所述光纤法兰，所述探测头与第二测试组件连接，所述第二测试组件用于驱使所述探测头进行测试。


5.如权利要求4所述的一种插回损测试机，其中，所述第一测试组件包括可升降的插头夹爪，所述插头夹爪与夹爪驱动机构连接，所述夹爪驱动机构用于驱使所述插头夹爪靠近所述光纤法兰；
所述第二测试组件包括插芯压板、探头固定件和探头驱动机构，所述插芯压板可靠近或远离所述探头固定件，所述探头驱动机构包括探头升降机构和探头推动机构，所述探头升降机构用于驱使所述探头固定件升降，所述探头推动机构用于驱使所述探头固定件和所述插芯压板同时靠近或远离所述插芯固定套。


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【专利技术属性】
技术研发人员：郭继明，庞发如，徐文金，
申请(专利权)人：洪雅创捷通信有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51