【技术实现步骤摘要】
光器件高低温跟踪误差测试装置
本技术属于光通讯设备
，涉及一种光器件高低温跟踪误差测试装置。
技术介绍
工业级的光通讯模块的工作温度在-40℃~+85℃的范围，在这么宽的温度范围内，光芯片的性能并不是恒定不变的，因此需要一个指标标定光器件的性能是否满足光通讯模块要求。TE(TrackingError)，跟踪误差，其定义是在两个不同温度条件下的光纤输出功率的比值，它是度量器件耦合效率稳定性的参数，单位为dB。跟踪误差是影响模块输出光功率稳定性的重要指标。模块在高低温输出光功率发生变化，通常是由于跟踪误差引起的（若激光器在高温下没有过早饱和）。TE的值反映了器件在高低温的情况下器件的稳定性。包括温度在-40℃-+85℃的范围，光路结构的稳定性，LD芯片发光斜效率的稳定性，MPD光电转换的稳定性，LD芯片前光与背光比率的稳定性。因此，光器件的TE值是光模块生产厂商必须测试的指标之一，目前常用的TE测试大部分厂商是通过高低温烘箱测试，缺点是升温和降温的过程比较缓慢，通常需要30-45分钟的时间做一个循环...
【技术保护点】
1.一种光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：包括平台基板（1），所述平台基板（1）上表面设置控制电路板（2），控制电路板（2）上设置光器件供电端口（7）；平台基板（1）上还设置有导轨（5），高低温箱（4）与所述导轨（5）滑动配合连接，平台基板（1）上对应于导轨（5）的端部位置处设置光器件夹具（3）；高低温箱（4）内部从上往下依次设置水箱（41）、半导体制冷器（42）、散热片（44）、风扇（43），所述半导体制冷器（42）与光器件供电端口（7）电连接；高低温箱（4）沿导轨（5）滑动至高低温工作位置时，光器件夹具（3）与高低温箱（4）的下部开口位置相配合，形成封闭箱体；所...
【技术特征摘要】
1.一种光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：包括平台基板（1），所述平台基板（1）上表面设置控制电路板（2），控制电路板（2）上设置光器件供电端口（7）；平台基板（1）上还设置有导轨（5），高低温箱（4）与所述导轨（5）滑动配合连接，平台基板（1）上对应于导轨（5）的端部位置处设置光器件夹具（3）；高低温箱（4）内部从上往下依次设置水箱（41）、半导体制冷器（42）、散热片（44）、风扇（43），所述半导体制冷器（42）与光器件供电端口（7）电连接；高低温箱（4）沿导轨（5）滑动至高低温工作位置时，光器件夹具（3）与高低温箱（4）的下部开口位置相配合，形成封闭箱体；所述水箱（41）通过水管（8）连通水冷循环水箱（6）。
2.如权利要求1所述的光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：所述控制电路板（2）通过六角螺纹柱紧固连接于平台基板（1）上。
3.如权利要求1所述的光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：所述光器件夹具（3）...
【专利技术属性】
技术研发人员：周鸽，李略，
申请(专利权)人：无锡市德科立光电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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