国产电子器件替代验证项目确定方法及设备技术

本发明专利技术公开了一种国产电子器件替代验证项目确定方法，包括：步骤1，获取国产电子器件和国外电子器件的产品信息，以及使用国产电子器件和国外电子器件的电子产品的设计要求信息，并提取产品信息中的特性参数；步骤2，对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，并基于电子产品的设计要求信息确定最终待验证特性参数；步骤3，根据最终待验证特性参数确定最终替代验证项目信息；本发明专利技术可以无遗漏、有重点地确定应用验证项目，有助于同时减少替代验证的工作量和风险，并且应用对象更广。

Determination method and equipment of alternative verification items of domestic electronic devices

【技术实现步骤摘要】
国产电子器件替代验证项目确定方法及设备
本专利技术涉及电子器件领域，尤其涉及一种国产电子器件替代验证项目确定方法及设备。
技术介绍
电子器件是组成电子产品的最基本单元。由于我国电子行业起步较晚，国内的电子产品中的大部分电子器件(尤其是集成电路等核心电子器件)均采购自国外。随着国内电子技术的发展和我国电子产品自主可控需求的提升，越来越多的电子产品生产厂商开始使用国产器件来替代国外器件。现有国产电子器件主要对标国外同类型电子器件设计生产，在各项参数方面存在较大的相似性。同时出于节省设计成本的考虑，电子产品的设计者也愿意在尽量保证电路设计基本不变的前提下，将国外电子器件直接更换成国产电子器件。因此大部分电子器件的替代主要采用原位置、原功能的直接替代方式。由于国产电子器件与国外电子器件在设计、制造方面可能存在差异，这种直接替代方式可能会为电子产品引入风险，导致电子产品功能的丧失或者指标的退化。因此需要针对国产电子器件进行替代验证，确定国产电子器件与国外电子器件的差异，对于存在差异的方面采取有目的的改进设计，同时降低设计成本和替代风险。国内的很多单位和企业早就开展了替代验证工作。由于缺少系统性的替代验证项目确定方法，单位和企业开展的替代验证项目可能会存在遗漏，或者会面临替代项目过多并且在有限的时间和经费下无法取舍的问题，给电子产品的研制生产带来风险。在国内航天领域，虽然不存在国外器件的替代验证工作，但所有新研制的国内器件在使用前都需要经过充分的应用验证，确定新研国内器件的各种边界以及与型号任务匹配程度，在充分验证的基础上才允许装机使用。但是现有技术仍存在以下问题：首先，现有技术大部分都集中在航天领域新电子器件初次使用的应用验证，关注的是新电子器件与电子产品设计要求的匹配性，而国外电子器件替代验证同时考虑国产电子器件、国外电子器件和电子产品设计要求三方面的匹配情况，因此现有的航天应用验证技术无法用于替代验证项目的确定；其次，现有替代验证研究技术方案主要针对处理器和微波器件等小类器件开展，提出试验项目只适用于特定器件，没有通用性的验证项目确定方法。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种国产电子器件替代验证项目确定方法及设备，用以解决现有技术中航天应用验证技术无法用于替代验证项目的确定并且只适用于特定器件的问题。本专利技术实施例提供一种国产电子器件替代验证项目确定方法，包括：步骤1，获取国产电子器件和国外电子器件的产品信息，以及使用国产电子器件和国外电子器件的电子产品的设计要求信息，并提取产品信息中的特性参数；步骤2，对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，并基于所述电子产品的设计要求信息确定最终待验证特性参数；步骤3，根据最终待验证特性参数确定最终替代验证项目信息。优选地，对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，并基于所述电子产品的设计要求信息确定最终待验证特性参数，包括：对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，筛选得到初步待验证特性参数；从初步待验证参数中筛选出第一部分待验证特性参数以及第二部分待验证特性参数；将第一部分待验证特性参数与第二部分待验证特性参数合并，得到最终待验证特性参数。优选地，从初步待验证参数中筛选出第一部分待验证特性参数以及第二部分待验证特性参数，包括：根据电子产品的设计要求信息，从初步待验证特性参数中筛选出设计要求非直接相关的初步待验证特性参数和设计要求直接相关的初步待验证特性参数，并从设计要求直接相关的初步待验证特性参数中筛选出第一部分待验证特性参数；通过对设计要求非直接相关的初步待验证特性参数进行必要性评估，从中确定第二部分待验证特性参数。优选地，通过对设计要求非直接相关的初步待验证特性参数进行必要性评估，从中确定第二部分待验证特性参数，包括：根据电子产品功能设计、接口设计、电路设计、结构设计、软件设计、电磁设计和/或可靠性设计，计算设计要求非直接相关的初步待验证特性参数进行平均分，当平均分超过设定的阈值时，则判定该设计要求非直接相关的初步待验证特性参数为第二部分待验证特性参数。优选地，根据最终待验证特性参数确定最终替代验证项目信息，包括：根据最终待验证特性参数确定初定替代验证项目信息，对初定替代验证项目进行去耦分析，将相关度较高或有覆盖的验证项目进行合并，得到最终替代验证项目信息。优选地，根据最终待验证特性参数确定初定替代验证项目信息，包括：将根据电子器件测试方法标准确认的完整待验证特性参数对应的测试项目作为验证项目；根据测试项目所需要的硬件和软件资源级别，确定初定替代验证项目的验证级别。优选地，验证级别，包括：器件级、板级和产品级。优选地，对初定替代验证项目进行去耦分析，包括：建立初定替代验证项目的相关矩阵，计算替代验证项目之间的相关性分数，对相关矩阵中超过阈值的相关替代验证项目合并；对合并处理后的所有替代验证项目重新做相关矩阵分析，直至矩阵中所有相关性分数均少于阈值为止。本专利技术实施例还提供一种基于国产电子器件替代验证项目确定设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现国产电子器件替代验证项目确定步骤。本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有信息传递的实现程序，程序被处理器执行时实现国产电子器件替代验证项目确定步骤。采用本专利技术实施例，本专利技术可以无遗漏、有重点地确定应用验证项目，有助于同时减少替代验证的工作量和风险；同时，本专利技术的应用对象更广，可为多种国产电子器件在多种电子产品平台下替代验证项目的确定提供指导。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1是本专利技术实施例提供的国产电子器件替代验证项目确定方法流程图；图2是本专利技术实施例提供的国产电子器件替代验证项目确定方法具体流程图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。本专利技术实施例提供一种国产电子器件替代验证项目确定方法，方法流程图如图1所示，包括：步骤1，获取国产电子器件和国外电子器件的产品信息，以及使用国产电子器件和国外电子器件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种国产电子器件替代验证项目确定方法，其特征在于，包括：/n步骤1，获取国产电子器件和国外电子器件的产品信息，以及使用所述国产电子器件和所述国外电子器件的电子产品的设计要求信息，并提取所述产品信息中的特性参数；/n步骤2，对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，并基于所述电子产品的设计要求信息确定最终待验证特性参数；/n步骤3，根据所述最终待验证特性参数确定最终替代验证项目信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种国产电子器件替代验证项目确定方法，其特征在于，包括：
步骤1，获取国产电子器件和国外电子器件的产品信息，以及使用所述国产电子器件和所述国外电子器件的电子产品的设计要求信息，并提取所述产品信息中的特性参数；
步骤2，对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，并基于所述电子产品的设计要求信息确定最终待验证特性参数；
步骤3，根据所述最终待验证特性参数确定最终替代验证项目信息。


