一种面板缺陷分层检测装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于面板检测技术领域，公开了一种面板缺陷分层检测装置和方法，装置包括：第一成像单元、第二成像单元、光源；成像单元均包括相机组件、偏光元件；方法包括：打开光源，光源产生的光垂直入射至待测面板的侧面；将第一偏光元件、第二偏光元件的透光轴方向分别调节至与待测面板的内偏光层的透光轴方向平行；通过第一相机组件、第二相机组件分别获得第一图像、第二图像；根据第一图像、第二图像得到第一检测信息。本发明专利技术解决了现有技术中无法区分面板表面缺陷和面板内部缺陷的问题，本发明专利技术能够判断出缺陷位置，实现表层灰尘过滤。

A kind of device and method for detecting panel defect layer

【技术实现步骤摘要】
一种面板缺陷分层检测装置和方法
本专利技术涉及面板检测
，尤其涉及一种面板缺陷分层检测装置和方法。
技术介绍
在面板外观缺陷自动化检测领域，通常无法有效区分缺陷位于面板内部还是外部。比如，盖板玻璃(CG玻璃)需要贴合在上偏光片或面板之上，在CG玻璃与偏光片之间容易夹入了灰尘(particle)，当灰尘为微米级别时，造成CG玻璃与上偏光片之间形成贴合异物缺陷，这种贴合异物缺陷会导致次品产生。而外部有些缺陷(比如灰尘、脏污等)可以通过清洁去掉，并不影响品质。因此，有效进行缺陷分层有巨大的价值。鉴于现有技术无法将面板表面的缺陷和面板内部的缺陷区分开来，因此亟需找到一种装置和方法来对面板缺陷进行分层检测。
技术实现思路
本申请实施例通过提供一种面板缺陷分层检测装置和方法，解决了现有技术中无法区分面板表面缺陷和面板内部缺陷的问题。本申请实施例提供一种面板缺陷分层检测装置，待测面板具有内偏光层、上表面层、下表面层，所述内偏光层位于所述上表面层和所述下表面层之间，检测装置包括：第一成像单元，所述第一成像单元设置于所述待测面板的所述上表面层的上方；所述第一成像单元包括第一相机组件、第一偏光元件，所述第一偏光元件位于所述第一相机组件与所述待测面板之间；所述第一偏光元件的透光轴方向可调；第二成像单元，所述第二成像单元设置于所述待测面板的所述下表面层的下方；所述第二成像单元包括第二相机组件、第二偏光元件，所述第二偏光元件位于所述第二相机组件与所述待测面板之间；所述第二偏光元件的透光轴方向可调；光源，所述光源设置于所述待测面板的侧面，所述光源产生的光垂直入射至所述待测面板的侧面。优选的，所述面板缺陷分层检测装置还包括：PC端；所述PC端分别与所述光源、所述第一相机组件、所述第二相机组件、所述第一偏光元件、所述第二偏光元件连通。优选的，所述第一偏振元件、所述第二偏振元件为线偏振片。优选的，所述第一偏振元件、所述第二偏振元件为圆偏振片。优选的，所述光源包括：第一光源、第二光源；所述第一光源、所述第二光源分别设置于所述待测面板的两侧。优选的，所述第一相机组件包括第一相机、第一测试镜头，所述第一测试镜头安装在所述第一相机上；所述第二相机组件包括第二相机、第二测试镜头，所述第二测试镜头安装在所述第二相机上。利用上述装置，本申请实施例提供一种面板缺陷分层检测方法，包括以下步骤：步骤1、打开所述光源，所述光源产生的光垂直入射至所述待测面板的侧面；步骤2、将所述第一偏光元件、所述第二偏光元件的透光轴方向分别调节至与所述内偏光层的透光轴方向平行；步骤3、通过所述第一相机组件获得第一图像，通过所述第二相机组件获得第二图像；步骤4、根据所述第一图像、所述第二图像得到第一检测信息。优选的，所述步骤3中，所述第一相机组件和所述第二相机组件同步进行图像采集。优选的，所述内偏光层与所述上表面层之间为第一内层，所述内偏光层与所述下表面层之间为第二内层，所述面板缺陷分层检测方法还包括以下步骤：步骤5、将所述第一偏光元件、所述第二偏光元件的透光轴方向分别调节至与所述内偏光层的透光轴方向垂直；步骤6、通过所述第一相机组件获得第三图像，通过所述第二相机组件获得第四图像；步骤7、根据所述第一图像、所述第二图像、所述第三图像、所述第四图像得到第二检测信息。优选的，所述步骤6中，所述第一相机组件和所述第二相机组件同步进行图像采集。本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：在本申请实施例中，提供的装置用于对面板的缺陷进行检测，待测面板具有内偏光层、上表面层、下表面层，内偏光层位于上表面层和下表面层之间，检测装置包括第一成像单元、第二成像单元、光源；第一成像单元设置于待测面板的上表面层的上方，第一成像单元包括第一相机组件、第一偏光元件，第一偏光元件位于第一相机组件与待测面板之间；第二成像单元设置于待测面板的下表面层的下方，第二成像单元包括第二相机组件、第二偏光元件，第二偏光元件位于第二相机组件与待测面板之间；第一偏光元件和第二偏光元件的透光轴方向均可调；光源设置于待测面板的侧面，光源产生的光垂直入射至待测面板的侧面。进行检测时，打开光源，将第一偏光元件、第二偏光元件的透光轴方向分别调节至与内偏光层的透光轴方向平行，然后通过第一相机组件获得第一图像，通过第二相机组件获得第二图像，由于第一图像包含位于待测面板的内部和下表面层的缺陷信息，第二图像包含位于待测面板的内部和上表面层的缺陷信息，因此根据第一图像、第二图像便可得到第一检测信息，判断出缺陷位于面板的表面还是位于面板的内部，实现表层灰尘过滤。附图说明为了更清楚地说明本实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术对面板进行缺陷检测的示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种面板缺陷分层检测装置的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种面板缺陷分层检测方法的原理示意图。具体实施方式现有技术对面板进行缺陷检测的示意图如图1所示，采用的装置主要包括光源03和相机04，通常是通过亮场(α＝β)或暗场(α≠β)对面板进行缺陷检测，在该检测方式下，面板表面01的缺陷和面板内部02的缺陷是无法分开的。为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。参看图2、图3，待测面板1具有内偏光层、上表面层、下表面层，所述内偏光层位于所述上表面层和所述下表面层之间；所述内偏光层与所述上表面层之间为第一内层，所述内偏光层与所述下表面层之间为第二内层。即所述待测面板1的内部根据偏光膜(PF)的位置可分为两层：第一内层(记为B层)和第二内层(记为C层)；所述待测面板1的表面包括：上表面层(记为A层)和下表面层(记为D层)。待测缺陷(比如颗粒particle：p_A，p_B，p_C，p_D)可能位于上述四层中的任意一层，因此需要进行区分。本实施例提供了一种面板缺陷分层检测装置，参看图2，主要包括：第一成像单元、第二成像单元、光源。其中，所述第一成像单元设置于所述待测面板1的所述上表面层的上方；所述第一成像单元包括第一相机组件、第一偏光元件14，所述第一偏光元件14位于所述第一相机组件与所述待测面板1之间；所述第一偏光元件14的透光轴方向可调。所述第一成像单元用于正面成像。所述第二成像单元设置于所述待测面板1的所述下表面层的下方；所述第二成像单元包括第二相机组件、第二偏光元件24，所述第二偏光元件24位于所述第二相机组件与所述待测面板1之间；所述第二偏光元件24的透光轴方向可调。所述第二成像单元用于背面成像。所述光源设置于所述待测面板1的侧面，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面板缺陷分层检测装置，其特征在于，待测面板具有内偏光层、上表面层、下表面层，所述内偏光层位于所述上表面层和所述下表面层之间，检测装置包括：/n第一成像单元，所述第一成像单元设置于所述待测面板的所述上表面层的上方；所述第一成像单元包括第一相机组件、第一偏光元件，所述第一偏光元件位于所述第一相机组件与所述待测面板之间；所述第一偏光元件的透光轴方向可调；/n第二成像单元，所述第二成像单元设置于所述待测面板的所述下表面层的下方；所述第二成像单元包括第二相机组件、第二偏光元件，所述第二偏光元件位于所述第二相机组件与所述待测面板之间；所述第二偏光元件的透光轴方向可调；/n光源，所述光源设置于所述待测面板的侧面，所述光源产生的光垂直入射至所述待测面板的侧面。/n

