一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法及系统，其通过获取参考模组的调制系数、调制指数和偏差值以建立参考Gamma曲线函数；参考绑点下，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值；利用参考模组的调制系数、参考模组的调制指数和待校正模组的预测偏差值构建待校正模组的预测Gamma曲线，利用待校正模组的预测Gamma曲线得到所有绑点下的寄存器预测初值，利用所有绑点下的寄存器预测初值对待校正模组进行Gamma校正，从而提高模组Gamma校正初始值的准确性，进而减少Gamma校正的调节次数提高模组的Gamma校正效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法及系统
本专利技术属于模组校正领域，具体涉及一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法及系统。
技术介绍
有机发光二极管（OrganicLight-EmittingDiode,OLED）显示屏又称有机电激发光显示屏，在现今显示行业占有举足轻重的地位。与薄膜晶体管液晶显示屏（TFT-LCD）为不同类型的产品，前者具有自发光性、广视角、高对比、低耗电、高反应速率、全彩化及制程简单等优点。OLED的基本结构是由一薄而透明具半导体特性之铟锡氧化物(ITO)，与电力之正极相连，再加上另一个金属阴极，包成如三明治的结构，当电力供应至适当电压时，正极空穴与阴极电荷就会在发光层中结合，产生光亮，依其配方不同产生红、绿和蓝RGB三基色，构成基本色彩。在OLED产线上，Gamma校正是一种对模组亮度及色度进行调整的迭代优化技术。其目的是使模组真实的线性响应与人眼感知下的非线性响应相协调，达到自然过渡、层次分明的发光效果。由于OLED模组在工艺上的细微噪声以及相同涂层上分子排布的差异性，导致同一产线上不同模组对电信号的响应不尽相同，这是Gamma校正的主要难点所在。并且，同一模组的响应也并非稳定（随时间变化），导致高精度Gamma校正难以实现，因此如何配置一个合适的收敛范围也是一个无法规避的问题。当前对于OLED的生产到出货都必须经过GammaTuning,以确保OLED的显示效果符合业界的2.2标准曲线。在Gamma调节过程中，对于客户要求的各个绑点，都必须满足显示要求，为此，必须得到合适的绑点RGB寄存器值。而在每个绑点GammaTuning过程中，RGB寄存器初值十分重要，初值准确就一次调过，不准确需要调节多次，花费时间。对于OLED显示屏的GammaTuning是给待测屏最大绑点一组固定的寄存器值，使用色度计CA410测得一组xyLv数据，用这组数据去匹配仅有的调节好的屏的数据，得到最接近的屏的寄存器值作为待测屏的初值。但由于屏与屏之间一点点的差异，仅匹配几块屏的数据，不能够完全覆盖这一批次屏的特性。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法及系统，其通过获取参考模组的调制系数、调制指数和偏差值以建立参考Gamma曲线函数，利用参考模组的调制系数、参考模组的调制指数和待校正模组的预测偏差值构建待校正模组的预测Gamma曲线，利用所有绑点下的寄存器预测初值对待校正模组进行Gamma校正，从而提高模组Gamma校正初始值的准确性，进而减少Gamma校正的调节次数提高模组的Gamma校正效率。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，包括如下步骤：当前调制模式下，获取参考模组的调制系数、调制指数和偏差值以建立参考Gamma曲线函数，参考Gamma曲线函数用于表征绑点与寄存器参考调制值的映射关系；当前调制模式的参考绑点下，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值，其中，寄存器参考调制值通过参考Gamma曲线函数得到，所述待校正模组的寄存器调制值通过Gamma校正得到；当前调制模式下，利用参考模组的调制系数、参考模组的调制指数和待校正模组的预测偏差值构建待校正模组的预测Gamma曲线，利用待校正模组的预测Gamma曲线得到待预测绑点下的寄存器值，作为寄存器预测初值，利用寄存器预测初值对待校正模组进行Gamma校正。作为本专利技术的进一步改进，获取参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值的具体过程为：选取一个参考模组进行Gamma校正，以获取与绑点一一对应的寄存器调制值，利用绑点和寄存器调制值进行Gamma曲线拟合得到参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值。作为本专利技术的进一步改进，获取参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值的具体过程为：选取多个模组进行Gamma校正，利用绑点和寄存器调制值进行Gamma曲线函数拟合得到多个模组的Gamma曲线，获取多个模组的Gamma曲线的调制系数均值、调制指数均值和偏差值均值，分别将所述调制系数均值、调制指数均值和偏差值均值作为参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值。作为本专利技术的进一步改进，参考绑点为最高绑点。作为本专利技术的进一步改进，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值具体为：获取参考绑点下待校正模组的寄存器调制值和寄存器参考调制值两者之间的差值，该差值与参考Gamma曲线的偏差值之和得到待校正模组的预测偏差值。作为本专利技术的进一步改进，完成预设个数的绑点Gamma校正后，利用已校正绑点的校正数据匹配样本库的样本模组，将匹配的样本模组的待校正绑点的寄存器调制值，作为待校正模组的待校正绑点的寄存器预测初值。作为本专利技术的进一步改进，利用已校正绑点的校正数据匹配样本库的样本模组具体为：已校正绑点下，待校正模组的寄存器调制值与样本模组的寄存器调制值的欧式距离，统计所有已校正绑点的欧氏距离和，欧氏距离和最小时对应的样本模组作为匹配的样本模组。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种基于曲线匹配的模组Gamma校正系统，其包括参考Gamma曲线函数获取模块、偏差值预测模块、寄存器预测初值获取模块和Gamma校正模块，参考Gamma曲线函数获取模块用于当前调制模式下，获取参考模组的调制系数、调制指数和偏差值以建立参考Gamma曲线函数，所述参考Gamma曲线函数用于表征绑点与寄存器参考调制值的映射关系；偏差值预测模块用于获取待校正模组的预测偏差值，具体为：当前调制模式的参考绑点下，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值，其中，寄存器参考调制值通过参考Gamma曲线函数得到，待校正模组的寄存器调制值通过Gamma校正得到；寄存器预测初值获取模块用于当前调制模式下，利用参考模组的调制系数、参考模组的调制指数和待校正模组的预测偏差值构建待校正模组的预测Gamma曲线，利用待校正模组的预测Gamma曲线得到待预测绑点下的寄存器值，作为寄存器预测初值；Gamma校正模块用于利用寄存器预测初值对待校正模组进行Gamma校正，使得上述系统执行上述方法的步骤。为实现上述目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种终端设备，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，存储单元存储有计算机程序，当所述程序被所述处理单元执行时，使得所述处理单元执行上述方法的步骤。为实现上述目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种计算机可读介质，其存储有可由终端设备执行的计算机程序，当所述程序在终端设备上运行时，使得所述终端设备执行上述方法的步骤。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：本专利技术的一种基于曲线匹配的模组Ga本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，其特征在于，包括如下步骤：/n当前调制模式下，获取参考模组的调制系数、调制指数和偏差值以建立参考Gamma曲线函数，所述参考Gamma曲线函数用于表征绑点与寄存器参考调制值的映射关系；/n所述当前调制模式的参考绑点下，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值，其中，所述寄存器参考调制值通过参考Gamma曲线函数得到，所述待校正模组的寄存器调制值通过Gamma校正得到；/n所述当前调制模式下，利用参考模组的调制系数、参考模组的调制指数和待校正模组的预测偏差值构建待校正模组的预测Gamma曲线，利用待校正模组的预测Gamma曲线得到待预测绑点下的寄存器值，作为寄存器预测初值，利用寄存器预测初值对待校正模组进行Gamma校正。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，其特征在于，包括如下步骤：
当前调制模式下，获取参考模组的调制系数、调制指数和偏差值以建立参考Gamma曲线函数，所述参考Gamma曲线函数用于表征绑点与寄存器参考调制值的映射关系；
所述当前调制模式的参考绑点下，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值，其中，所述寄存器参考调制值通过参考Gamma曲线函数得到，所述待校正模组的寄存器调制值通过Gamma校正得到；
所述当前调制模式下，利用参考模组的调制系数、参考模组的调制指数和待校正模组的预测偏差值构建待校正模组的预测Gamma曲线，利用待校正模组的预测Gamma曲线得到待预测绑点下的寄存器值，作为寄存器预测初值，利用寄存器预测初值对待校正模组进行Gamma校正。


