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本发明属于面板检测技术领域，公开了一种面板缺陷分层检测装置和方法，装置包括：第一成像单元、第二成像单元、光源；成像单元均包括相机组件、偏光元件；方法包括：打开光源，光源产生的光垂直入射至待测面板的侧面；将第一偏光元件、第二偏光元件的透光轴方...该专利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。