空间光束绝对位置测量装置及校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术为空间光束绝对位置测量装置及校准方法，涉及空间光学精密测量领域，解决了精密测量平台装调过程中无法对光束在特定全局坐标系下的绝对位置进行直接测量的问题。技术特征包括光束绝对位置测量机构；所述光束绝对位置测量机构包括基板、透镜组、半反半透镜组件以及两组反射镜组件、第一四象限探测器以及第二四象限探测器；所述透镜组、半反半透镜组件以及反射镜组件分别固定在基板上，所述透镜组放置在基板的最前端，所述半反半透镜固定在透镜组后，所述第一四象限探测器放置在半反半透镜组件上方，两组所述反射镜设置在半反半透镜组件的后方，所述第二四象限探测器放置在反射镜组件后侧一端。

Absolute position measuring device and calibration method of space beam

【技术实现步骤摘要】
空间光束绝对位置测量装置及校准方法
本专利技术涉及空间光学精密测量
，特别涉及空间光束绝对位置测量装置及校准方法。
技术介绍
在空间光学精密测量领域，光束在系统内的位置精度直接影响着系统的测量精度。例如，空间引力波测量及重力场测量过程中，光束指向精度影响着远端航天器对于光束的捕获难易程度，并且可能会导致由超差引起的校准参数失准等问题。在空间光学精密测量平台的搭建过程中，精密的测量设备是保证精确装配的必要条件。为了降低系统频率噪声以及提高信噪比，需要一种高精度高稳定性的光束(绝对)位置测量系统。随着当前精密测量技术的不断发展，对于系统精度的要求也不断提高，光束测量装置也应向着高精度、高稳定度、参数绝对化的方向发展。三坐标测量机被广泛应用在装配过程中的精密测量领域，可无法实现对光束位置的直接测量。自准直仪等传统光束测量设备也只能测量出光束间角度的相对位置偏差。而空间光学精密测量平台通常由多束复杂的干涉光路组成，发生干涉的两束光之间的角度和位置偏差将会导致干涉信号的对比度下降以及引起频率耦合噪声。因此，为了提高测量平台的装配精度及生产效本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，包括光束绝对位置测量机构；/n所述光束绝对位置测量机构包括基板(5)、透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及两组反射镜组件(1)、第一四象限探测器(3)以及第二四象限探测器(6)；/n所述透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及反射镜组件(1)分别固定在基板(5)上，所述透镜组(2)放置在基板(5)的最前端，所述半反半透镜固定在透镜组(2)后，所述第一四象限探测器(3)放置在半反半透镜组件(4)上方，两组所述反射镜设置在半反半透镜组件(4)的后方，所述第二四象限探测器(6)放置在反射镜组件(1)后侧一端。/n

【技术特征摘要】
1.空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，包括光束绝对位置测量机构；
所述光束绝对位置测量机构包括基板(5)、透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及两组反射镜组件(1)、第一四象限探测器(3)以及第二四象限探测器(6)；
所述透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及反射镜组件(1)分别固定在基板(5)上，所述透镜组(2)放置在基板(5)的最前端，所述半反半透镜固定在透镜组(2)后，所述第一四象限探测器(3)放置在半反半透镜组件(4)上方，两组所述反射镜设置在半反半透镜组件(4)的后方，所述第二四象限探测器(6)放置在反射镜组件(1)后侧一端。


2.根据权利要求1所述的空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，所述反射镜组件(1)包括支撑座(1-1)，反射镜(1-3)以及压圈(1-2)；
所述支撑座(1-1)的底部与基板(5)螺旋连接，反射镜(1-3)放置在支撑座(1-1)内，所述压圈(1-2)设置在支撑座(1-1)的内部进行限位。


3.根据权利要求1所述的空间光...

【专利技术属性】
技术研发人员：沙巍，李钰鹏，王智，方超，赵亚，王少鑫，齐克奇，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22