2.如权利要求1所述的国产电子器件替代验证项目确定方法，其特征在于，所述对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，并基于所述电子产品的设计要求信息确定最终待验证特性参数，包括：
对比从国产电子器件和国外电子器件的产品信息中提取的特性参数，筛选得到初步待验证特性参数；
从所述初步待验证参数中筛选出第一部分待验证特性参数以及第二部分待验证特性参数；
将所述第一部分待验证特性参数与所述第二部分待验证特性参数合并，得到最终待验证特性参数。


3.如权利要求2所述的国产电子器件替代验证项目确定方法，其特征在于，所述从所述初步待验证参数中筛选出第一部分待验证特性参数以及第二部分待验证特性参数，包括：
根据所述电子产品的设计要求信息，从初步待验证特性参数中筛选出设计要求非直接相关的初步待验证特性参数和设计要求直接相关的初步待验证特性参数，并从设计要求直接相关的初步待验证特性参数中筛选出第一部分待验证特性参数；
通过对设计要求非直接相关的初步待验证特性参数进行必要性评估，从中确定第二部分待验证特性参数。


4.如权利要求3所述的国产电子器件替代验证项目确定方法，其特征在于，所述通过对设计要求非直接相关的初步待验证特性参数进行必要性评估，从中确定第二部分待验证特性参数，包括：
根据电子产品功能设计、接口设计、电路设计、结构设计、软件设计、电磁设计和/或可靠性设计，计算设计要求非直接相关...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴淳，王杰，王晓钧，刘俊荣，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司电子科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11