光器件高低温跟踪误差测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于光通讯设备技术领域，涉及一种光器件高低温跟踪误差测试装置，包括平台基板，所述平台基板上表面设置控制电路板，控制电路板上设置光器件供电端口；平台基板上还设置有导轨，高低温箱与所述导轨滑动配合连接，平台基板上对应于导轨的端部位置处设置光器件夹具；高低温箱内部从上往下依次设置水箱、半导体制冷器、散热片、风扇。该测试装置能在短时间内完成‑40℃~+85℃的高低温变化，并且能够批量测试光器件跟踪误差的小型化光器件高低温性能测试装置，从而提高光器件性能测试的效率，降低生产成本。

High and low temperature tracking error testing device for optical devices

【技术实现步骤摘要】
光器件高低温跟踪误差测试装置
本技术属于光通讯设备
，涉及一种光器件高低温跟踪误差测试装置。
技术介绍
工业级的光通讯模块的工作温度在-40℃~+85℃的范围，在这么宽的温度范围内，光芯片的性能并不是恒定不变的，因此需要一个指标标定光器件的性能是否满足光通讯模块要求。TE(TrackingError)，跟踪误差，其定义是在两个不同温度条件下的光纤输出功率的比值，它是度量器件耦合效率稳定性的参数，单位为dB。跟踪误差是影响模块输出光功率稳定性的重要指标。模块在高低温输出光功率发生变化，通常是由于跟踪误差引起的（若激光器在高温下没有过早饱和）。TE的值反映了器件在高低温的情况下器件的稳定性。包括温度在-40℃-+85℃的范围，光路结构的稳定性，LD芯片发光斜效率的稳定性，MPD光电转换的稳定性，LD芯片前光与背光比率的稳定性。因此，光器件的TE值是光模块生产厂商必须测试的指标之一，目前常用的TE测试大部分厂商是通过高低温烘箱测试，缺点是升温和降温的过程比较缓慢，通常需要30-45分钟的时间做一个循环，测试一次时间需要1个小时。有部分厂商通过使用热流仪，在一个密闭的小空间，可以快速升降温，能够在短时间能测试光器件的TE值，但热流仪价格较高，因此，需要一种测试效率高，价格便宜的光通讯器件高低温跟踪误差测试装置。
技术实现思路
本技术针对上述问题，提供一种光器件高低温跟踪误差测试装置，该测试装置能在短时间内完成-40℃~+85℃的高低温变化，并且能够批量测试光器件跟踪误差的小型化光器件高低温性能测试装置，从而提高光器件性能测试的效率，降低生产成本。按照本技术的技术方案：一种光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：包括平台基板，所述平台基板上表面设置控制电路板，控制电路板上设置光器件供电端口；平台基板上还设置有导轨，高低温箱与所述导轨滑动配合连接，平台基板上对应于导轨的端部位置处设置光器件夹具；高低温箱内部从上往下依次设置水箱、半导体制冷器、散热片、风扇，所述半导体制冷器与光器件供电端口电连接；高低温箱沿导轨滑动至高低温工作位置时，光器件夹具与高低温箱的下部开口位置相配合，形成封闭箱体；所述水箱通过水管连通水冷循环水箱。作为本技术的进一步改进，所述控制电路板通过六角螺纹柱紧固连接于平台基板上。作为本技术的进一步改进，所述光器件夹具包括光器件夹具支架，光器件夹具支架上安装多个光模块外壳，每个光模块外壳的一端均连接光纤跳线，光模块外壳另一端均连接光器件的一端，光器件的另一端通过管脚定位器连接供电线缆，所述供电线缆与光器件供电端口相连接。作为本技术的进一步改进，所述控制电路板上设置有上位机控制电路板读取光功率计。作为本技术的进一步改进，所述水管包括进水管和回水管。作为本技术的进一步改进，所述高低温箱朝向光器件夹具一侧的下部设置光器件夹具进出口，光器件夹具进出口与光器件夹具相配合后形成封闭箱体。作为本技术的进一步改进，所述高低温箱上设置有手柄。本技术的技术效果在于：本装置利用防静电保温材料做成小型化的保温箱，采用半导体制冷器和水冷循环系统快速降温，通过加热棒快速升温，达到在短时间内完成高低温循环；加热元件为电阻丝，制冷元件为半导体制冷器，高低温箱体材料为合成石或其他防静电隔热材料，制造成本低；光器件固定夹具利用预置的光模块外壳，保证光器件和光纤处于有预紧力的对接状态，即光器件真实使用的状态，保证了连接的可靠性；操作简便，将光器件安装在固定夹具，拉动高低温箱体到位，开始测试。附图说明图1为本技术的常温状态结构示意图。图2为本技术的高低温测试状态结构示意图。图3为光器件夹具的结构示意图。图4为高低温箱的主视图。图5为高低温箱的左视图。图6为高低温箱的立体图。具体实施方式下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步的说明。图1~6中，包括平台基板1、控制电路板2、光器件夹具3、固定支撑组件31、光模块外壳32、光器件33、光纤跳线34、供电线缆35、管脚定位器36、高低温箱4、导轨5、水冷循环水箱6、光器件供电端口7、水管8、上位机控制电路板读取光功率计9等。