【技术实现步骤摘要】
本申请涉及自动光学检测领域，具体涉及一种缺陷检测方法、装置及设备。
技术介绍
1、在对显示面板进行缺陷检测时，需要对显示面板显示的画面进行拍摄，从而以拍摄得到的图片为基础实现缺陷检测。
2、当拍摄得到的图片中存在“假缺陷区域”时，会对缺陷检测过程造成干扰，从而影响缺陷检测结果的准确性。其中，“假缺陷区域”是指因为光学条件有限而导致的缺陷区域，而非显示面板本身的质量问题所导致的缺陷区域。
技术实现思路
1、本申请提供一种缺陷检测方法、装置及设备，可以解决现有技术中因“假缺陷区域”的存在导致缺陷检测结果不准确的技术问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：
3、从图片组中确定与第一图片相似度最高的第二图片，其中，第一图片由摄像装置对位于第一位置的待检测显示面板显示的预设画面进行拍摄得到，图片组中的各个图片为摄像装置对位于第一位置的各个其他显示面板显示的预设画面进行拍摄得到，摄像装置固定在第二位置，待检测显示面板与各个其他显示面板为同一型号；
4、将第一图片与第二图片在特征维度进行差分，得到得分图；
5、对得分图进行阈值分割，确定大于阈值的目标区域；
6、基于目标区域在第一图片中裁剪得到缺陷判别图；
7、基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果。
8、第二方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置包括：
9、确定模块
10、差分模块，用于将第一图片与第二图片在特征维度进行差分，得到得分图；
11、阈值分割处理模块，用于对得分图进行阈值分割，确定大于阈值的目标区域；
12、裁剪模块，用于基于目标区域在第一图片中裁剪得到缺陷判别图；
13、结果确定模块，用于基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果。
14、第三方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测设备，所述缺陷检测设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的缺陷检测程序，其中所述缺陷检测程序被所述处理器执行时，实现如第一方面所述的缺陷检测方法的步骤。
15、本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果包括：
16、本申请实施例中，从图片组中确定与第一图片相似度最高的第二图片，其中，第一图片由摄像装置对位于第一位置的待检测显示面板显示的预设画面进行拍摄得到，图片组中的各个图片为摄像装置对位于第一位置的各个其他显示面板显示的预设画面进行拍摄得到，摄像装置固定在第二位置，待检测显示面板与各个其他显示面板为同一型号；将第一图片与第二图片在特征维度进行差分，得到得分图；对得分图进行阈值分割，确定大于阈值的目标区域；基于目标区域在第一图片中裁剪得到缺陷判别图；基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果。通过本申请实施例，考虑到在拍摄场景一样时，因光学条件有限而导致的缺陷区域在不同图片上出现的位置较为接近，则在得分图中对应的特征差较小，通过确定大于阈值的目标区域，相当于仅关注两图片在相同位置特征差较大的区域，从而过滤了因光学条件有限而导致的缺陷区域，避免了因光学条件有限而导致的缺陷区域对缺陷检测动作的干扰，从而提高了缺陷检测结果准确性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将第一图片与第二图片在特征维度进行差分，得到得分图的步骤包括：
3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于目标区域在第一图片中裁剪得到缺陷判别图的步骤包括：
4.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果的步骤包括：
5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测结果为缺陷类型，一张缺陷判别图及其对应的缺陷类型作为一组样本，在所述基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果的步骤之后，还包括：
6.如权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述得到缺陷检测模型的步骤之后，还包括：
7.如权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述新缺陷判别图得到所述新待检测显示面板的缺陷检测结果的步骤包括：
8.如权利要求1至7中任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述从图片组中确定与第一图片
9.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：
10.一种缺陷检测设备，其特征在于，所述缺陷检测设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的缺陷检测程序，其中所述缺陷检测程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至8中任一项所述的缺陷检测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将第一图片与第二图片在特征维度进行差分，得到得分图的步骤包括：
3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于目标区域在第一图片中裁剪得到缺陷判别图的步骤包括：
4.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果的步骤包括：
5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测结果为缺陷类型，一张缺陷判别图及其对应的缺陷类型作为一组样本，在所述基于所述缺陷判别图得到所述待检测显示面板的缺陷检测结果的步骤之后，还包括：
6...
【专利技术属性】
技术研发人员：李丁珂，陈洪，李苗，徐康，张胜森，郭世泽，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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