2.根据权利要求1所述的一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，其特征在于，获取参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值的具体过程为：
选取一个参考模组进行Gamma校正，以获取与绑点一一对应的寄存器调制值，利用绑点和寄存器调制值进行Gamma曲线拟合得到参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值。


3.根据权利要求1所述的一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，其特征在于，获取参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值的具体过程为：
选取多个模组进行Gamma校正，利用绑点和寄存器调制值进行Gamma曲线函数拟合得到多个模组的Gamma曲线，获取多个模组的Gamma曲线的调制系数均值、调制指数均值和偏差值均值，分别将所述调制系数均值、调制指数均值和偏差值均值作为参考Gamma曲线的调制系数、调制指数和偏差值。


4.根据权利要求1所述的一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，其特征在于，所述参考绑点为最高绑点。


5.根据权利要求1-4中任一项所述的一种基于曲线匹配的模组Gamma校正方法，其特征在于，利用寄存器参考调制值、待校正模组的寄存器调制值和参考模组的偏差值得到待校正模组的预测偏差值具体为：
获取参考绑点下待校正模组的寄存器调制值和寄存器参考调制值两者之间的差值，该差值与参考Gamma曲线的偏差值之和得到待校正模组的预测偏差值。


6...

【专利技术属性】
技术研发人员：何光瑜，詹东旭，张胜森，郑增强，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42