如图1~6所示，本技术是一种光器件高低温跟踪误差测试装置，包括平台基板1，所述平台基板1上表面设置控制电路板2，控制电路板2上设置光器件供电端口7；平台基板1上还设置有导轨5，导轨5通过螺丝安装在平台基板1上，高低温箱4与所述导轨5滑动配合连接，平台基板1上对应于导轨5的端部位置处设置光器件夹具3；高低温箱4内部从上往下依次设置水箱41、半导体制冷器42、散热片44、风扇43，其中半导体制冷器42的热面与水箱41相接触，半导体制冷器42的冷面与散热片44相接触，此两接触面间均设置有导热材质（导热硅脂或导热硅胶等），以减少空气热阻；加热棒45与散热片44相接触，风扇43通过螺钉固定到散热片44上，保证高低温箱4中空气对流循环，热量均匀。半导体制冷器42与光器件供电端口7电连接；高低温箱4沿导轨5滑动至高低温工作位置时，光器件夹具3与高低温箱4的下部开口位置相配合，形成封闭箱体；所述水箱41通过水管8连通水冷循环水箱6。控制电路板2通过六角螺纹柱紧固连接于平台基板1上，可以理解的是，控制电路板2具有多种功能，包括感应高低温箱4内的温度状态，根据高低温箱4的温度控制光器件供电电流变化，控制高低温箱4加热制冷元件工作，控制电路板2设有多个按钮，可根据光器件33数量不同控制测试数量。光器件夹具3包括光器件夹具支架，光器件夹具支架上安装多个光模块外壳32，每个光模块外壳32的一端均连接光纤跳线34，光模块外壳32另一端均连接光器件33的一端，光器件33的另一端通过管脚定位器36连接供电线缆35，所述供电线缆35与光器件供电端口7相连接。其中光模块外壳32作为光器件33和光纤跳线34连接的夹具，保证光器件33和光纤跳线34连接的预紧力，连接可靠。控制电路板2上设置有上位机控制电路板读取光功率计9。水管8包括进水管和回水管，进水管和回水管分别与水箱41上设置的进水口和出水口相连接。高低温箱4朝向光器件夹具3一侧的下部设置光器件夹具进出口，光器件夹具进出口与光器件夹具3相配合后形成封闭箱体；另外一侧设置有光纤跳线34的避让口，方便光纤跳线34与外部的连接。为了使得高低温箱4具有较好的保温效果，高低温箱4的箱体材料采用合成石，或者其他防静电保温材料。高低温箱4上设置有手柄，通过拉动手柄可以将高低温箱4前后移动，使光器件33处于高低温箱4中或者离开高低温箱4。本技术产品在工作过程中，高温测试时，半导体制冷器42不工作，加热棒45发热，热量传递到散热片44，风扇43吹动高低温箱4内空气流动，使得箱体内温度快速上升。低温测试时，加热棒45不工作，半导体制冷器42工作，将热量传递到热面，热面和水箱41接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：包括平台基板（1），所述平台基板（1）上表面设置控制电路板（2），控制电路板（2）上设置光器件供电端口（7）；平台基板（1）上还设置有导轨（5），高低温箱（4）与所述导轨（5）滑动配合连接，平台基板（1）上对应于导轨（5）的端部位置处设置光器件夹具（3）；高低温箱（4）内部从上往下依次设置水箱（41）、半导体制冷器（42）、散热片（44）、风扇（43），所述半导体制冷器（42）与光器件供电端口（7）电连接；高低温箱（4）沿导轨（5）滑动至高低温工作位置时，光器件夹具（3）与高低温箱（4）的下部开口位置相配合，形成封闭箱体；所述水箱（41）通过水管（8）连通水冷循环水箱（6）。/n

【技术特征摘要】
1.一种光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：包括平台基板（1），所述平台基板（1）上表面设置控制电路板（2），控制电路板（2）上设置光器件供电端口（7）；平台基板（1）上还设置有导轨（5），高低温箱（4）与所述导轨（5）滑动配合连接，平台基板（1）上对应于导轨（5）的端部位置处设置光器件夹具（3）；高低温箱（4）内部从上往下依次设置水箱（41）、半导体制冷器（42）、散热片（44）、风扇（43），所述半导体制冷器（42）与光器件供电端口（7）电连接；高低温箱（4）沿导轨（5）滑动至高低温工作位置时，光器件夹具（3）与高低温箱（4）的下部开口位置相配合，形成封闭箱体；所述水箱（41）通过水管（8）连通水冷循环水箱（6）。


2.如权利要求1所述的光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：所述控制电路板（2）通过六角螺纹柱紧固连接于平台基板（1）上。


3.如权利要求1所述的光器件高低温跟踪误差测试装置，其特征在于：所述光器件夹具（3）...

【专利技术属性】
技术研发人员：周鸽，李略，
申请(专利权)人：无锡市德科立光电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32