【技术特征摘要】
1.一种面板缺陷分层检测装置，其特征在于，待测面板具有内偏光层、上表面层、下表面层，所述内偏光层位于所述上表面层和所述下表面层之间，检测装置包括：
第一成像单元，所述第一成像单元设置于所述待测面板的所述上表面层的上方；所述第一成像单元包括第一相机组件、第一偏光元件，所述第一偏光元件位于所述第一相机组件与所述待测面板之间；所述第一偏光元件的透光轴方向可调；
第二成像单元，所述第二成像单元设置于所述待测面板的所述下表面层的下方；所述第二成像单元包括第二相机组件、第二偏光元件，所述第二偏光元件位于所述第二相机组件与所述待测面板之间；所述第二偏光元件的透光轴方向可调；
光源，所述光源设置于所述待测面板的侧面，所述光源产生的光垂直入射至所述待测面板的侧面。


2.根据权利要求1所述的面板缺陷分层检测装置，其特征在于，还包括：PC端；所述PC端分别与所述光源、所述第一相机组件、所述第二相机组件、所述第一偏光元件、所述第二偏光元件连通。


3.根据权利要求1所述的面板缺陷分层检测装置，其特征在于，所述第一偏振元件、所述第二偏振元件为线偏振片。


4.根据权利要求1所述的面板缺陷分层检测装置，其特征在于，所述第一偏振元件、所述第二偏振元件为圆偏振片。


5.根据权利要求1所述的面板缺陷分层检测装置，其特征在于，所述光源包括：第一光源、第二光源；所述第一光源、所述第二光源分别设置于所述待测面板的两侧。


6.根据权利要求1所述的面板缺陷分层检测装置，其特征在于，所述第一相机组件包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：张玉，洪志坤，欧昌东，郑增强，张胜森，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42